| 講演名 | 2015-10-23 ［招待講演］スピン偏極走査電子顕微鏡による磁気デバイス解析 孝橋 照生(日立), |
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| 抄録(和) | スピン偏極走査電子顕微鏡（スピンSEM）は強磁性体試料から放出される二次電子のスピン偏極度を検出する磁区観察装置である．他の磁区観察手法と比較し，10nmを超える空間分解能，磁化方向を空間3成分で解析可能，試料形状への制限の緩さ，などの特長を有し，これまで磁性物理の探究を目的とした基礎分野，あるいは磁気デバイスの発展を目的とした応用分野等，様々な方面で活用されてきた．本稿では，スピンSEMの原理と構造を簡単に紹介した後，いくつかの測定例を示す． |
| 抄録(英) | Spin-Polarized Scanning Electron Microscopy (Spin SEM) is one way for observing magnetic domain structures taking advantage of the spin polarization of the secondary electrons emitted from a ferromagnetic sample. This principle brings us several excellent capabilities such as high-spatial resolution better than 10 nm, and analysis of magnetization direction in three dimensions. In this paper, the principle and the structure of the spin SEM is briefly introduced, and some examples of the spin SEM measurements are shown. |
| キーワード(和) | スピン / 磁区 / 2次電子 / 走査電子顕微鏡 |
| キーワード(英) | spin / magnetic domain / secondary electron / scanning electron microscopy |
| 資料番号 | MR2015-21 |
| 発行日 | 2015-10-15 (MR) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | MR / ITE-MMS |
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| 開催期間 | 2015/10/22(から2日開催) |
| 開催地（和） | 大阪大学吹田キャンパス |
| 開催地（英） | Osaka Univ. |
| テーマ（和） | ヘッド・スピントロ二クス＋一般 |
| テーマ（英） | Recording Head, Spintronics, etc |
| 委員長氏名（和） | 五十嵐 万壽和(*) / 宮下 英一(NHK) |
| 委員長氏名（英） | Masukazu Igarashi(*) / Eiichi Miyashita(NHK) |
| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | 神邊 哲也(昭和電工) / 白鳥 聡志(東芝) / 竹下 伸夫(三菱) |
| 幹事氏名（英） | Tetsuya Kanbe(Syowa Denko) / Satoshi Shirotori(Toshiba) / Nobuo Takeshita(Mitsubishi) |
| 幹事補佐氏名（和） | 赤城 文子(工学院大) / 島 隆之(産総研) |
| 幹事補佐氏名（英） | Fumiko Akagi(Kogakuin Univ.) / Takayuki Shima(AIST) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Magnetic Recording / Technical Group on Multi-media Storage |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | ［招待講演］スピン偏極走査電子顕微鏡による磁気デバイス解析 |
| サブタイトル（和） | 電子スピンを検出する微小領域の磁化測定 |
| タイトル（英） | [Invited Talk] Analysis of magnetic devices by spin-polarized scanning electron microscopy |
| サブタイトル（和） | Microscopic Magnetization Measurements using Spin Polarization of Electrons |
| キーワード(1)（和/英） | スピン / spin |
| キーワード(2)（和/英） | 磁区 / magnetic domain |
| キーワード(3)（和/英） | 2次電子 / secondary electron |
| キーワード(4)（和/英） | 走査電子顕微鏡 / scanning electron microscopy |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 孝橋 照生 / Teruo Kohashi |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 株式会社日立製作所(略称：日立) Hitachi, Ltd.(略称：Hitachi) |
| 発表年月日 | 2015-10-23 |
| 資料番号 | MR2015-21 |
| 巻番号（vol） | vol.115 |
| 号番号（no） | MR-263 |
| ページ範囲 | pp.37-41(MR), |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2015-10-15 (MR) |