| 講演名 | 2024-02-29 Deep Learning-based Lifetime Analysis of a Mission-critical System 厳 嘉文(広島大), 土肥 正(広島大), 岡村 寛之(広島大), |
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| 抄録(和) | |
| 抄録(英) | |
| キーワード(和) | |
| キーワード(英) | |
| 資料番号 | R2023-56 |
| 発行日 | 2024-02-22 (R) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | R |
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| 開催期間 | 2024/2/29(から1日開催) |
| 開催地（和） | 松江テルサ |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | 機構デバイスの信頼性、計算機システムの信頼性、信頼性一般 |
| テーマ（英） | Reliability of Electromechanical Devices, Reliability of Computer System, Reliability General |
| 委員長氏名（和） | 門田 靖(リコー) |
| 委員長氏名（英） | Yasushi Kadota(Ricoh) |
| 副委員長氏名（和） | 岡村 寛之(広島大) |
| 副委員長氏名（英） | Hiroyuki Okamura(Hiroshima Univ.) |
| 幹事氏名（和） | 作村 建紀(法政大) / 井上 真二(関西大) |
| 幹事氏名（英） | Takenori Sakumura(Hosei Univ.) / Shinji Inoue(Kansai Univ.) |
| 幹事補佐氏名（和） | 横川 慎二(電通大) / 吉川 隆英(富士通研) / 太田 修平(神奈川大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Shinji Yokogawa(Univ. of Electro-Comm.) / Takahide Yoshikawa(Fujitsu Lab.) / Shuhei Ota(Kanagawa Univ.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Reliability |
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| 本文の言語 | ENG |
| タイトル（和） | |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Deep Learning-based Lifetime Analysis of a Mission-critical System |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 厳 嘉文 / Yan Jiawen |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 広島大学(略称：広島大) Hiroshima University(略称：Hiroshima Univ.) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 土肥 正 / Tadashi Dohi |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 広島大学(略称：広島大) Hiroshima University(略称：Hiroshima Univ.) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 岡村 寛之 / Hiroyuki Okamura |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 広島大学(略称：広島大) Hiroshima University(略称：Hiroshima Univ.) |
| 発表年月日 | 2024-02-29 |
| 資料番号 | R2023-56 |
| 巻番号（vol） | vol.123 |
| 号番号（no） | R-399 |
| ページ範囲 | pp.6-11(R), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2024-02-22 (R) |