| 講演名 | 2015-10-25 二値化事象関連電位の堅牢性の評価 堀江 亮太(芝浦工大), |
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| 抄録(和) | 事象関連電位は，特定の事象に惹起された過渡的な脳波成分であり，標準的には，事象に同期して記録した脳波波形を加算平均し，事象に非同期な背景脳波成分を打ち消すことで，微小な振幅の時間変位として観測される．事象関連電位波形は，アーチファクトが混入すると容易に崩れる．これに対して，著者らが提案した二値化事象関連電位は，事象関連電位を事象に同期して脳波の極性が偏る現象として単純化して捉え，脳波を極性で二値化した後に，加算平均することで，振幅が正になる確率として，事象関連電位の特徴を得る手法である．本研究では，二値化事象関連電位がアーチファクトの混入に堅牢に事象関連電位を抽出することを定量的に評価する． |
| 抄録(英) | Event-related Potentials (ERPs) are evoked by a particular event and transiently appear in electroencephalography (EEG). In a standard way, ERPs are observed as small time evolution of potentials by alignment of EEG segments according to an event, averaging of the segments across trials, and consequent reduction of background EEGs. The ERPs are easily distorted by artifacts. Binarized ERPs, proposed by authors, are probability that amplitude of EEGs become positive value. The binarized ERPs are observed by binarization of EEGs and averaging of the binarized sequences. In this study, we quantitatively evaluated that features of ERPs are robustly extracted into the binarized ERPs against contamination of artifacts. |
| キーワード(和) | 堅牢性の評価 / 二値化 / 事象関連電位 / 生体認証 |
| キーワード(英) | Robustness Evaluation / Binarized / Event-related Potentials / Biometrics |
| 資料番号 | BioX2015-28,MBE2015-39,NC2015-23 |
| 発行日 | 2015-10-18 (BioX, MBE, NC) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | MBE / BioX / NC |
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| 開催期間 | 2015/10/25(から1日開催) |
| 開催地（和） | 大阪電気通信大学 |
| 開催地（英） | Osaka Electro-Communication University |
| テーマ（和） | ME, バイオメトリクス, 一般 |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | 小林 哲生(京大) / 西垣 正勝(静岡大) / 斎藤 利通(法政大) |
| 委員長氏名（英） | Tetsuo Kobayashi(Kyoto Univ.) / Masakatsu Nishigaki(Shizuoka Univ.) / Toshimichi Saito(Hosei Univ.) |
| 副委員長氏名（和） | 福岡 豊(工学院大) / 鷲見 和彦(青学大) / 大塚 玲(産総研) / 佐藤 茂雄(東北大) |
| 副委員長氏名（英） | Yutaka Fukuoka(Kogakuin Univ.) / Kazuhiko Sumi(Aoyama Gakuin Univ.) / Akira Otsuka(AIST) / Shigeo Sato(Tohoku Univ.) |
| 幹事氏名（和） | 中村 和浩(秋田脳研) / 田中 久弥(工学院大) / 高野 博史(富山県立大) / 今岡 仁(NEC) / 堀尾 恵一(九工大) / 田中 宏喜(京都産大) |
| 幹事氏名（英） | Kazuhiro Nakamura(akita noken) / Hisaya Tanaka(Kogakuin Univ.) / Hiroshi Takano(Toyama Pref. Univ.) / Hitoshi Imaoka(NEC) / Keiichi Horio(Kyushu Inst. of Tech.) / Hiroki Tanaka(Kyoto Sangyo Univ.) |
| 幹事補佐氏名（和） | 笈田 武範(京大) / 堀江 亮太(芝浦工大) / 大木 哲史(産総研) / 西内 信之(首都大東京) / 神原 裕行(東工大) / 秋間 学尚(東北大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Takenori Oida(Kyoto Univ.) / Ryota Horie(Shibaura Inst. of Tech.) / Tetsushi Ohki(AIST) / Nobuyuki Nishiuchi(Tokyo Metropolitan Univ.) / Hiroyuki Kanbara(Tokyo Inst. of Tech.) / Hisanao Akima(Tohoku Univ.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on ME and Bio Cybernetics / Technical Committee on Biometrics / Technical Committee on Neurocomputing |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 二値化事象関連電位の堅牢性の評価 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Robustness Evaluation of Binarized Event-related Potentials |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 堅牢性の評価 / Robustness Evaluation |
| キーワード(2)（和/英） | 二値化 / Binarized |
| キーワード(3)（和/英） | 事象関連電位 / Event-related Potentials |
| キーワード(4)（和/英） | 生体認証 / Biometrics |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 堀江 亮太 / Horie Ryota |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 芝浦工業大学(略称：芝浦工大) Shibaura Institute of Technology(略称：SIT) |
| 発表年月日 | 2015-10-25 |
| 資料番号 | BioX2015-28,MBE2015-39,NC2015-23 |
| 巻番号（vol） | vol.115 |
| 号番号（no） | BioX-266,MBE-267,NC-268 |
| ページ範囲 | pp.37-42(BioX), pp.37-42(MBE), pp.37-42(NC), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2015-10-18 (BioX, MBE, NC) |