講演名 | 2023-11-15 α線照射による65nmバルクプロセスにおけるPMOS及びNMOSトランジスタのSEU感度 吉田 圭汰(京都工繊大), 中島 隆一(京都工繊大), 杉谷 昇太郎(京都工繊大), 伊藤 貴史(京都工繊大), 古田 潤(京都工繊大), 小林 和淑(京都工繊大), |
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資料番号 | VLD2023-35,ICD2023-43,DC2023-42,RECONF2023-38 |
発行日 | 2023-11-08 (VLD, ICD, DC, RECONF) |
研究会情報 | |
研究会 | VLD / DC / RECONF / ICD / IPSJ-SLDM |
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開催期間 | 2023/11/15(から3日開催) |
開催地(和) | くまもと市民会館シアーズホーム夢ホール |
開催地(英) | Civic Auditorium Sears Home Yume Hall |
テーマ(和) | デザインガイア2023 -VLSI設計の新しい大地- |
テーマ(英) | Design Gaia 2023 -New Field of VLSI Design- |
委員長氏名(和) | 中武 繁寿(北九州市大) / 土屋 達弘(阪大) / 山口 佳樹(筑波大) / 池田 誠(東大) / 越智 裕之(立命館大) |
委員長氏名(英) | Shigetoshi Nakatake(Univ. of Kitakyushu) / Tatsuhiro Tsuchiya(Osaka Univ.) / Yoshiki Yamaguchi(Tsukuba Univ.) / Makoto Ikeda(Univ. of Tokyo) / Hiroyuki Ochi(Ritsumeikan Univ.) |
副委員長氏名(和) | 桜井 祐市(日立) / 細川 利典(日大) / 井口 寧(北陸先端大) / 泉 知論(立命館大) / 若林 準人(ソニーセミコンダクタソリューションズ) |
副委員長氏名(英) | Yuichi Sakurai(Hitachi) / Toshinori Hosokawa(Nihon Univ.) / Yasushi Inoguchi(JAIST) / Tomonori Izumi(Ritsumeikan Univ.) / Hayato Wakabayashi(Sony Semiconductor Solutions) |
幹事氏名(和) | 笹川 幸宏(ソシオネクスト) / 今井 雅(弘前大) / 新井 雅之(日大) / 難波 一輝(千葉大) / 小林 悠記(NEC) / 佐藤 幸紀(豊橋技科大) / 吉原 義昭(キオクシア) / 宮地 幸祐(信州大) / 今川 隆司(明大) / 岸田 亮(富山県立大) / 田中 勇気(日立) / 五十嵐 友則(ルネサス) |
幹事氏名(英) | Yukihiro Sasagawa(Socionext) / Masashi Imai(Hirosaki Univ.) / Masayuki Arai(Nihon Univ.) / Kazuteru Namba(Chiba Univ.) / Yuuki Kobayashi(NEC) / Yukinori Sato(Toyohashi Univ. of Tech.) / Yoshiaki Yoshihara(Kioxia) / Kosuke Miyaji(Shinshu Univ.) / Takashi Imagawa(Meiji Univ.) / Ryo Kishida(Toyama Prefectural Univ.) / Yuki Tanaka(HITACHI) / Tomonori Igarashi(Renesas) |
幹事補佐氏名(和) | 西元 琢真(日立) / / 竹村 幸尚(インテル) / 長名 保範(熊本大) / 白井 僚(京大) / 塩見 準(阪大) / 久保木 猛(熊本大) |
幹事補佐氏名(英) | Takuma Nishimoto(Hitachi) / / Yukitaka Takemura(INTEL) / Yasunori Osana(Kumamoto Univ.) / Ryo Shirai(Kyoto Univ.) / Jun Shiomi(Osaka Univ.) / Takeshi Kuboki(Kumamoto University) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Technical Committee on VLSI Design Technologies / Technical Committee on Dependable Computing / Technical Committee on Reconfigurable Systems / Technical Committee on Integrated Circuits and Devices / Special Interest Group on System and LSI Design Methodology |
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本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | α線照射による65nmバルクプロセスにおけるPMOS及びNMOSトランジスタのSEU感度 |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | Evaluation of SEU Sensitivity by Alpha-Particle on PMOS and NMOS Transistors in a 65 nm bulk Process |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | |
第 1 著者 氏名(和/英) | 吉田 圭汰 / Keita Yoshida |
第 1 著者 所属(和/英) | 京都工芸繊維大学(略称:京都工繊大) Kyoto Institute of Technology(略称:KIT) |
第 2 著者 氏名(和/英) | 中島 隆一 / Ryuichi Nakajima |
第 2 著者 所属(和/英) | 京都工芸繊維大学(略称:京都工繊大) Kyoto Institute of Technology(略称:KIT) |
第 3 著者 氏名(和/英) | 杉谷 昇太郎 / Shotaro Sugitani |
第 3 著者 所属(和/英) | 京都工芸繊維大学(略称:京都工繊大) Kyoto Institute of Technology(略称:KIT) |
第 4 著者 氏名(和/英) | 伊藤 貴史 / Takafumi Ito |
第 4 著者 所属(和/英) | 京都工芸繊維大学(略称:京都工繊大) Kyoto Institute of Technology(略称:KIT) |
第 5 著者 氏名(和/英) | 古田 潤 / Jun Furuta |
第 5 著者 所属(和/英) | 京都工芸繊維大学(略称:京都工繊大) Kyoto Institute of Technology(略称:KIT) |
第 6 著者 氏名(和/英) | 小林 和淑 / Kazutoshi Kobayashi |
第 6 著者 所属(和/英) | 京都工芸繊維大学(略称:京都工繊大) Kyoto Institute of Technology(略称:KIT) |
発表年月日 | 2023-11-15 |
資料番号 | VLD2023-35,ICD2023-43,DC2023-42,RECONF2023-38 |
巻番号(vol) | vol.123 |
号番号(no) | VLD-258,ICD-259,DC-260,RECONF-261 |
ページ範囲 | pp.31-36(VLD), pp.31-36(ICD), pp.31-36(DC), pp.31-36(RECONF), |
ページ数 | 6 |
発行日 | 2023-11-08 (VLD, ICD, DC, RECONF) |