講演名 2015-05-22
非同次ガンマ過程に基づいたソフトウェア信頼性におけるノンパラメトリック推定
齋藤 靖洋(広島大), 土肥 正(広島大),
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抄録(和) 本稿では,Ishii and Dohi (2008) の非同次ガンマ過程(NHGP) に基づくソフトウェア信頼性モデルをモデル化とパラメータ推定の観点から拡張する.モデル化の枠組みでは,様々なフォールト検出パターンを特徴付ける11種類のトレンド関数を用いてNHGP モデルを一般化する.パラメータ推定の観点からは,トレンド関数の完備情報を必要としないノンパラメトリック最尤推定量を用いて,パラメトリックな最尤推定量との比較を行なう.NHGP は非同次ポアソン過程(NHPP) を特別なケースとして包括するため,NHGP モデルは通常のNHPP モデルよりも頑強であり,本稿で提案するノンパラメトリック手法は通常のパラメトリック手法よりも高いデータ適合性を持つことが示される.
抄録(英) In this paper we extend non-homogeneous gamma process (NHGP)-based software reliability models (SRMs) by Ishii and Dohi (2008) from both view points of modeling and parameter estimation. In modeling, we generalize the underlying NHGP-based SRMs to those for eleven kinds of trend function, which can characterize a variety of software fault-detection patterns. In parameter estimation, we develop a non-parametric maximum likelihood estimation method without the complete knowledge on trend functions, and compare it with the parametric maximum likelihood estimation method. Since an NHGP involves a non-homogeneous Poisson processes (NHPPs) as the simplest case, it is shown that NHGP-based SRMs are much more robust than the common NHPP-based SRMs and that our non-parametric method can improve the goodness-of- t performance of the conventional parametric one.
キーワード(和) ソフトウェア信頼性 / 非同次ガンマ過程 / トレンド関数 / ノンパラメトリック最尤推定量 / 非同次ポアソン過程
キーワード(英) Software reliability / Non-homogeneous gamma process / Trend function / Non-parametric maximum likelihood estimation / Non-homogeneous poisson process
資料番号 R2015-3
発行日 2015-05-15 (R)

研究会情報
研究会 R
開催期間 2015/5/22(から1日開催)
開催地(和) 隠岐島文化会館
開催地(英) Okinoshima-Bunka-Kaikan
テーマ(和) ソフトウェアの信頼性,信頼性一般
テーマ(英)
委員長氏名(和) 木村 光宏(法政大)
委員長氏名(英) Mitsuhiro Kimura(Hosei Univ.)
副委員長氏名(和) 馬渡 宏泰(NTT)
副委員長氏名(英) Hiroyasu Mawatari(NTT)
幹事氏名(和) 安里 彰(富士通) / 岡村 寛之(広島大)
幹事氏名(英) Akira Asato(Fujitsu) / Hiroyuki Okamura(Hiroshima Univ.)
幹事補佐氏名(和) マラット ザニケエフ(九工大) / 田村 信幸(法政大)
幹事補佐氏名(英) Maratt Zanikef(Kyushu Inst. of Tech.) / Nobuyuki Tamura(Hosei Univ.)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Technical Committee on Reliability
本文の言語 JPN
タイトル(和) 非同次ガンマ過程に基づいたソフトウェア信頼性におけるノンパラメトリック推定
サブタイトル(和)
タイトル(英) Nonparametric estimation in software reliability assessment based on non-homogeneous gamma processes
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) ソフトウェア信頼性 / Software reliability
キーワード(2)(和/英) 非同次ガンマ過程 / Non-homogeneous gamma process
キーワード(3)(和/英) トレンド関数 / Trend function
キーワード(4)(和/英) ノンパラメトリック最尤推定量 / Non-parametric maximum likelihood estimation
キーワード(5)(和/英) 非同次ポアソン過程 / Non-homogeneous poisson process
第 1 著者 氏名(和/英) 齋藤 靖洋 / Yasuhiro Saito
第 1 著者 所属(和/英) 広島大学(略称:広島大)
Hiroshima University(略称:Hiroshima Univ.)
第 2 著者 氏名(和/英) 土肥 正 / Tadashi Dohi
第 2 著者 所属(和/英) 広島大学(略称:広島大)
Hiroshima University(略称:Hiroshima Univ.)
発表年月日 2015-05-22
資料番号 R2015-3
巻番号(vol) vol.115
号番号(no) R-47
ページ範囲 pp.13-18(R),
ページ数 6
発行日 2015-05-15 (R)