講演名 | 2024-02-29 誤り検出符号と振幅分布に着目した漏えい電磁波からのビット列復元に関する基礎検討 阿部 虹稀(奈良先端大), 北澤 太基(奈良先端大), 藤本 大介(奈良先端大), 林 優一(奈良先端大), |
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抄録(和) | 符号化された情報を含む漏えい電磁波から復元されたビット列が誤りを含む場合、デコード処理において誤りが拡散し、情報の復元が困難となる。こうしたビット例の推定誤りを抑止するため、従来研究では、誤り検出符号を用いることで一定のしきい値を設け、漏えい電磁波の振幅値としきい値を比較することで、ビット列の推定誤りを抑制する手法が報告されている。一方、漏えい電磁波の伝搬過程においてノイズが重畳することで、振幅値がターゲットの信号と異なる時間変動をする場合、しきい値を用いて推定されたビット列は誤りを含む可能性がある。こうした誤りを低減するため、本稿では、ノイズの影響によって推定に誤りの生じた可能性のあるビット列を抽出し、対象となるビット列の取り得るすべてのビットパターンを探索することで、符号化された情報の復元精度を向上させる手法について検討する。 |
抄録(英) | |
キーワード(和) | 電磁的情報漏えい / 振幅分布 / 外来ノイズ / 誤り検出符号 |
キーワード(英) | |
資料番号 | VLD2023-115,HWS2023-75,ICD2023-104 |
発行日 | 2024-02-21 (VLD, HWS, ICD) |
研究会情報 | |
研究会 | VLD / HWS / ICD |
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開催期間 | 2024/2/28(から4日開催) |
開催地(和) | 沖縄県男女共同参画センター【てぃるる】会議室1・2・3 |
開催地(英) | |
テーマ(和) | システムオンシリコンを支える設計技術, ハードウェアセキュリティ, 一般 |
テーマ(英) | |
委員長氏名(和) | 中武 繁寿(北九州市大) / 鈴木 大輔(三菱電機) / 池田 誠(東大) |
委員長氏名(英) | Shigetoshi Nakatake(Univ. of Kitakyushu) / Daisuke Suzuki(Mitsubishi Electric) / Makoto Ikeda(Univ. of Tokyo) |
副委員長氏名(和) | 桜井 祐市(日立) / 林 優一(奈良先端大) / 秋下 徹(ソニーセミコンダクタソリューションズ) / 若林 準人(ソニーセミコンダクタソリューションズ) |
副委員長氏名(英) | Yuichi Sakurai(Hitachi) / Yuichi Hayashi(NAIST) / Toru Akishita(Sony Semiconductor Solutions) / Hayato Wakabayashi(Sony Semiconductor Solutions) |
幹事氏名(和) | 笹川 幸宏(ソシオネクスト) / 今井 雅(弘前大) / 山本 弘毅(ソニーセミコンダクタソリューションズ) / 坂本 純一(産総研) / 吉原 義昭(キオクシア) / 宮地 幸祐(信州大) |
幹事氏名(英) | Yukihiro Sasagawa(Socionext) / Masashi Imai(Hirosaki Univ.) / Hirotake Yamamotoi(Sony Semiconductor Solutions) / Junichi Sakamoto(AIST) / Yoshiaki Yoshihara(Kioxia) / Kosuke Miyaji(Shinshu Univ.) |
幹事補佐氏名(和) | 西元 琢真(日立) / / 白井 僚(京大) / 塩見 準(阪大) / 久保木 猛(ソニーセミコンダクタソリューションズ) |
幹事補佐氏名(英) | Takuma Nishimoto(Hitachi) / / Ryo Shirai(Kyoto Univ.) / Jun Shiomi(Osaka Univ.) / Takeshi Kuboki(Sony Semiconductor Solutions) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Technical Committee on VLSI Design Technologies / Technical Committee on Hardware Security / Technical Committee on Integrated Circuits and Devices |
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本文の言語 | JPN-ONLY |
タイトル(和) | 誤り検出符号と振幅分布に着目した漏えい電磁波からのビット列復元に関する基礎検討 |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | 電磁的情報漏えい |
キーワード(2)(和/英) | 振幅分布 |
キーワード(3)(和/英) | 外来ノイズ |
キーワード(4)(和/英) | 誤り検出符号 |
第 1 著者 氏名(和/英) | 阿部 虹稀 / Koki Abe |
第 1 著者 所属(和/英) | 奈良先端科学技術大学院大学(略称:奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology(略称:NAIST) |
第 2 著者 氏名(和/英) | 北澤 太基 / Taiki Kitazawa |
第 2 著者 所属(和/英) | 奈良先端科学技術大学院大学(略称:奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology(略称:NAIST) |
第 3 著者 氏名(和/英) | 藤本 大介 / Daisuke Fujimoto |
第 3 著者 所属(和/英) | 奈良先端科学技術大学院大学(略称:奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology(略称:NAIST) |
第 4 著者 氏名(和/英) | 林 優一 / Yuichi Hayashi |
第 4 著者 所属(和/英) | 奈良先端科学技術大学院大学(略称:奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology(略称:NAIST) |
発表年月日 | 2024-02-29 |
資料番号 | VLD2023-115,HWS2023-75,ICD2023-104 |
巻番号(vol) | vol.123 |
号番号(no) | VLD-390,HWS-391,ICD-392 |
ページ範囲 | pp.94-97(VLD), pp.94-97(HWS), pp.94-97(ICD), |
ページ数 | 4 |
発行日 | 2024-02-21 (VLD, HWS, ICD) |