講演名 2015-09-04
[依頼講演]電子業界発展への貢献を目指す一般社団法人KEC関西電子工業振興センターの活動紹介
正岡 賢治(KEC関西電子工業振興センター), 小笠原 一夫(KEC関西電子工業振興センター),
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抄録(和) 一般社団法人KEC関西電子工業振興センターは、経済産業省(旧、通商産業省)と大阪府の支援の下、電子業界発展への貢献を目的に1961年に設立された。先端技術情報の提供、技術者育成を主軸とする委員会事業と、EMC・製品安全試験の提供を主軸とする試験事業を推進している。試験事業においては、国内外主要機関からISO/IEC17025試験所認定を取得しており、最新鋭測定器投資による試験環境の強化を図り、民生から産業、医療、車載、航空機、防衛用搭載機器、他の分野まで、幅広い製品分野のEMC試験をサポートしている。
抄録(英) KEC Electronic Industry Development Center was established in 1961 under the support of Ministry of Economy, Trade and Industry (Previously, the Ministry of International Trade and Industry) and Osaka prefecture, for the purpose of contributing to the development of electronics industry. KEC has been promoting Committee Division Activities and Testing Division Activities. The former has been involved in providing advanced technology information and training engineers. The latter has been involved in providing Testing & Evaluation services for EMC & PS (Product Safety). Testing Division has been certificated as ISO/IEC17025 Testing Laboratory by major authorities at home and abroad. By investing in state-of-the-art measuring instruments and enhancing the testing environments, it supports EMC tests in wide range of product areas, e.g., Consumer, Industry, Medical, Automotive, Aircraft, MIL and so on.
キーワード(和) ISO/IEC17025 / EMC試験 / 製品安全試験 / iNARTE
キーワード(英) ISO/IEC17025 / EMC testing / PS testing / iNARTE
資料番号 EMCJ2015-58
発行日 2015-08-28 (EMCJ)

研究会情報
研究会 EMCJ
開催期間 2015/9/4(から1日開催)
開催地(和) けいはんなプラザ
開催地(英) Keihanna Plaza
テーマ(和) PCB,EMC一般
テーマ(英) PCB, EMC
委員長氏名(和) 曽根 秀昭(東北大)
委員長氏名(英) Hideaki Sone(Tohoku Univ.)
副委員長氏名(和) 和田 修己(京大)
副委員長氏名(英) Osami Wada(Kyoto Univ.)
幹事氏名(和) 豊田 啓孝(岡山大) / 大坂 英樹(日立)
幹事氏名(英) Yoshitaka Toyota(Okayama Univ.) / Hideki Osaka(Hitachi)
幹事補佐氏名(和) 高橋 篤弘(豊田中研) / 萓野 良樹(秋田大) / 勝部 勇作(日立)
幹事補佐氏名(英) Atsuhiro Takahashi(Toyota Central R&D Labs.) / Yoshiki Kayano(Akita Univ.) / Yusaku Katsube(Hitachi)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Technical Committee on Electromagnetic Compatibility
本文の言語 JPN
タイトル(和) [依頼講演]電子業界発展への貢献を目指す一般社団法人KEC関西電子工業振興センターの活動紹介
サブタイトル(和) 技術者育成から最先端のEMC試験設備まで
タイトル(英) [Invited Lecture] Introduction of KEC striving for the contribution to the development of the electronics industry.
サブタイトル(和) From Training engineers to the state-of-the-art EMC Testing facilities.
キーワード(1)(和/英) ISO/IEC17025 / ISO/IEC17025
キーワード(2)(和/英) EMC試験 / EMC testing
キーワード(3)(和/英) 製品安全試験 / PS testing
キーワード(4)(和/英) iNARTE / iNARTE
第 1 著者 氏名(和/英) 正岡 賢治 / Kenji Masaoka
第 1 著者 所属(和/英) 一般社団法人KEC関西電子工業振興センター(略称:KEC関西電子工業振興センター)
KEC Electronic Industry Development Center(略称:KEC)
第 2 著者 氏名(和/英) 小笠原 一夫 / Kazuo Ogasawara
第 2 著者 所属(和/英) 一般社団法人KEC関西電子工業振興センター(略称:KEC関西電子工業振興センター)
KEC Electronic Industry Development Center(略称:KEC)
発表年月日 2015-09-04
資料番号 EMCJ2015-58
巻番号(vol) vol.115
号番号(no) EMCJ-217
ページ範囲 pp.31-35(EMCJ),
ページ数 5
発行日 2015-08-28 (EMCJ)