| 講演名 | 2015-11-26 データ接続状態監視に基づく上り品質劣化検知 泉川 晴紀(KDDI研), 廣田 祐生(KDDI研), 花野 博司(KDDI研), 小野 智弘(KDDI研), |
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| 抄録(和) | |
| 抄録(英) | |
| キーワード(和) | |
| キーワード(英) | |
| 資料番号 | CQ2015-76 |
| 発行日 | 2015-11-19 (CQ) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | CQ / ICM / NS |
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| 開催期間 | 2015/11/26(から2日開催) |
| 開催地（和） | 新潟大学 |
| 開催地（英） | Niigata University |
| テーマ（和） | ネットワーク品質，ネットワーク計測・管理，ネットワーク仮想化，ネットワークサービス，および一般 |
| テーマ（英） | Network Quality, Network Measurement and Management, Network Virtualization, Network Service, General |
| 委員長氏名（和） | 矢守 恭子(朝日大) / 阿多 信吾(阪市大) / 平松 淳(NTT-AT) |
| 委員長氏名（英） | Kyoko Yamori(Asahi Univ.) / Shingo Ata(Osaka City Univ.) / Atsushi Hiramatsu(NTT-AT) |
| 副委員長氏名（和） | 林 孝典(NTT) / 下西 英之(NEC) / 吉原 貴仁(KDDI研) / 中川 学(NTTコミュニケーションズ) / 戸出 英樹(阪府大) |
| 副委員長氏名（英） | Takanori Hayashi(NTT) / Hideyuki Shimonishi(NEC) / Kiyohito Yoshihara(KDDI R&D Labs.) / Manabu Nakagawa(NTT Communications) / Hideki Tode(Osaka Pref. Univ.) |
| 幹事氏名（和） | 山崎 康広(NEC) / 松田 崇弘(阪大) / 湯本 一磨(日立) / 高橋 英士(NEC) / 橘 拓至(福井大) / 前田 英樹(NTT) |
| 幹事氏名（英） | Yasuhiro Yamasaki(NEC) / Takahiro Matsuzaki(Osaka Univ.) / Kazuma Yumoto(Hitachi) / Eiji Takahashi(NEC) / Takuji Tachibana(Univ. of Fukui) / Hideki Maeda(NTT) |
| 幹事補佐氏名（和） | 山本 雅大(OKI) / 古 博(早大) / アベセカラ ヒランタ(NTT) / 村田 政雄(富士通) / 鎌村 星平(NTT) |
| 幹事補佐氏名（英） | Masahiro Yamamoto(OKI) / Bo GU(Waseda Univ.) / Hirantha Abeysekera(NTT) / Masao Murata(Fujitsu) / Shohei Kamamura(NTT) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Communication Quality / Technical Committee on Information and Communication Management / Technical Committee on Network Systems |
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| 本文の言語 | ENG-JTITLE |
| タイトル（和） | データ接続状態監視に基づく上り品質劣化検知 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Uplink Poor Performance Detection for LTE System Based on State Monitoring in Data Connection |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 泉川 晴紀 / Haruki Izumikawa |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 株式会社KDDI研究所(略称：KDDI研) KDDI R&D Laboratories(略称：KDDI Labs) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 廣田 祐生 / Yuki Hirota |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 株式会社KDDI研究所(略称：KDDI研) KDDI R&D Laboratories(略称：KDDI Labs) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 花野 博司 / Hiroshi Hanano |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 株式会社KDDI研究所(略称：KDDI研) KDDI R&D Laboratories(略称：KDDI Labs) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 小野 智弘 / Chihiro Ono |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 株式会社KDDI研究所(略称：KDDI研) KDDI R&D Laboratories(略称：KDDI Labs) |
| 発表年月日 | 2015-11-26 |
| 資料番号 | CQ2015-76 |
| 巻番号（vol） | vol.115 |
| 号番号（no） | CQ-327 |
| ページ範囲 | pp.7-11(CQ), |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2015-11-19 (CQ) |