| 講演名 | 2015-06-19 統計的手法を用いた微摺動機構による電気接点劣化現象解析 越田 圭治(TMCシステム), 和田 真一(TMCシステム), 久保田 洋彰(TMCシステム), 澤 孝一郎(日本工大), |
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| 抄録(和) | 著者らは，超磁歪アクチュエータと並行板ばねを用いることにより，電子デバイスを直接微小摺動させることができる機構（MSM1）を 設計・開発している．また，圧電アクチュエータと弾性ヒンジを用いた改良型微摺動機構（MSM2）を設計・開発している．著者らは，電気接点劣化過程の解析を行いうる指標の１つとして最小摺動振幅を提案している．最小摺動振幅とは，各条件で約1日の摺動実験を行ったときに，接触電圧を上昇させ接点劣化を生じさせる最小の摺動振幅のことである．本報告では特に，最小摺動振幅データの解析における統計学的手法についての詳細を述べる．分散分析と，母平均の点推定および区間推定を用いることで実験データに客観性を与えられると考えている． |
| 抄録(英) | Authors have designed and developed a mechanism to be capable of micro-sliding electrical contact directly by using a giant magnetostriction actuator and parallel leaf springs (MSM1).They also have designed and developed an improved micro-sliding mechanism (MSM2) using a piezoelectric actuator and elastic hinges.And they have proposed a minimal sliding amplitude as one of the indicators that can analyze the electrical contacts in the the degradation processes.In this paper, the minimal sliding amplitude is a minimal property to increase contact voltages and to cause degradation phenomenon when sliding experiments are carried out for about a day under some conditions.They describe particularly the details of statistical methods for the analysis of the experimental results of minimal sliding amplitude data.They apply an analysis of variance, a point estimation, and an interval estimation for a population mean.They consider that the methods give objectivity to the experimental results. |
| キーワード(和) | 電気接点 / 接触抵抗 / 微摺動機構 / 統計解析 / 分散分析 / 点推定 / 区間推定 |
| キーワード(英) | electrical contact / contact resistance / micro-sliding mechanism / statistics analysis / analysis of variance / point estimation / interval estimation |
| 資料番号 | EMD2015-17,CPM2015-27,OME2015-30 |
| 発行日 | 2015-06-12 (EMD, CPM, OME) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMD / CPM / OME |
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| 開催期間 | 2015/6/19(から1日開催) |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | 材料デバイスサマーミーティング |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | 関川 純哉(静岡大) / 野毛 悟(沼津高専) / 松田 直樹(産総研) |
| 委員長氏名（英） | Junya Sekikawa(Shizuoka Univ.) / Satoru Noge(Numazu National College of Tech.) / Naoki Matsuda(AIST) |
| 副委員長氏名（和） | 阿部 宜輝(NTT) / 廣瀬 文彦(山形大) / 森 竜雄(愛知工大) |
| 副委員長氏名（英） | Yoshiteru Abe(NTT) / Fumihiko Hirose(Yamagata Univ.) / Tatsuo Mori(Aichi Inst. of Tech.) |
| 幹事氏名（和） | 澤田 滋(住友電装) / 鈴木 健司(富士電機機器制御) / 小舘 淳一(NTT) / 岩田 展幸(日大) / 鴻野 晃洋(NTT) / 染谷 隆夫(東大) |
| 幹事氏名（英） | Shigeru Sawada(Sumitomo Denso) / Kenji Suzuki(Fujielectric) / Junichi Kodate(NTT) / Nobuyuki Iwata(Nihon Univ.) / Akihiro Kohno(NTT) / Takao Someya(Univ. of Tokyo) |
| 幹事補佐氏名（和） | 和田 真一(TMCシステム) / 坂本 尊(NTT) / 中村 雄一(豊橋技科大) / 梶井 博武(阪大) / 田口 大(東工大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Shinichi Wada(TMC system) / Takashi Sakamoto(NTT) / Yuichi Nakamura(Toyohashi Univ. of Tech.) / Hirotake Kajii(Osaka Univ.) / Dai Taguchi(Tokyo Inst. of Tech.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Electromechanical Devices / Technical Committee on Component Parts and Materials / Technical Committee on Organic Molecular Electronics |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 統計的手法を用いた微摺動機構による電気接点劣化現象解析 |
| サブタイトル（和） | いくつかの実験条件下における最小摺動振幅データを用いた統計解析 |
| タイトル（英） | By means of a statistical method an analysis of degradation phenomenon of electrical contacts using micro-sliding mechanisms |
| サブタイトル（和） | A statistical analysis using data of minimal sliding amplitudes under some conditions |
| キーワード(1)（和/英） | 電気接点 / electrical contact |
| キーワード(2)（和/英） | 接触抵抗 / contact resistance |
| キーワード(3)（和/英） | 微摺動機構 / micro-sliding mechanism |
| キーワード(4)（和/英） | 統計解析 / statistics analysis |
| キーワード(5)（和/英） | 分散分析 / analysis of variance |
| キーワード(6)（和/英） | 点推定 / point estimation |
| キーワード(7)（和/英） | 区間推定 / interval estimation |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 越田 圭治 / Keiji Koshida |
| 第 1 著者 所属（和/英） | TMCシステム株式会社(略称：TMCシステム) TMC System Co. Ltd.(略称：TMC) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 和田 真一 / Shin-ichi Wada |
| 第 2 著者 所属（和/英） | TMCシステム株式会社(略称：TMCシステム) TMC System Co. Ltd.(略称：TMC) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 久保田 洋彰 / Hiroaki Kubota |
| 第 3 著者 所属（和/英） | TMCシステム株式会社(略称：TMCシステム) TMC System Co. Ltd.(略称：TMC) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 澤 孝一郎 / Koichiro Sawa |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 日本工業大学(略称：日本工大) Nippon Institute of Technology(略称：NIT) |
| 発表年月日 | 2015-06-19 |
| 資料番号 | EMD2015-17,CPM2015-27,OME2015-30 |
| 巻番号（vol） | vol.115 |
| 号番号（no） | EMD-103,CPM-104,OME-105 |
| ページ範囲 | pp.35-40(EMD), pp.35-40(CPM), pp.35-40(OME), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2015-06-12 (EMD, CPM, OME) |