講演名 2024-02-21
[招待講演]材料・デバイス局所領域の電磁場直接観察
柴田 直哉(東大),
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抄録(和) 我々のグループでは原子分解能STEMの更なる可能性を開拓することを目的として,微分位相コントラスト法(Differential Phase Contrast: DPC)による原子スケールでの電磁場分布直接観察に取り組んできた. 本講演ではDPC法の基礎と最新応用について報告する. また, 近年開発に成功した原子分解能磁場フリー電子顕微鏡についても紹介する.
抄録(英)
キーワード(和) 電子顕微鏡 / 原子構造 / 電磁場 / 界面 / デバイス
キーワード(英)
資料番号 SDM2023-84
発行日 2024-02-14 (SDM)

研究会情報
研究会 SDM
開催期間 2024/2/21(から1日開催)
開催地(和) 東京大学 本郷 工4号館
開催地(英) Tokyo University-Hongo-Engineering Bldg.4
テーマ(和) 配線・実装時術と関連材料技術
テーマ(英)
委員長氏名(和) 大見 俊一郎(東工大)
委員長氏名(英) Shunichiro Ohmi(Tokyo Inst. of Tech.)
副委員長氏名(和) 宇佐美 達矢(ラピダス)
副委員長氏名(英) Tatsuya Usami(Rapidus)
幹事氏名(和) 諏訪 智之(東北大) / 野田 泰史(パナソニック)
幹事氏名(英) Tomoyuki Suwa(Tohoku Univ.) / Taiji Noda(Panasonic)
幹事補佐氏名(和) 細井 卓治(関西学院大) / 二瀬 卓也(ウエスタンデジタル)
幹事補佐氏名(英) Takuji Hosoi(Kwansei Gakuin Univ.) / Takuya Futase(Western Digital)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Technical Committee on Silicon Device and Materials
本文の言語 JPN
タイトル(和) [招待講演]材料・デバイス局所領域の電磁場直接観察
サブタイトル(和)
タイトル(英) [Invited Talk] Direct observation of local electromagnetic field distribution in materials and devices
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 電子顕微鏡
キーワード(2)(和/英) 原子構造
キーワード(3)(和/英) 電磁場
キーワード(4)(和/英) 界面
キーワード(5)(和/英) デバイス
第 1 著者 氏名(和/英) 柴田 直哉 / Naoya Shibata
第 1 著者 所属(和/英) 東京大学(略称:東大)
The University of Tokyo(略称:UTokyo)
発表年月日 2024-02-21
資料番号 SDM2023-84
巻番号(vol) vol.123
号番号(no) SDM-385
ページ範囲 pp.16-19(SDM),
ページ数 4
発行日 2024-02-14 (SDM)