| 講演名 | 2015-10-13 貪欲法による組み合わせテスト集合生成における高速化について 大橋 輝(阪大), 土屋 達弘(阪大), |
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| 抄録(和) | 本研究では，貪欲法を使った組み合わせテスト用のテスト集合生成の効率化について議論する．貪欲法では，一つずつテストケースを追加していくことで，テスト集合を完成させる．それぞれのテストケースは，いくつかの候補をランダムアルゴリズムで生成した上で，それらから最良のものを選択することで得られる．提案手法では，テスト集合の生成段階を計測し，しきい値に達した段階で，テストケースの選択候補数を増加させることにより，テスト集合の大きさを小さく保ちながら，生成時間の削減を試みる．テスト集合生成の初期段階では出現していない組み合わせが多いことにより，それらを多く含むテストケースを発見することは容易だが，後期段階では困難になる．したがって，提案法では，前半では計算コストを抑え，後半に計算コストを集中させることにより，生成時間の削減を実現する．本研究では，どの段階で良いテストケースの発見が困難になるかを実験により調べ，その結果をしきい値に反映させる．このように設定したしきい値を用いた結果，テスト生成候補数を大きい値に固定した場合と同程度の大きさのテスト集合を，短時間で生成できることが分かった． |
| 抄録(英) | This paper discusses an optimization of the greedy approach for constructing test suites for combinatorial interaction testing. The greedy approach constructs a complete test suite by repeatedly adding a test case to the test suite. Usually each test case is selected from a set of candidate test cases that are generated using a randomized algorithm. The proposed optimization is based on the observation that in an early stage of test suite generation it is easy to find a good test case, whereas it is difficult in a later stage because there remain fewer combinations that needs to be covered. Based on the observation the proposed optimization changes the number of generated test case candidates, starting with a smaller number and switching it with a higher one at a later stage. The experimental results show that with the proposed optimization a small test suite can be obtained with a shorter generation time than without using the optimization. end{eabstract} begin{ekeyword}Combinatorial testing, greedy approach, pair-wise testing, test set |
| キーワード(和) | 組み合わせてスト / 貪欲法 / ペアワイズテスト / テスト集合 |
| キーワード(英) | Combinatorial testing / greedy approach / pair-wise testing / test set |
| 資料番号 | SS2015-37,DC2015-27 |
| 発行日 | 2015-10-06 (SS, DC) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC / SS |
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| 開催期間 | 2015/10/13(から2日開催) |
| 開催地（和） | 東大寺総合文化センター |
| 開催地（英） | Todaiji Culture Center (Nara) |
| テーマ（和） | ソフトウェアシステム, ネットワーク環境でのディペンダビリティ |
| テーマ（英） | Software System, Dependability in Network |
| 委員長氏名（和） | 金川 信康(日立) / 結縁 祥治(名大) |
| 委員長氏名（英） | Nobuyasu Kanekawa(Hitachi) / Shoji Yuen(Nagoya Univ.) |
| 副委員長氏名（和） | 井上 美智子(奈良先端大) / 緒方 和博(北陸先端大) |
| 副委員長氏名（英） | Michiko Inoue(NAIST) / Kazuhiro Ogata(JAIST) |
| 幹事氏名（和） | 岩田 浩司(鉄道総研) / 吉村 正義(京都産大) / 小林 隆志(東工大) / 鷲崎 弘宜(早大) |
| 幹事氏名（英） | Koji Iwata(RTRI) / Masayoshi Yoshimura(Kyoto Sangyo Univ.) / Takashi Kobayashi(Tokyo Inst. of Tech.) / Hironobu Washizaki(Waseda Univ.) |
| 幹事補佐氏名（和） | / 肥後 芳樹(阪大) |
| 幹事補佐氏名（英） | / Yoshiki Higo(Osaka Univ.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Dependable Computing / Technical Committee on Software Science |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 貪欲法による組み合わせテスト集合生成における高速化について |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Improving the greedy approach to constructing combinatorial test suites |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 組み合わせてスト / Combinatorial testing |
| キーワード(2)（和/英） | 貪欲法 / greedy approach |
| キーワード(3)（和/英） | ペアワイズテスト / pair-wise testing |
| キーワード(4)（和/英） | テスト集合 / test set |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 大橋 輝 / Teru Ohashi |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 大阪大学(略称：阪大) Osaka University(略称：Osaka Univ.) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 土屋 達弘 / Tatsuhiro Tsuchiya |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 大阪大学(略称：阪大) Osaka University(略称：Osaka Univ.) |
| 発表年月日 | 2015-10-13 |
| 資料番号 | SS2015-37,DC2015-27 |
| 巻番号（vol） | vol.115 |
| 号番号（no） | SS-248,DC-249 |
| ページ範囲 | pp.13-15(SS), pp.13-15(DC), |
| ページ数 | 3 |
| 発行日 | 2015-10-06 (SS, DC) |