講演名 2015-12-03
ロバストな診断支援システムを実現するボトムアップ特徴量構築アーキテクチャ
杉 幸樹(広島大), 小出 哲士(広島大), 清水 達也(広島大), 岡本 拓巳(広島大), Anh-Tuan Hoang(広島大), 佐藤 光(広島大), 玉木 徹(広島大), Bisser Raytchev(広島大), 金田 和文(広島大), 吉田 成人(広島鉄道病院), 三重野 寛(広島鉄道病院), 田中 信治(広島大),
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抄録(和) 本稿ではFull HD(1920×1080 pixel)の大腸NBI(Narrow Band Imaging)拡大内視鏡画像診断支援システムeCADの特徴量変換について述べる.NBI拡大内視鏡画像から得られたD-SIFT特徴量をVisual Word(VW)ヒストグラムに変換する.Full HD全画面識別結果を医師にわかりやすく提示するためには,複数のScan Window(SW)サイズの識別結果を階層的に組合せて算出する方法を開発する必要がある.これには特徴量変換処理を従来手法のようにSW毎に計算していては,リアルタイムの診断支援は難しい.そこで,本研究では複数のSWサイズのVWヒストグラム変換処理をUnit Window(UW)の結果を組合せることによって構築を行うことで,高速かつロバストなVWヒストグラム構築を実現するハードウェア手法を提案する.
抄録(英) This paper describes a feature transformation processing in our eCAD system for colorectal endoscopic Full HD images with Narrow Band Imaging (NBI) magnification. It transforms the extracted D-SIFT features from colorectal endoscopic images to Visual Word (VW) histogram. In order to clearly show an identified result of Full HD to doctors, it is necessary to develop a computation method which hierarchical combination of multi Scan Window (SW) sizes. Implementation of a real-time Computer-Aided Diagnosis (CAD) system is difficult if the conventional feature transformation method, which separately computes each SW sizes is used. We propose a high speed and robust VW histogram transformation method by combination of Unit Window (UW).
キーワード(和) Full HD画像認識 / コンピュータ診断支援(CAD) / D-SIFT特徴量 / Visual Word / 階層的識別 / FPGA
キーワード(英) Full HD Image Recognition / Computer-Aided Diagnosis (CAD) / D-SIFT Feature / Visual Word / Hierarchical Recognition / FPGA
資料番号 RECONF2015-56
発行日 2015-11-24 (RECONF)

研究会情報
研究会 VLD / DC / IPSJ-SLDM / CPSY / RECONF / ICD / CPM
開催期間 2015/12/1(から3日開催)
開催地(和) 長崎県勤労福祉会館
開催地(英) Nagasaki Kinro Fukushi Kaikan
テーマ(和) デザインガイア2015 -VLSI設計の新しい大地-
テーマ(英) Design Gaia 2015 -New Field of VLSI Design-
委員長氏名(和) 松永 裕介(九大) / 金川 信康(日立) / 福井 正博(立命館大) / 中島 康彦(奈良先端大) / 渡邊 実(静岡大) / 藤島 実(広島大) / 野毛 悟(沼津高専)
委員長氏名(英) Yusuke Matsunaga(Kyushu Univ.) / Nobuyasu Kanekawa(Hitachi) / Masahiro Fukui(Ritsumeikan Univ.) / Yasuhiko Nakashima(NAIST) / Minoru Watanabe(Shizuoka Univ.) / Minoru Fujishima(Hiroshima Univ.) / Satoru Noge(Numazu National College of Tech.)
副委員長氏名(和) 竹中 崇(NEC) / 井上 美智子(奈良先端大) / / 中野 浩嗣(広島大) / 入江 英嗣(東大) / 本村 真人(北大) / 柴田 裕一郎(長崎大) / 日高 秀人(ルネサス エレクトロニクス) / 廣瀬 文彦(山形大)
副委員長氏名(英) Takashi Takenana(NEC) / Michiko Inoue(NAIST) / / Koji Nakano(Hiroshima Univ.) / Hidetsugu Irie(Univ. of Tokyo) / Masato Motomura(Hokkaido Univ.) / Yuichiro Shibata(Nagasaki Univ.) / Hideto Hidaka(Renesas) / Fumihiko Hirose(Yamagata Univ.)
幹事氏名(和) 冨山 宏之(立命館大) / 福田 大輔(富士通研) / 岩田 浩司(鉄道総研) / 吉村 正義(京都産大) / 横山 昌生(シャープ) / 高島 康裕(北九州市大) / 西出 岳央(東芝) / 三吉 貴史(富士通研) / 鯉渕 道紘(NII) / 山田 裕(東芝) / 山口 佳樹(筑波大) / 吉田 毅(広島大) / 小舘 淳一(NTT) / 岩田 展幸(日大)
幹事氏名(英) Hiroyuki Tomiyama(Ritsumeikan Univ.) / Daisuke Fukuda(Fujitsu Labs.) / Koji Iwata(RTRI) / Masayoshi Yoshimura(Kyoto Sangyo Univ.) / Masao Yokoyama(Sharp) / Yasuhiro Takashima(Kitakyushu City Univ.) / Takeo Nishide(Toshiba) / Takashi Miyoshi(Fujitsu Labs.) / Michihiro Koibuchi(NII) / Yutaka Yamada(Toshiba) / Yoshiki Yamaguchi(Univ. of Tsukuba) / Takeshi Yoshida(Hiroshima Univ.) / Junichi Kodate(NTT) / Nobuyuki Iwata(Nihon Univ.)
