| 講演名 | 2015-07-09 LDO電圧レギュレータ回路におけるイミュニティ特性と内部端子電圧の相関 宮原 秀敏(京大), 池原 伸明(京大), 松嶋 徹(京大), 久門 尚史(京大), 和田 修己(京大), |
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| 抄録(和) | 近年，設計コストの低減のため，ICの妨害波に対する挙動を予測することが重要となっている．伝導性妨害波に対する電磁的な耐性（イミュニティ）を予測するモデルとして現在IECで審議中であるICIM-CI（Integrated Circuit Immunity Model for Conducted Immunity）が挙げられる．ICIM-CIモデルでは，外部端子を評価端子とし，妨害波との相関からイミュニティ特性を予測している．しかしながら，誤動作はICのチップ上の端子の電圧または電流により引き起こされるはずであり，IC パッケージの外部で評価することは適切とは言えない．そこで，本報告では，内部端子を評価端子としたイミュニティモデルの構築に向けて，ディスクリート部品により構成されたLDO（Low Dropout）電圧レギュレータを対象に，イミュニティと内部端子電圧の相関について検討を行った．SPICEモデルを用いたシミュレーション結果及び実測結果から，妨害波伝達経路を制限した場合，内部端子である参照電圧と誤動作との相関が確認された．特に，高い周波数ではICが応答しないため，誤動作機構を直流成分のみで表現でき得ることも確認された．妨害波伝達経路を制限しない場合については，フィードバック系に妨害波が進入し，複雑な伝達経路となるため，今後さらに検討が必要である． |
| 抄録(英) | Predicting undesired behavior of IC caused by conducted electromagnetic disturbances at a design stage of electronic products is becoming important for front-loading of design process. As a model to predict immunity characteristics, the ICIM-CI (Integrated Circuit Immunity Model for Conducted Immunity) was proposed and has been under standardization in IEC SC47A/WG2. The model expresses immunity behavior by monitoring the immunity criterion at an external terminal. However, an internal terminal voltage or current should be directly related to failure to function. Assessing the external terminal is not absolutely suitable to extract immunity characteristics. In this report, towards modeling by evaluating immunity criteria at an internal terminal, we study correlation between immunity and an internal terminal voltage in a LDO (Low Dropout) voltage regulator composed of discrete devices. Limiting coupling paths, results in simulation using SPICE (Simulation Program IC Emphasis) models and in measurement indicate correlation between immunity and the internal reference voltage. This report shows the mechanism of failure can be expressed by DC component since ICs can't respond in the range of high frequency. In the case of unlimiting disturbance coupling paths, it is necessary to consider and study an influence from disturbance reaching feedback system. |
| キーワード(和) | イミュニティ / LDO電圧レギュレータ / 内部端子 / ICIM-CI / 伝導性妨害 |
| キーワード(英) | immunity / LDO voltage regulator / internal terminal / ICIM-CI / conducted disturbance |
| 資料番号 | EMCJ2015-33 |
| 発行日 | 2015-07-02 (EMCJ) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMCJ |
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| 開催期間 | 2015/7/9(から1日開催) |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | 若手研究者発表会 |
| テーマ（英） | Young Scientist Meeting |
| 委員長氏名（和） | 曽根 秀昭(東北大) |
| 委員長氏名（英） | Hideaki Sone(Tohoku Univ.) |
| 副委員長氏名（和） | 和田 修己(京大) |
| 副委員長氏名（英） | Osami Wada(Kyoto Univ.) |
| 幹事氏名（和） | 豊田 啓孝(岡山大) / 大坂 英樹(日立) |
| 幹事氏名（英） | Yoshitaka Toyota(Okayama Univ.) / Hideki Osaka(Hitachi) |
| 幹事補佐氏名（和） | 高橋 篤弘(豊田中研) / 萓野 良樹(秋田大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Atsuhiro Takahashi(Toyota Central R&D Labs.) / Yoshiki Kayano(Akita Univ.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Electromagnetic Compatibility |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | LDO電圧レギュレータ回路におけるイミュニティ特性と内部端子電圧の相関 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Correlation between Immunity Behavior and Internal Terminal Voltage of LDO Regulator Circuits |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | イミュニティ / immunity |
| キーワード(2)（和/英） | LDO電圧レギュレータ / LDO voltage regulator |
| キーワード(3)（和/英） | 内部端子 / internal terminal |
| キーワード(4)（和/英） | ICIM-CI / ICIM-CI |
| キーワード(5)（和/英） | 伝導性妨害 / conducted disturbance |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 宮原 秀敏 / Hidetoshi Miyahara |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 京都大学(略称：京大) Kyoto University(略称：Kyoto Univ.) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 池原 伸明 / Nobuaki Ikehara |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 京都大学(略称：京大) Kyoto University(略称：Kyoto Univ.) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 松嶋 徹 / Tohlu Matsushima |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 京都大学(略称：京大) Kyoto University(略称：Kyoto Univ.) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 久門 尚史 / Takashi Hisakado |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 京都大学(略称：京大) Kyoto University(略称：Kyoto Univ.) |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 和田 修己 / Osami Wada |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 京都大学(略称：京大) Kyoto University(略称：Kyoto Univ.) |
| 発表年月日 | 2015-07-09 |
| 資料番号 | EMCJ2015-33 |
| 巻番号（vol） | vol.115 |
| 号番号（no） | EMCJ-131 |
| ページ範囲 | pp.13-18(EMCJ), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2015-07-02 (EMCJ) |