| 講演名 | 2015-12-01 隣接線の信号遷移による遅延変動を用いる半断線故障の判別法について 伊勢 幸太郎(徳島大), 四柳 浩之(徳島大), 橋爪 正樹(徳島大), 樋上 喜信(愛媛大), 高橋 寛(愛媛大), |
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| 抄録(和) | IC 内で発生する半断線故障は抵抗成分を持ち,故障の影響は微小遅延として顕在化する.また,トランジスタのばらつきの影響による遅延変動も存在するため,故障の判別は困難になる.隣接配線を持つ配線の信号遅延は,隣接線での信号遷移の影響を受け,また,その遅延変動は故障の有無によっても異なる.本研究では,複数の入力信号に対する遅延の分布を用いて故障判別を行う手法を検討する.電磁界および回路シミュレータを用いて隣接線を持つ配線レイアウトを作製し,隣接線の信号遷移パターンを変化させた際の正常回路と故障回路におけるそれぞれの遅延量を測定する.その遅延量を特徴量とする異常検知による製造ばらつきの影響下での半断線故障の判別法の有効性について調査を行う. |
| 抄録(英) | The effect of a resistive open results in small delay in an IC. It is difficult to test small delay since signal delay also varies by parameter variations such as transistor size. Signal delay of a line with adjacent lines is affected by the signal transition of the adjacent lines. Moreover, the delay variation also depends on the existence of a fault. In this study, a discrimination method is proposed that utilizes delay distributions obtained by the various input signals. We examined the circuit delay in a fault-free circuit and a faulty circuit by applying electromagnetic simulator and circuit simulatior for a line layout with adjacent lines. We investigate the effectiveness of the method that discriminates a resistive open using anomaly detection from delays obtained by the simulation. |
| キーワード(和) | 半断線故障 / 隣接線 / 信号遷移 |
| キーワード(英) | resistive open fault / adjacent line / signal transition |
| 資料番号 | VLD2015-42,DC2015-38 |
| 発行日 | 2015-11-24 (VLD, DC) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD / DC / IPSJ-SLDM / CPSY / RECONF / ICD / CPM |
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| 開催期間 | 2015/12/1(から3日開催) |
| 開催地（和） | 長崎県勤労福祉会館 |
| 開催地（英） | Nagasaki Kinro Fukushi Kaikan |
| テーマ（和） | デザインガイア2015 -VLSI設計の新しい大地- |
| テーマ（英） | Design Gaia 2015 -New Field of VLSI Design- |
| 委員長氏名（和） | 松永 裕介(九大) / 金川 信康(日立) / 福井 正博(立命館大) / 中島 康彦(奈良先端大) / 渡邊 実(静岡大) / 藤島 実(広島大) / 野毛 悟(沼津高専) |
| 委員長氏名（英） | Yusuke Matsunaga(Kyushu Univ.) / Nobuyasu Kanekawa(Hitachi) / Masahiro Fukui(Ritsumeikan Univ.) / Yasuhiko Nakashima(NAIST) / Minoru Watanabe(Shizuoka Univ.) / Minoru Fujishima(Hiroshima Univ.) / Satoru Noge(Numazu National College of Tech.) |
| 副委員長氏名（和） | 竹中 崇(NEC) / 井上 美智子(奈良先端大) / / 中野 浩嗣(広島大) / 入江 英嗣(東大) / 本村 真人(北大) / 柴田 裕一郎(長崎大) / 日高 秀人(ルネサス エレクトロニクス) / 廣瀬 文彦(山形大) |
| 副委員長氏名（英） | Takashi Takenana(NEC) / Michiko Inoue(NAIST) / / Koji Nakano(Hiroshima Univ.) / Hidetsugu Irie(Univ. of Tokyo) / Masato Motomura(Hokkaido Univ.) / Yuichiro Shibata(Nagasaki Univ.) / Hideto Hidaka(Renesas) / Fumihiko Hirose(Yamagata Univ.) |
| 幹事氏名（和） | 冨山 宏之(立命館大) / 福田 大輔(富士通研) / 岩田 浩司(鉄道総研) / 吉村 正義(京都産大) / 横山 昌生(シャープ) / 高島 康裕(北九州市大) / 西出 岳央(東芝) / 三吉 貴史(富士通研) / 鯉渕 道紘(NII) / 山田 裕(東芝) / 山口 佳樹(筑波大) / 吉田 毅(広島大) / 小舘 淳一(NTT) / 岩田 展幸(日大) |
