| 講演名 | 2015-11-26 光音響・発光同時計測法を用いたGaNの内部量子効率の測定 中納 隆(金沢工大), 河上 航平(金沢工大), 山口 敦史(金沢工大), |
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| 抄録(和) | 窒化物半導体の内部量子効率は、発光 (PL)強度の温度依存性から、極低温における内部量子効率を100%と仮定して、求められることが多い。しかし、欠陥の多い窒化物半導体で、この仮定は必ずしも正しいとは限らない。本研究では、異なる品質のGaNについて、光音響・発光同時計測法によって、正しい内部量子効率を測定した。その結果、質の悪いGaN試料では、従来の方法で正しい内部量子効率が求められないことが明らかとなった。 |
| 抄録(英) | Internal quantum efficiency (IQE) is usually estimated from temperature dependence of photoluminescence (PL) intensity by assuming that the IQE at cryogenic temperature is unity. III-nitride samples, however, usually have large defect-density, and the assumption is not necessarily valid. In this study, we developed a new method to estimate accurate IQE values by simultaneous PL and photo-acoustic (PA) measurements, and demonstratively evaluated the IQE values for various GaN samples. The results show that the conventional method cannot give accurate IQE values for low-quality samples although it can be valid for high-quality samples, and that our method can always give accurate values. |
| キーワード(和) | GaN / 光音響 / 内部量子効率 / PL温度依存性 / 非輻射再結合 |
| キーワード(英) | GaN / Photo-acoustic / Internal quantum efficiency / temperature dependence of photoluminescence intensity / Non-radiative recombination |
| 資料番号 | ED2015-78,CPM2015-113,LQE2015-110 |
| 発行日 | 2015-11-19 (ED, CPM, LQE) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | ED / LQE / CPM |
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| 開催期間 | 2015/11/26(から2日開催) |
| 開催地（和） | 大阪市立大学・学術情報センター会議室 |
| 開催地（英） | Osaka City University Media Center |
| テーマ（和） | 窒化物半導体光・電子デバイス、材料、関連技術、及び一般 |
| テーマ（英） | Nitride Semiconductor Devices, Materials, Related Technologies |
| 委員長氏名（和） | 前澤 宏一(富山大) / 小路 元(住友電工) / 野毛 悟(沼津高専) |
| 委員長氏名（英） | Koichi Maezawa(Univ. of Toyama) / Hajime Shoji(Sumitomo Electric Industries) / Satoru Noge(Numazu National College of Tech.) |
| 副委員長氏名（和） | 津田 邦男(東芝) / 野田 進(京大) / 廣瀬 文彦(山形大) |
| 副委員長氏名（英） | Kunio Tsuda(Toshiba) / Susumu Noda(Kyoto Univ.) / Fumihiko Hirose(Yamagata Univ.) |
| 幹事氏名（和） | 松永 高治(NEC) / 鈴木 寿一(北陸先端大) / 梅沢 俊匡(NICT) / 藤原 直樹(NTT) / 小舘 淳一(NTT) / 岩田 展幸(日大) |
| 幹事氏名（英） | Koji Matsunaga(NEC) / Toshikazu Suzuki(JAIST) / Toshimasa Umezawa(NICT) / Naoki Fujiwara(NTT) / Junichi Kodate(NTT) / Nobuyuki Iwata(Nihon Univ.) |
| 幹事補佐氏名（和） | 新井 学(新日本無線) / 東脇 正高(NICT) / / 坂本 尊(NTT) / 中村 雄一(豊橋技科大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Manabu Arai(New JRC) / Masataka Higashiwaki(NICT) / / Takashi Sakamoto(NTT) / Yuichi Nakamura(Toyohashi Univ. of Tech.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Electron Device / Technical Committee on Lasers and Quantum Electronics / Technical Committee on Component Parts and Materials |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 光音響・発光同時計測法を用いたGaNの内部量子効率の測定 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Determination of internal quantum efficiency in GaN by simultaneous measurements of photoluminescence and photo-acoustic signals |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | GaN / GaN |
| キーワード(2)（和/英） | 光音響 / Photo-acoustic |
| キーワード(3)（和/英） | 内部量子効率 / Internal quantum efficiency |
| キーワード(4)（和/英） | PL温度依存性 / temperature dependence of photoluminescence intensity |
| キーワード(5)（和/英） | 非輻射再結合 / Non-radiative recombination |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 中納 隆 / Takashi Nakano |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 金沢工業大学(略称：金沢工大) Kanazawa Institute of Technology(略称：KIT) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 河上 航平 / Kouhei Kawakami |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 金沢工業大学(略称：金沢工大) Kanazawa Institute of Technology(略称：KIT) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 山口 敦史 / Atsushi A. Yamaguchi |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 金沢工業大学(略称：金沢工大) Kanazawa Institute of Technology(略称：KIT) |
| 発表年月日 | 2015-11-26 |
| 資料番号 | ED2015-78,CPM2015-113,LQE2015-110 |
| 巻番号（vol） | vol.115 |
| 号番号（no） | ED-329,CPM-330,LQE-331 |
| ページ範囲 | pp.53-58(ED), pp.53-58(CPM), pp.53-58(LQE), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2015-11-19 (ED, CPM, LQE) |