講演名 2015-07-09
放射イミュニティ試験時における金属筐体内部の電界がICの動作に与える影響に関する研究
中村 圭佑(デンソー), 十河 健司(デンソー), 山田 道治(デンソー), 市川 浩司(デンソー),
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抄録(和)
抄録(英)
キーワード(和)
キーワード(英)
資料番号 EMCJ2015-32
発行日 2015-07-02 (EMCJ)

研究会情報
研究会 EMCJ
開催期間 2015/7/9(から1日開催)
開催地(和) 機械振興会館
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg.
テーマ(和) 若手研究者発表会
テーマ(英) Young Scientist Meeting
委員長氏名(和) 曽根 秀昭(東北大)
委員長氏名(英) Hideaki Sone(Tohoku Univ.)
副委員長氏名(和) 和田 修己(京大)
副委員長氏名(英) Osami Wada(Kyoto Univ.)
幹事氏名(和) 豊田 啓孝(岡山大) / 大坂 英樹(日立)
幹事氏名(英) Yoshitaka Toyota(Okayama Univ.) / Hideki Osaka(Hitachi)
幹事補佐氏名(和) 高橋 篤弘(豊田中研) / 萓野 良樹(秋田大)
幹事補佐氏名(英) Atsuhiro Takahashi(Toyota Central R&D Labs.) / Yoshiki Kayano(Akita Univ.)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Technical Committee on Electromagnetic Compatibility
本文の言語 JPN
タイトル(和) 放射イミュニティ試験時における金属筐体内部の電界がICの動作に与える影響に関する研究
サブタイトル(和)
タイトル(英) Influence on IC Operation by Internal Electric Field of Metal Enclosure during Radiated Immunity Testing
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英)
第 1 著者 氏名(和/英) 中村 圭佑 / Keisuke Nakamura
第 1 著者 所属(和/英) 株式会社デンソー(略称:デンソー)
DENSO CORPORATION(略称:DENSO)
第 2 著者 氏名(和/英) 十河 健司 / Kenji Sogo
第 2 著者 所属(和/英) 株式会社デンソー(略称:デンソー)
DENSO CORPORATION(略称:DENSO)
第 3 著者 氏名(和/英) 山田 道治 / Michiharu Yamada
第 3 著者 所属(和/英) 株式会社デンソー(略称:デンソー)
DENSO CORPORATION(略称:DENSO)
第 4 著者 氏名(和/英) 市川 浩司 / Kouji Ichikawa
第 4 著者 所属(和/英) 株式会社デンソー(略称:デンソー)
DENSO CORPORATION(略称:DENSO)
発表年月日 2015-07-09
資料番号 EMCJ2015-32
巻番号(vol) vol.115
号番号(no) EMCJ-131
ページ範囲 pp.7-12(EMCJ),
ページ数 6
発行日 2015-07-02 (EMCJ)