| 講演名 | 2015-08-07 複数の系列を同時に使用する離散フーリエ変換検定法について 岡田 大樹(京大), 梅野 健(京大), |
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| 抄録(和) | NIST SP 800-22 の離散フーリエ変換検定(DFT検定)の問題点について考察し，そ してその問題点を克服した，より敏感な離散フーリエ変換検定法を提案す る．NISTの検定法は，一本の系列の乱数性を検定し，それを同じ乱数生成器に より生成された複数の系列にも同様に検定を行うことで乱数生成器の評価をし ている．そこで，今回の改良において鍵となるのは，複数の系列に跨がった系 列の要素から検定統計量を構成することである．この検定法には従来のような 理論的問題点はなく，また，検定統計量の理論的分布も解析的に求められてい る．複数の擬似乱数生成器を用いて検定結果を比較したところ，提案法が従来 法よりも厳しい検定になっていることが確認された． |
| 抄録(英) | In this paper, we review the problems in the Discrete Fourier Transform (DFT) test included in SP800-22 released by National Institute of Standards and Technology (NIST), and propose a new DFT test that conquers the problems. While the tests in SP 800-22 test the randomness of input sequences one by one, our proposal method simultaneously uses all the sequences. Thereby, the proposal method conquers the crucial problem that the conventional DFT test regards Fourier coefficients as mutually independent stochastic variables. We also compared the sensitivity of the conventional test with that of the proposal test. As a result, we found that the proposal test is more sensitive than the conventional test. |
| キーワード(和) | 離散フーリエ変換 / 乱数 / 統計検定 / SP800-22 / NIST |
| キーワード(英) | discrete Fourier transform / random number / statistical test / SP800-22 / NIST |
| 資料番号 | CCS2015-42 |
| 発行日 | 2015-07-30 (CCS) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | CCS |
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| 開催期間 | 2015/8/6(から2日開催) |
| 開催地（和） | 第一滝本館（北海道登別市） |
| 開催地（英） | Dai-ichi Takimotokan (Noboribetsu, Hokkaido) |
| テーマ（和） | ネットワークの科学, 一般 |
| テーマ（英） | Network Science, etc. |
| 委員長氏名（和） | 関屋 大雄(千葉大) |
| 委員長氏名（英） | Hiroo Sekiya(Chiba Univ.) |
| 副委員長氏名（和） | 坪 泰宏(立命館大) / 若宮 直紀(阪大) |
| 副委員長氏名（英） | Yasuhiro Tsubo(Ritsumeikan Univ.) / Naoki Wakamiya(Osaka Univ.) |
| 幹事氏名（和） | 荒井 伸太郎(香川高専) / 鳥飼 弘幸(京都産大) |
| 幹事氏名（英） | Shintaro Arai(Kagawa National College of Tech.) / Hiroyuki Torikai(Kyoto Sangyo Univ.) |
| 幹事補佐氏名（和） | 木村 貴幸(日本工大) / Song-Ju Kim(物質・材料研究機構) / 高橋 亮(京大) / 寺前 順之介(阪大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Takayuki Kimura(Nippon Inst. of Tech.) / Song-Ju Kim(NIMS) / Ryo Takahashi(Kyoto Univ.) / Junnosuke Teramae(Osaka Univ.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Complex Communication Sciences |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 複数の系列を同時に使用する離散フーリエ変換検定法について |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Discrete Fourier Transform Test Based on the Simultaneous Use of Multiple Sequences |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 離散フーリエ変換 / discrete Fourier transform |
| キーワード(2)（和/英） | 乱数 / random number |
| キーワード(3)（和/英） | 統計検定 / statistical test |
| キーワード(4)（和/英） | SP800-22 / SP800-22 |
| キーワード(5)（和/英） | NIST / NIST |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 岡田 大樹 / Hiroki Okada |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 京都大学(略称：京大) Kyoto University(略称：Kyoto Univ.) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 梅野 健 / Ken Umeno |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 京都大学(略称：京大) Kyoto University(略称：Kyoto Univ.) |
| 発表年月日 | 2015-08-07 |
| 資料番号 | CCS2015-42 |
| 巻番号（vol） | vol.115 |
| 号番号（no） | CCS-178 |
| ページ範囲 | pp.73-78(CCS), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2015-07-30 (CCS) |