| 幹事氏名（英） | Hiroyuki Tomiyama(Ritsumeikan Univ.) / Daisuke Fukuda(Fujitsu Labs.) / Koji Iwata(RTRI) / Masayoshi Yoshimura(Kyoto Sangyo Univ.) / Masao Yokoyama(Sharp) / Yasuhiro Takashima(Kitakyushu City Univ.) / Takeo Nishide(Toshiba) / Takashi Miyoshi(Fujitsu Labs.) / Michihiro Koibuchi(NII) / Yutaka Yamada(Toshiba) / Yoshiki Yamaguchi(Univ. of Tsukuba) / Takeshi Yoshida(Hiroshima Univ.) / Junichi Kodate(NTT) / Nobuyuki Iwata(Nihon Univ.) |
| 幹事補佐氏名（和） | 谷口 一徹(立命館大) / / / 高前田 伸也(奈良先端大) / 大川 猛(宇都宮大) / 谷川 一哉(広島市大) / 三好 健文(イーツリーズ・ジャパン) / 高宮 真(東大) / 岩崎 裕江(NTT) / 橋本 隆(パナソニック) / 伊藤 浩之(東工大) / 範 公可(電通大) / 坂本 尊(NTT) / 中村 雄一(豊橋技科大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Ittetsu Taniguchi(Ritsumeikan Univ.) / / / Shinya Takameda(NAIST) / Takeshi Ohkawa(Utsunomiya Univ.) / Kazuya Tanikagawa(Hiroshima City Univ.) / Takefumi Miyoshi(e-trees.Japan) / Makoto Takamiya(Univ. of Tokyo) / Hiroe Iwasaki(NTT) / Takashi Hashimoto(Panasonic) / Hiroyuki Ito(Tokyo Inst. of Tech.) / Pham Konkuha(Univ. of Electro-Comm.) / Takashi Sakamoto(NTT) / Yuichi Nakamura(Toyohashi Univ. of Tech.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on VLSI Design Technologies / Technical Committee on Dependable Computing / Special Interest Group on System and LSI Design Methodology / Technical Committee on Computer Systems / Technical Committee on Reconfigurable Systems / Technical Committee on Integrated Circuits and Devices / Technical Committee on Component Parts and Materials |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 隣接線の信号遷移による遅延変動を用いる半断線故障の判別法について |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | On discrimination method of a resistive open using delay variation induced by signal transitions on adjacent lines |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 半断線故障 / resistive open fault |
| キーワード(2)（和/英） | 隣接線 / adjacent line |
| キーワード(3)（和/英） | 信号遷移 / signal transition |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 伊勢 幸太郎 / Kotaro Ise |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 徳島大学(略称：徳島大) Tokushima University(略称：Tokushima Univ.) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 四柳 浩之 / Hiroyuki Yotsuyanagi |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 徳島大学(略称：徳島大) Tokushima University(略称：Tokushima Univ.) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 橋爪 正樹 / Masaki Hashizume |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 徳島大学(略称：徳島大) Tokushima University(略称：Tokushima Univ.) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 樋上 喜信 / Yoshinobu Higami |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 愛媛大学(略称：愛媛大) Ehime University(略称：Ehime Univ.) |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 高橋 寛 / Hiroshi Takahashi |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 愛媛大学(略称：愛媛大) Ehime University(略称：Ehime Univ.) |
| 発表年月日 | 2015-12-01 |
| 資料番号 | VLD2015-42,DC2015-38 |
| 巻番号（vol） | vol.115 |
| 号番号（no） | VLD-338,DC-339 |
| ページ範囲 | pp.31-36(VLD), pp.31-36(DC), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2015-11-24 (VLD, DC) |