講演名 2024-02-29
[記念講演]絶縁膜ReRAMを用いる高信頼かつ製造時複製可能な有機薄膜トランジスタPUFの実現
大島 國弘(京大), 栗原 一徳(産総研), 佐藤 高史(京大),
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抄録(和) 有機薄膜トランジスタ( OTFT )はセンサ回路等における応用が期待されているが,こうしたシステムではセキュリティが重要となる.そこで本研究では高信頼な認証機能を提供する,OTFT を用いた物理複製困難関数回路( PUF )を提案する. OTFT は特性劣化が速いため,素子の特性ばらつきを利用する PUF の安定動作は困難となる.このため提案 PUF では, OTFT と同一のプロセスを用いて追加コストなく製造できる新たな抵抗変化型メモリ( ReRAM )に値を保持することにより,長期間の安定動作を目指す.また,提案 PUF では製造時に複数 PUF 間で出力応答を共有するクローナブル PUF ( CPUF )が実現できる.測定と数値実験により, OTFT 及びReRAM 動作の安定性,およびばらつき源となる SRAM 回路の出力信号のランダム性の評価により, OTFT による CPUF の動作を確認した.
抄録(英) We enhance the robustness of organic thin-?lm transistor (OTFT)-based physically unclonable functions (PUFs) against unstable output responses that originate from OTFT characteristic degradation. The proposed PUF incorporates a new resistive random access memory (ReRAM) constructed from metal-oxide thin ?lms, enabling both ReRAM and OTFT components to be simultaneously fabricated using common materials and processes. The device combinations facilitate the e?cient design of clonable PUF (CPUF) circuits with equivalent response outputs. Evaluations using measurements and simulations validate the successful operation of the CPUF.
キーワード(和) 有機薄膜トランジスタ(OTFT) / 物理複製困難関数(PUF)
キーワード(英) Organic thin-film transistor (OTFT) / Physically unclonable function (PUF)
資料番号 VLD2023-116,HWS2023-76,ICD2023-105
発行日 2024-02-21 (VLD, HWS, ICD)

研究会情報
研究会 VLD / HWS / ICD
開催期間 2024/2/28(から4日開催)
開催地(和) 沖縄県男女共同参画センター【てぃるる】会議室1・2・3
開催地(英)
テーマ(和) システムオンシリコンを支える設計技術, ハードウェアセキュリティ, 一般
テーマ(英)
委員長氏名(和) 中武 繁寿(北九州市大) / 鈴木 大輔(三菱電機) / 池田 誠(東大)
委員長氏名(英) Shigetoshi Nakatake(Univ. of Kitakyushu) / Daisuke Suzuki(Mitsubishi Electric) / Makoto Ikeda(Univ. of Tokyo)
副委員長氏名(和) 桜井 祐市(日立) / 林 優一(奈良先端大) / 秋下 徹(ソニーセミコンダクタソリューションズ) / 若林 準人(ソニーセミコンダクタソリューションズ)
副委員長氏名(英) Yuichi Sakurai(Hitachi) / Yuichi Hayashi(NAIST) / Toru Akishita(Sony Semiconductor Solutions) / Hayato Wakabayashi(Sony Semiconductor Solutions)
幹事氏名(和) 笹川 幸宏(ソシオネクスト) / 今井 雅(弘前大) / 山本 弘毅(ソニーセミコンダクタソリューションズ) / 坂本 純一(産総研) / 吉原 義昭(キオクシア) / 宮地 幸祐(信州大)
幹事氏名(英) Yukihiro Sasagawa(Socionext) / Masashi Imai(Hirosaki Univ.) / Hirotake Yamamotoi(Sony Semiconductor Solutions) / Junichi Sakamoto(AIST) / Yoshiaki Yoshihara(Kioxia) / Kosuke Miyaji(Shinshu Univ.)
幹事補佐氏名(和) 西元 琢真(日立) / / 白井 僚(京大) / 塩見 準(阪大) / 久保木 猛(ソニーセミコンダクタソリューションズ)
幹事補佐氏名(英) Takuma Nishimoto(Hitachi) / / Ryo Shirai(Kyoto Univ.) / Jun Shiomi(Osaka Univ.) / Takeshi Kuboki(Sony Semiconductor Solutions)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Technical Committee on VLSI Design Technologies / Technical Committee on Hardware Security / Technical Committee on Integrated Circuits and Devices
本文の言語 JPN
タイトル(和) [記念講演]絶縁膜ReRAMを用いる高信頼かつ製造時複製可能な有機薄膜トランジスタPUFの実現
サブタイトル(和)
タイトル(英) [Memorial Lecture] Design of Aging-Robust Clonable PUF Using an Insulator-Based ReRAM for Organic Circuits
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 有機薄膜トランジスタ(OTFT) / Organic thin-film transistor (OTFT)
キーワード(2)(和/英) 物理複製困難関数(PUF) / Physically unclonable function (PUF)
第 1 著者 氏名(和/英) 大島 國弘 / Kunihiro Oshima
第 1 著者 所属(和/英) 京都大学(略称:京大)
Kyoto University(略称:Kyoto Univ.)
第 2 著者 氏名(和/英) 栗原 一徳 / Kazunori Kuribara
第 2 著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所(略称:産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology(略称:AIST)
第 3 著者 氏名(和/英) 佐藤 高史 / Takashi Sato
第 3 著者 所属(和/英) 京都大学(略称:京大)
Kyoto University(略称:Kyoto Univ.)
発表年月日 2024-02-29
資料番号 VLD2023-116,HWS2023-76,ICD2023-105
巻番号(vol) vol.123
号番号(no) VLD-390,HWS-391,ICD-392
ページ範囲 pp.98-98(VLD), pp.98-98(HWS), pp.98-98(ICD),
ページ数 1
発行日 2024-02-21 (VLD, HWS, ICD)