| 講演名 | 2015-07-31 ［奨励講演］ソフトウェア開発品質におけるバグ密度特性と類似性への一考察 小澤 孝(NTT), 高橋 徹(NTT), |
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| 抄録(和) | 現在のソフトウェア開発における品質管理は、ソフトウェア品質の良し悪しを図るためにバグ密度における指標値を設定し、指標値の上方と下方に管理限界（管理範囲）を設けることが一般的である．指標値及び管理限界範囲は、過去のソフトウェアの開発規模/バグ数から算出するため、開発対象ソフトウェアの類似性の高いソフトウェアを適用する必要がある．そこで、筆者らは複数のソフトウェアにおいて、バグ密度特性(U管理図)及び開発期間等に対するユークリッド距離から算出する類似度を比較した．また、算出したバグ密度特性と類似性の相関について検討した結果を本稿で示す． |
| 抄録(英) | Quality control in current software development, sets the index value in the defect density in order to bad software quality is good, is generally able to provide the upper and lower control limits of the index value (control range). Index value and the control limits range for calculating the development scale / number bugs past software, it is necessary to apply the high similarity of the target software development software. Therefore, the authors in a plurality of software, we compared the degree of similarity calculated from the Euclidean distance for the bug density properties (U management view) and development time, etc.. In addition, the results of examining the similarity correlated with the calculated defect density characteristics shown in this paper. |
| キーワード(和) | ソフトウェア開発品質 / バグ密度 / 類似性 |
| キーワード(英) | Software development quality / Bug density properties / Similarities |
| 資料番号 | NS2015-65 |
| 発行日 | 2015-07-23 (NS) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | RCC / ASN / RCS / NS / SR |
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| 開催期間 | 2015/7/29(から3日開催) |
| 開催地（和） | JA長野県ビル |
| 開催地（英） | JA Naganoken Bldg. |
| テーマ（和） | 無線分散ネットワーク，M2M (Machine-to-Machine)，D2D (Device-to-Device)，一般 |
| テーマ（英） | Wireless Distributed Network, M2M: Machine-to-Machine, D2D (Device-to-Device)，etc. |
| 委員長氏名（和） | 片山 正昭(名大) / 東條 弘(NTT) / 太郎丸 真(福岡大) / 平松 淳(NTT-AT) / 藤井 威生(電通大) |
| 委員長氏名（英） | Masaaki Katayama(Nagoya Univ.) / Hiroshi Tohjo(NTT) / Makoto Taromaru(Fukuoka Univ.) / Atsushi Hiramatsu(NTT-AT) / Takeo Fujii(Univ. of Electro-Comm.) |
| 副委員長氏名（和） | 原 晋介(阪市大) / 三浦 龍(NICT) / 関屋 大雄(千葉大) / 岡田 啓(名大) / 吉原 貴仁(KDDI研) / 村田 英一(京大) / 田野 哲(岡山大) / 眞田 幸俊(慶大) / 戸出 英樹(阪府大) / 梅林 健太(東京農工大) / 有吉 正行(NEC) |
| 副委員長氏名（英） | Shinsuke Hara(Osaka City Univ.) / Ryu Miura(NICT) / Hiroo Sekiya(Chiba Univ.) / Hiraku Okada(Nagoya Univ.) / Kiyohito Yoshihara(KDDI R&D Labs.) / Hidekazu Murata(Kyoto Univ.) / Satoshi Denno(Okayama Univ.) / Yukitoshi Sanada(Keio Univ.) / Hideki Tode(Osaka Pref. Univ.) / Kenta Umebayashi(Tokyo Univ. of Agric. and Tech.) / Masayuki Ariyoshi(NEC) |
| 幹事氏名（和） | 林 和則(京大) / 小林 孝一(北大) / 塩川 茂樹(神奈川工科大) / 清水 芳孝(NTT) / 岡崎 彰浩(三菱電機) / 須山 聡(NTTドコモ) / 橘 拓至(福井大) / 前田 英樹(NTT) / 田久 修(信州大) / 石津 健太郎(NICT) |
| 幹事氏名（英） | Kazunori Hayashi(Kyoto Univ.) / Koichi Kobayashi(Hokkaido Univ.) / Shigeki Shiokawa(Kanagawa Inst. of Tech.) / Yoshitaka Shimizu(NTT) / Akihiro Okazaki(Mitsubishi Electric) / Satoshi Suyama(NTT DoCoMo) / Takuji Tachibana(Univ. of Fukui) / Hideki Maeda(NTT) / Osamu Takyu(Shinshu Univ.) / Kentaro Ishidu(NICT) |
| 幹事補佐氏名（和） | 石井 光治(香川大) / 小林 健太郎(名大) / 五十嵐 悠一(日立) / 内藤 克浩(愛知工大) / 服部 聖彦(NICT) / 藤田 裕志(富士通研) / 米澤 拓郎(慶大) / 増野 淳(NTT) / 山本 哲矢(パナソニック) / 井上 高道(NEC) / 旦代 智哉(東芝) / 西村 寿彦(北大) / 鎌村 星平(NTT) / 矢野 一人(ATR) / 稲森 真美子(東海大) / 芝 宏礼(NTT) / Gia Khanh Tran(東工大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Koji Ishii(Kagawa Univ.) / Kentaro Kobayashi(Nagoya Univ.) / Yuichi Igarashi(Hitachi) / Katsuhiro Naito(Aichi Inst. of Tech.) / Kiyohiko Hattori(NICT) / Hiroshi Fujita(Fujitsu Labs.) / Takuro Yonezawa(Keio Univ.) / Jun Mashino(NTT) / Tetsuya Yamamoto(Panasonic) / Takamichi Inoue(NEC) / Tomoya Tandai(Toshiba) / Toshihiko Nishimura(Hokkaido Univ.) / Shohei Kamamura(NTT) / Kazuto Yano(ATR) / Mamiko Inamori(Tokai Univ.) / Hiroyuki Shiba(NTT) / Gia Khanh Tran(Tokyo Inst. of Tech.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Reliable Communication and Control / Technical Committee on Ambient intelligence and Sensor Networks / Technical Committee on Radio Communication Systems / Technical Committee on Network Systems / Technical Committee on Smart Radio |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | ［奨励講演］ソフトウェア開発品質におけるバグ密度特性と類似性への一考察 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | [Encouragement Talk] A study on the bug density properties and similarities in software development quality |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | ソフトウェア開発品質 / Software development quality |
| キーワード(2)（和/英） | バグ密度 / Bug density properties |
| キーワード(3)（和/英） | 類似性 / Similarities |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 小澤 孝 / Takashi Ozawa |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 日本電信電話株式会社(略称：NTT) Nippon Telegraph and Telephone Corporation(略称：NTT) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 高橋 徹 / Toru Takahashi |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 日本電信電話株式会社(略称：NTT) Nippon Telegraph and Telephone Corporation(略称：NTT) |
| 発表年月日 | 2015-07-31 |
| 資料番号 | NS2015-65 |
| 巻番号（vol） | vol.115 |
| 号番号（no） | NS-159 |
| ページ範囲 | pp.165-168(NS), |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | 2015-07-23 (NS) |