| 講演名 | 2024-02-29 ユーザの利用形態を考慮した信頼度成長モデルに基づくOSSの不具合数予測 宮本 翔一郎(山口大), 周 蕾(山口大), 田村 慶信(山口大), 山田 茂(鳥取大), |
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| 抄録(和) | |
| 抄録(英) | |
| キーワード(和) | |
| キーワード(英) | |
| 資料番号 | R2023-55 |
| 発行日 | 2024-02-22 (R) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | R |
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| 開催期間 | 2024/2/29(から1日開催) |
| 開催地（和） | 松江テルサ |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | 機構デバイスの信頼性、計算機システムの信頼性、信頼性一般 |
| テーマ（英） | Reliability of Electromechanical Devices, Reliability of Computer System, Reliability General |
| 委員長氏名（和） | 門田 靖(リコー) |
| 委員長氏名（英） | Yasushi Kadota(Ricoh) |
| 副委員長氏名（和） | 岡村 寛之(広島大) |
| 副委員長氏名（英） | Hiroyuki Okamura(Hiroshima Univ.) |
| 幹事氏名（和） | 作村 建紀(法政大) / 井上 真二(関西大) |
| 幹事氏名（英） | Takenori Sakumura(Hosei Univ.) / Shinji Inoue(Kansai Univ.) |
| 幹事補佐氏名（和） | 横川 慎二(電通大) / 吉川 隆英(富士通研) / 太田 修平(神奈川大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Shinji Yokogawa(Univ. of Electro-Comm.) / Takahide Yoshikawa(Fujitsu Lab.) / Shuhei Ota(Kanagawa Univ.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Reliability |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | ユーザの利用形態を考慮した信頼度成長モデルに基づくOSSの不具合数予測 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Estimation of the number of faults based on SRGM considering user usage patterns |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 宮本 翔一郎 / Shoichoro Miyamoto |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 山口大学大学院(略称：山口大) Yamaguchi University(略称：Yamaguchi Univ.) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 周 蕾 / Lei Zhou |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 山口大学大学院(略称：山口大) Yamaguchi University(略称：Yamaguchi Univ.) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 田村 慶信 / Yoshinobu Tamura |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 山口大学大学院(略称：山口大) Yamaguchi University(略称：Yamaguchi Univ.) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 山田 茂 / Shigeru Yamada |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 鳥取大学(略称：鳥取大) Tottori University(略称：Tottori Univ.) |
| 発表年月日 | 2024-02-29 |
| 資料番号 | R2023-55 |
| 巻番号（vol） | vol.123 |
| 号番号（no） | R-399 |
| ページ範囲 | pp.1-5(R), |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2024-02-22 (R) |