| 講演名 | 2015-10-30 ［特別講演］ワイドバンドギャップ半導体に対する放射線の影響 矢野 満明(阪工大), |
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| 抄録(和) | 宇宙には様々な放射線が存在し，通信衛星等に搭載された半導体デバイスの誤動作や特性劣化の原因となる．本講演では，宇宙における放射線環境と半導体デバイスへの影響について概説した後，恒久的な特性劣化をもたらす弾き出し損傷について，GaNとZnOに関する我々の実験結果を中心に報告する． |
| 抄録(英) | Space radiation environments provide the cumulative degradation by total-dose effects and displacement damage effects as well as the soft-errors by single-event effects. In this presentation, our experimental results are reported focusing on the displacement damage effects for wide bandgap semiconductors of GaN and ZnO. |
| キーワード(和) | 半導体 / 放射線耐性 / 弾き出し損傷 / 特性劣化解析 |
| キーワード(英) | Semiconductor / Radiation Hardness / Displacement Damage / Degradation Analysis |
| 資料番号 | SANE2015-43 |
| 発行日 | 2015-10-23 (SANE) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | SANE |
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| 開催期間 | 2015/10/30(から1日開催) |
| 開催地（和） | 大阪工業大うめきたナレッジセンター |
| 開催地（英） | OIT UMEKITA Knowledge Center |
| テーマ（和） | レーダ信号処理及び一般 |
| テーマ（英） | Radar signal processing and general issues |
| 委員長氏名（和） | 小林 弘一(阪工大) |
| 委員長氏名（英） | Hirokazu Kobayashi(Osaka Inst. of Tech.) |
| 副委員長氏名（和） | 辻 政信(JAXA) / 水野 貴秀(JAXA) |
| 副委員長氏名（英） | Masanobu Tsuji(JAXA) / Takahide Mizuno(JAXA) |
| 幹事氏名（和） | 木寺 正平(電通大) / 牧 謙一郎(JAXA) |
| 幹事氏名（英） | Shohei Kidera(Univ. of Electro-Comm.) / Kenichiro Maki(JAXA) |
| 幹事補佐氏名（和） | 小幡 康(三菱電機) / 毛塚 敦(電子航法研) |
| 幹事補佐氏名（英） | Yasushi Obata(Mitsubishi Electric) / Atsushi Kezuka(ENRI) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Space, Aeronautical and Navigational Electronics |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | ［特別講演］ワイドバンドギャップ半導体に対する放射線の影響 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | [Special Talk] Radiation Hardness of Wide Bandgap Semiconductors |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 半導体 / Semiconductor |
| キーワード(2)（和/英） | 放射線耐性 / Radiation Hardness |
| キーワード(3)（和/英） | 弾き出し損傷 / Displacement Damage |
| キーワード(4)（和/英） | 特性劣化解析 / Degradation Analysis |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 矢野 満明 / Mitsuaki Yano |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 大阪工業大学(略称：阪工大) Osaka Institute of Technology(略称：OIT) |
| 発表年月日 | 2015-10-30 |
| 資料番号 | SANE2015-43 |
| 巻番号（vol） | vol.115 |
| 号番号（no） | SANE-282 |
| ページ範囲 | pp.13-14(SANE), |
| ページ数 | 2 |
| 発行日 | 2015-10-23 (SANE) |