| 講演名 | 2024-02-29 電子機器固有の電磁的特性を利用した個体識別に関する基礎検討 小林 剛(三菱電機), 赤堀 美桜(三菱電機), 堀口 嵩浩(三菱電機), |
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| 抄録(和) | 電子機器の偽造が問題となっており半導体素子の製造ばらつきを利用した機器認証(PUF)や電子機器の放射ノイズを利用した機器の認証について研究が行われている．放射ノイズを利用する場合，外来ノイズや測定距離の問題で，その特徴であるノイズ特性の再現性が課題となる．この課題に対し，本発表では，初めに伝導ノイズを利用した個体識別に対する実験結果を示す．また，ノイズを用いた識別では機器を動作させる必要があり，さらに動作モードによりノイズ特性が変化する点が課題となるため，電源Off状態でも容易に取得できる機器の外部I/F端子の反射特性に着目し，これを利用した個体識別について実験結果を示す． |
| 抄録(英) | Counterfeiting of electronic devices has become a problem, and research is being conducted on device authentication (PUF) that uses the manufacturing fluctuations of semiconductor devices and device authentication that uses the radiated noise of electronic devices. When using radiated noise, the reproducibility of the behavior of noise characteristics becomes an issue due to external noise and measurement distance issues. To address this issue, this presentation first presents experimental results for individual identification using conduction noise. In addition, since identification using noise requires the device to be operated, and the problem is that the noise characteristics change depending on the operating mode, the reflection characteristics of the external I/F terminal of the device can be easily obtained even when the power is off. We focus on this and present experimental results for individual identification using this. |
| キーワード(和) | 電子機器識別 / 製造ばらつき / 電磁ノイズ / 反射特性 |
| キーワード(英) | Electronic equipment identification / manufacturing variations / electromagnetic noise / reflection characteristics |
| 資料番号 | VLD2023-114,HWS2023-74,ICD2023-103 |
| 発行日 | 2024-02-21 (VLD, HWS, ICD) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD / HWS / ICD |
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| 開催期間 | 2024/2/28(から4日開催) |
| 開催地（和） | 沖縄県男女共同参画センター【てぃるる】会議室１・２・３ |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | システムオンシリコンを支える設計技術, ハードウェアセキュリティ, 一般 |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | 中武 繁寿(北九州市大) / 鈴木 大輔(三菱電機) / 池田 誠(東大) |
| 委員長氏名（英） | Shigetoshi Nakatake(Univ. of Kitakyushu) / Daisuke Suzuki(Mitsubishi Electric) / Makoto Ikeda(Univ. of Tokyo) |
| 副委員長氏名（和） | 桜井 祐市(日立) / 林 優一(奈良先端大) / 秋下 徹(ソニーセミコンダクタソリューションズ) / 若林 準人(ソニーセミコンダクタソリューションズ) |
| 副委員長氏名（英） | Yuichi Sakurai(Hitachi) / Yuichi Hayashi(NAIST) / Toru Akishita(Sony Semiconductor Solutions) / Hayato Wakabayashi(Sony Semiconductor Solutions) |
| 幹事氏名（和） | 笹川 幸宏(ソシオネクスト) / 今井 雅(弘前大) / 山本 弘毅(ソニーセミコンダクタソリューションズ) / 坂本 純一(産総研) / 吉原 義昭(キオクシア) / 宮地 幸祐(信州大) |
| 幹事氏名（英） | Yukihiro Sasagawa(Socionext) / Masashi Imai(Hirosaki Univ.) / Hirotake Yamamotoi(Sony Semiconductor Solutions) / Junichi Sakamoto(AIST) / Yoshiaki Yoshihara(Kioxia) / Kosuke Miyaji(Shinshu Univ.) |
| 幹事補佐氏名（和） | 西元 琢真(日立) / / 白井 僚(京大) / 塩見 準(阪大) / 久保木 猛(ソニーセミコンダクタソリューションズ) |
| 幹事補佐氏名（英） | Takuma Nishimoto(Hitachi) / / Ryo Shirai(Kyoto Univ.) / Jun Shiomi(Osaka Univ.) / Takeshi Kuboki(Sony Semiconductor Solutions) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on VLSI Design Technologies / Technical Committee on Hardware Security / Technical Committee on Integrated Circuits and Devices |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 電子機器固有の電磁的特性を利用した個体識別に関する基礎検討 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Fundamental study on individual identification using electromagnetic characteristics unique to electronic devices |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 電子機器識別 / Electronic equipment identification |
| キーワード(2)（和/英） | 製造ばらつき / manufacturing variations |
| キーワード(3)（和/英） | 電磁ノイズ / electromagnetic noise |
| キーワード(4)（和/英） | 反射特性 / reflection characteristics |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 小林 剛 / Tsuyoshi Kobayashi |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 三菱電機株式会社(略称：三菱電機) Mitsubishi Electric Corporation(略称：Mitsubishi Electric) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 赤堀 美桜 / Mio Akahori |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 三菱電機株式会社(略称：三菱電機) Mitsubishi Electric Corporation(略称：Mitsubishi Electric) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 堀口 嵩浩 / Takahiro Horiguchi |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 三菱電機株式会社(略称：三菱電機) Mitsubishi Electric Corporation(略称：Mitsubishi Electric) |
| 発表年月日 | 2024-02-29 |
| 資料番号 | VLD2023-114,HWS2023-74,ICD2023-103 |
| 巻番号（vol） | vol.123 |
| 号番号（no） | VLD-390,HWS-391,ICD-392 |
| ページ範囲 | pp.89-93(VLD), pp.89-93(HWS), pp.89-93(ICD), |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2024-02-21 (VLD, HWS, ICD) |