幹事補佐氏名(和) 谷口 一徹(立命館大) / / / 高前田 伸也(奈良先端大) / 大川 猛(宇都宮大) / 谷川 一哉(広島市大) / 三好 健文(イーツリーズ・ジャパン) / 高宮 真(東大) / 岩崎 裕江(NTT) / 橋本 隆(パナソニック) / 伊藤 浩之(東工大) / 範 公可(電通大) / 坂本 尊(NTT) / 中村 雄一(豊橋技科大)
幹事補佐氏名(英) Ittetsu Taniguchi(Ritsumeikan Univ.) / / / Shinya Takameda(NAIST) / Takeshi Ohkawa(Utsunomiya Univ.) / Kazuya Tanikagawa(Hiroshima City Univ.) / Takefumi Miyoshi(e-trees.Japan) / Makoto Takamiya(Univ. of Tokyo) / Hiroe Iwasaki(NTT) / Takashi Hashimoto(Panasonic) / Hiroyuki Ito(Tokyo Inst. of Tech.) / Pham Konkuha(Univ. of Electro-Comm.) / Takashi Sakamoto(NTT) / Yuichi Nakamura(Toyohashi Univ. of Tech.)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Technical Committee on VLSI Design Technologies / Technical Committee on Dependable Computing / Special Interest Group on System and LSI Design Methodology / Technical Committee on Computer Systems / Technical Committee on Reconfigurable Systems / Technical Committee on Integrated Circuits and Devices / Technical Committee on Component Parts and Materials
本文の言語 JPN
タイトル(和) ロバストな診断支援システムを実現するボトムアップ特徴量構築アーキテクチャ
サブタイトル(和)
タイトル(英) Architecture of Bottom-up Feature Construction for Robust Computer-Aided Diagnosis System
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) Full HD画像認識 / Full HD Image Recognition
キーワード(2)(和/英) コンピュータ診断支援(CAD) / Computer-Aided Diagnosis (CAD)
キーワード(3)(和/英) D-SIFT特徴量 / D-SIFT Feature
キーワード(4)(和/英) Visual Word / Visual Word
キーワード(5)(和/英) 階層的識別 / Hierarchical Recognition
キーワード(6)(和/英) FPGA / FPGA
第 1 著者 氏名(和/英) 杉 幸樹 / Koki Sugi
第 1 著者 所属(和/英) 広島大学(略称:広島大)
Hiroshima University(略称:Hiroshima Univ.)
第 2 著者 氏名(和/英) 小出 哲士 / Tetsushi Koide
第 2 著者 所属(和/英) 広島大学(略称:広島大)
Hiroshima University(略称:Hiroshima Univ.)
第 3 著者 氏名(和/英) 清水 達也 / Tatsuya Shimizu
第 3 著者 所属(和/英) 広島大学(略称:広島大)
Hiroshima University(略称:Hiroshima Univ.)
第 4 著者 氏名(和/英) 岡本 拓巳 / Takumi Okamoto
第 4 著者 所属(和/英) 広島大学(略称:広島大)
Hiroshima University(略称:Hiroshima Univ.)
第 5 著者 氏名(和/英) Anh-Tuan Hoang / Anh-Tuan Hoang
第 5 著者 所属(和/英) 広島大学(略称:広島大)
Hiroshima University(略称:Hiroshima Univ.)
第 6 著者 氏名(和/英) 佐藤 光 / Hikaru Sato
第 6 著者 所属(和/英) 広島大学(略称:広島大)
Hiroshima University(略称:Hiroshima Univ.)
第 7 著者 氏名(和/英) 玉木 徹 / Toru Tamaki
第 7 著者 所属(和/英) 広島大学(略称:広島大)
Hiroshima University(略称:Hiroshima Univ.)
第 8 著者 氏名(和/英) Bisser Raytchev / Bisser Raytchev
第 8 著者 所属(和/英) 広島大学(略称:広島大)
Hiroshima University(略称:Hiroshima Univ.)
第 9 著者 氏名(和/英) 金田 和文 / Kazufumi Kaneda
第 9 著者 所属(和/英) 広島大学(略称:広島大)
Hiroshima University(略称:Hiroshima Univ.)
第 10 著者 氏名(和/英) 吉田 成人 / Shigeto Toshida
第 10 著者 所属(和/英) JR西日本広島鉄道病院 消化器内科(略称:広島鉄道病院)
Hiroshima General Hospital of West Japan Railway Company(略称:Hiroshima General Hospital)
第 11 著者 氏名(和/英) 三重野 寛 / Hiroshi Mieno
第 11 著者 所属(和/英) JR西日本広島鉄道病院 消化器内科(略称:広島鉄道病院)
Hiroshima General Hospital of West Japan Railway Company(略称:Hiroshima General Hospital)
第 12 著者 氏名(和/英) 田中 信治 / Shinji Tanaka
第 12 著者 所属(和/英) 広島大学病院(略称:広島大)
Hiroshima University(略称:Hiroshima Univ.)
発表年月日 2015-12-03
資料番号 RECONF2015-56
巻番号(vol) vol.115
号番号(no) RECONF-343
ページ範囲 pp.45-50(RECONF),
ページ数 6
発行日 2015-11-24 (RECONF)