| 講演名 | 2015-09-17 整合回路内部での損失の「マンハッタン距離」と「ポアンカレ計量に関する長さ」による表現 山田 恭平(豊橋技科大), 坂井 尚貴(豊橋技科大), 大平 孝(豊橋技科大), |
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| 抄録(和) | 集中定数素子を用いた整合回路について, その内部損失を距離, あるいは長さを用いて表現する. 第1幕では逆L型整合回路を取り扱い, 「マンハッタン距離」による損失の表現と, 最適構成の決定法について述べる. 続く第2幕では有限個のインダクタ・キャパシタを直列または並列に接続した整合回路の損失を考え, これの損失がスミスチャート上の曲線の「ポアンカレ計量に関する長さ」で定式化できることを示す. 距離や長さという幾何学的概念を用いることで, 損失の直感的な理解が期待できる. |
| 抄録(英) | Two kinds of geometric expressions of losses in a matching circuit are presented using a concept of length or distance. The first one, employing "Manhattan distance," describes a loss in an L-shaped matching circuit and a lucid way to reduce the loss. The second one, based on hyperbolic geometry, is for not only L-shaped circuit but also any combination of shunt/series capacitors/inductors. |
| キーワード(和) | 整合回路 / 集中定数 / 損失 / Q値 / マンハッタン距離 / ポアンカレ計量 |
| キーワード(英) | matching circuit / lumped-constant element / energy loss / quality factor / Manhattan distance / Poincare metric |
| 資料番号 | MW2015-88 |
| 発行日 | 2015-09-10 (MW) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | MW / AP |
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| 開催期間 | 2015/9/17(から2日開催) |
| 開催地（和） | 小山高専 |
| 開催地（英） | Oyama National College of Tech. |
| テーマ（和） | マイクロ波ミリ波，一般 |
| テーマ（英） | Microwave and Millimeter-wave |
| 委員長氏名（和） | 石川 容平(京大) / 長 敬三(千葉工大) |
| 委員長氏名（英） | Yohei Ishikawa(Kyoto Univ.) / Keizo Cho(Chiba Inst. of Tech.) |
| 副委員長氏名（和） | 中津川 征士(NTT) / 九鬼 孝夫(国士舘大) / 西川 健二郎(鹿児島大) / 岩井 誠人(同志社大) |
| 副委員長氏名（英） | Masashi Nakatsugawa(NTT) / Takao Kuki(Kokushikan Univ.) / Kenjiro Nishikawa(Kagoshima Univ.) / Hisato Iwai(Doshisha Univ.) |
| 幹事氏名（和） | 山口 陽(NTT) / 佐藤 潤二(パナソニック) / 中野 雅之(KDDI研) / 西森 健太郎(新潟大) |
| 幹事氏名（英） | Yo Yamaguchi(NTT) / Junji Sato(Panasonic) / Masayuki Nakano(KDDI R&D Labs.) / Kentaro Nishimori(Niigata Univ.) |
| 幹事補佐氏名（和） | 石川 亮(電通大) / 關谷 尚人(山梨大) / 木村 雄一(埼玉大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Ryo Ishikawa(Univ. of Electro-Comm.) / Naoto Sekiya(Univ. of Yamanashi) / Yuichi Kimura(Saitama Univ.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Microwaves / Technical Committee on Antennas and Propagation |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 整合回路内部での損失の「マンハッタン距離」と「ポアンカレ計量に関する長さ」による表現 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | New Expression of Loss in LC Circuts |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 整合回路 / matching circuit |
| キーワード(2)（和/英） | 集中定数 / lumped-constant element |
| キーワード(3)（和/英） | 損失 / energy loss |
| キーワード(4)（和/英） | Q値 / quality factor |
| キーワード(5)（和/英） | マンハッタン距離 / Manhattan distance |
| キーワード(6)（和/英） | ポアンカレ計量 / Poincare metric |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 山田 恭平 / Kyohei Yamada |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 豊橋技術科科学大学(略称：豊橋技科大) Toyohashi University of Technology(略称：TUT) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 坂井 尚貴 / Naoki Sakai |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 豊橋技術科科学大学(略称：豊橋技科大) Toyohashi University of Technology(略称：TUT) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 大平 孝 / Takashi Ohira |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 豊橋技術科科学大学(略称：豊橋技科大) Toyohashi University of Technology(略称：TUT) |
| 発表年月日 | 2015-09-17 |
| 資料番号 | MW2015-88 |
| 巻番号（vol） | vol.115 |
| 号番号（no） | MW-227 |
| ページ範囲 | pp.9-12(MW), |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | 2015-09-10 (MW) |