| 講演名 | 2023-11-16 Hyperdimensional Computing向けFeFET CiMの設計とエラー耐性 松井 千尋(東大), 小林 英太郎(東大), 三澤 奈央子(東大), トープラサートポン カシディット(東大), 高木 信一(東大), 竹内 健(東大), |
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| 抄録(和) | 電圧センス型のFeFET Computation-in-Memory (CiM)を用いた，Hyperdimensional Computing (HDC)の学習および推論の高速な超並列演算を提案する．さらに，10,000次元のhypervectorを保存するFeFETセルに読み出しやデータ保持によって生じるエラーに対する演算結果のエラー耐性を示す． |
| 抄録(英) | A high-speed massively parallel operation for learning and inference in Hyperdimensional Computing (HDC) using voltage-sensing FeFET Computation-in-Memory (CiM) is proposed. Furthermore, this paper shows the error tolerance of the calculation results against errors caused by read-disturb and data-retention in FeFET cells that store 10,000-dimensional hypervectors. |
| キーワード(和) | Hyperdimensional Computing / FeFET CiM / エラー耐性 |
| キーワード(英) | Hyperdimensional Computing / FeFET CiM / Error Tolerance |
| 資料番号 | VLD2023-48,ICD2023-56,DC2023-55,RECONF2023-51 |
| 発行日 | 2023-11-08 (VLD, ICD, DC, RECONF) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD / DC / RECONF / ICD / IPSJ-SLDM |
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| 開催期間 | 2023/11/15(から3日開催) |
| 開催地（和） | くまもと市民会館シアーズホーム夢ホール |
| 開催地（英） | Civic Auditorium Sears Home Yume Hall |
| テーマ（和） | デザインガイア2023 -VLSI設計の新しい大地- |
| テーマ（英） | Design Gaia 2023 -New Field of VLSI Design- |
| 委員長氏名（和） | 中武 繁寿(北九州市大) / 土屋 達弘(阪大) / 山口 佳樹(筑波大) / 池田 誠(東大) / 越智 裕之(立命館大) |
| 委員長氏名（英） | Shigetoshi Nakatake(Univ. of Kitakyushu) / Tatsuhiro Tsuchiya(Osaka Univ.) / Yoshiki Yamaguchi(Tsukuba Univ.) / Makoto Ikeda(Univ. of Tokyo) / Hiroyuki Ochi(Ritsumeikan Univ.) |
| 副委員長氏名（和） | 桜井 祐市(日立) / 細川 利典(日大) / 井口 寧(北陸先端大) / 泉 知論(立命館大) / 若林 準人(ソニーセミコンダクタソリューションズ) |
| 副委員長氏名（英） | Yuichi Sakurai(Hitachi) / Toshinori Hosokawa(Nihon Univ.) / Yasushi Inoguchi(JAIST) / Tomonori Izumi(Ritsumeikan Univ.) / Hayato Wakabayashi(Sony Semiconductor Solutions) |
| 幹事氏名（和） | 笹川 幸宏(ソシオネクスト) / 今井 雅(弘前大) / 新井 雅之(日大) / 難波 一輝(千葉大) / 小林 悠記(NEC) / 佐藤 幸紀(豊橋技科大) / 吉原 義昭(キオクシア) / 宮地 幸祐(信州大) / 今川 隆司(明大) / 岸田 亮(富山県立大) / 田中 勇気(日立) / 五十嵐 友則(ルネサス) |
| 幹事氏名（英） | Yukihiro Sasagawa(Socionext) / Masashi Imai(Hirosaki Univ.) / Masayuki Arai(Nihon Univ.) / Kazuteru Namba(Chiba Univ.) / Yuuki Kobayashi(NEC) / Yukinori Sato(Toyohashi Univ. of Tech.) / Yoshiaki Yoshihara(Kioxia) / Kosuke Miyaji(Shinshu Univ.) / Takashi Imagawa(Meiji Univ.) / Ryo Kishida(Toyama Prefectural Univ.) / Yuki Tanaka(HITACHI) / Tomonori Igarashi(Renesas) |
| 幹事補佐氏名（和） | 西元 琢真(日立) / / 竹村 幸尚(インテル) / 長名 保範(熊本大) / 白井 僚(京大) / 塩見 準(阪大) / 久保木 猛(熊本大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Takuma Nishimoto(Hitachi) / / Yukitaka Takemura(INTEL) / Yasunori Osana(Kumamoto Univ.) / Ryo Shirai(Kyoto Univ.) / Jun Shiomi(Osaka Univ.) / Takeshi Kuboki(Kumamoto University) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on VLSI Design Technologies / Technical Committee on Dependable Computing / Technical Committee on Reconfigurable Systems / Technical Committee on Integrated Circuits and Devices / Special Interest Group on System and LSI Design Methodology |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | Hyperdimensional Computing向けFeFET CiMの設計とエラー耐性 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Design and Error-tolerance of FeFET-based CiM for Hyperdimensional Computing |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | Hyperdimensional Computing / Hyperdimensional Computing |
| キーワード(2)（和/英） | FeFET CiM / FeFET CiM |
| キーワード(3)（和/英） | エラー耐性 / Error Tolerance |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 松井 千尋 / Chihiro Matsui |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 東京大学(略称：東大) The University of Tokyo(略称：Univ. of Tokyo) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 小林 英太郎 / Eitaro Kobayashi |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 東京大学(略称：東大) The University of Tokyo(略称：Univ. of Tokyo) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 三澤 奈央子 / Naoko Misawa |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 東京大学(略称：東大) The University of Tokyo(略称：Univ. of Tokyo) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | トープラサートポン カシディット / Kasidit Toprasertpong |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 東京大学(略称：東大) The University of Tokyo(略称：Univ. of Tokyo) |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 高木 信一 / Shinichi Takagi |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 東京大学(略称：東大) The University of Tokyo(略称：Univ. of Tokyo) |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 竹内 健 / Ken Takeuchi |
| 第 6 著者 所属（和/英） | 東京大学(略称：東大) The University of Tokyo(略称：Univ. of Tokyo) |
| 発表年月日 | 2023-11-16 |
| 資料番号 | VLD2023-48,ICD2023-56,DC2023-55,RECONF2023-51 |
| 巻番号（vol） | vol.123 |
| 号番号（no） | VLD-258,ICD-259,DC-260,RECONF-261 |
| ページ範囲 | pp.99-100(VLD), pp.99-100(ICD), pp.99-100(DC), pp.99-100(RECONF), |
| ページ数 | 2 |
| 発行日 | 2023-11-08 (VLD, ICD, DC, RECONF) |