講演名 2023-11-16
切り捨てビットを考慮する近似乗算器用BIST回路の面積削減について
赤松 大地(徳島大), 東海 翔午(徳島大), 四柳 浩之(徳島大), 橋爪 正樹(徳島大),
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抄録(和) 近年,演算誤差を許容できるアプリケーションにおいて消費電力や回路面積を抑えるために近似演算が注目されている.乗算器に対する近似手法として,乗数と被乗数の桁数に基づいて下位ビットを切り捨てる手法が提案されている.本研究では近似乗算器用のテスト容易化設計として,切り捨て対象ビットを考慮し,組込み自己テスト(BIST)で用いるテストパターン生成回路(PRPG)を小さくする手法を提案する.提案回路ではテストパターンを切り捨て条件に応じて均等に生成することで,PRPGの面積オーバーヘッドを最大42%削減するとともに故障検出率も向上されることを確認した.
抄録(英) Recently, approximate computing has attracted attention as a method to reduce power and area for error-tolerant applications with an acceptable loss of accuracy. As an approximation method for multipliers, truncation of lower bits based on the number of significant digits of the multiplier and the multiplicand has been proposed. In this study, we propose a method to reduce the size of the test pattern generation circuit (PRPG) used in built-in self-test (BIST) by considering the bits to be truncated as a testability design for approximate multipliers. Since our method provides test patterns evenly for each truncation condition using a smaller PRPG, we confirmed that the proposed method can reduce the area overhead of PRPG by up to approximately 42% and also achieve higher test coverage.
キーワード(和) BIST / 近似演算 / 乗算器 / テストコスト削減
キーワード(英) BIST / approximate computing / multiplier / test cost reduction
資料番号 VLD2023-60,ICD2023-68,DC2023-67,RECONF2023-63
発行日 2023-11-08 (VLD, ICD, DC, RECONF)

研究会情報
研究会 VLD / DC / RECONF / ICD / IPSJ-SLDM
開催期間 2023/11/15(から3日開催)
開催地(和) くまもと市民会館シアーズホーム夢ホール
開催地(英) Civic Auditorium Sears Home Yume Hall
テーマ(和) デザインガイア2023 -VLSI設計の新しい大地-
テーマ(英) Design Gaia 2023 -New Field of VLSI Design-
委員長氏名(和) 中武 繁寿(北九州市大) / 土屋 達弘(阪大) / 山口 佳樹(筑波大) / 池田 誠(東大) / 越智 裕之(立命館大)
委員長氏名(英) Shigetoshi Nakatake(Univ. of Kitakyushu) / Tatsuhiro Tsuchiya(Osaka Univ.) / Yoshiki Yamaguchi(Tsukuba Univ.) / Makoto Ikeda(Univ. of Tokyo) / Hiroyuki Ochi(Ritsumeikan Univ.)
副委員長氏名(和) 桜井 祐市(日立) / 細川 利典(日大) / 井口 寧(北陸先端大) / 泉 知論(立命館大) / 若林 準人(ソニーセミコンダクタソリューションズ)
副委員長氏名(英) Yuichi Sakurai(Hitachi) / Toshinori Hosokawa(Nihon Univ.) / Yasushi Inoguchi(JAIST) / Tomonori Izumi(Ritsumeikan Univ.) / Hayato Wakabayashi(Sony Semiconductor Solutions)
幹事氏名(和) 笹川 幸宏(ソシオネクスト) / 今井 雅(弘前大) / 新井 雅之(日大) / 難波 一輝(千葉大) / 小林 悠記(NEC) / 佐藤 幸紀(豊橋技科大) / 吉原 義昭(キオクシア) / 宮地 幸祐(信州大) / 今川 隆司(明大) / 岸田 亮(富山県立大) / 田中 勇気(日立) / 五十嵐 友則(ルネサス)
幹事氏名(英) Yukihiro Sasagawa(Socionext) / Masashi Imai(Hirosaki Univ.) / Masayuki Arai(Nihon Univ.) / Kazuteru Namba(Chiba Univ.) / Yuuki Kobayashi(NEC) / Yukinori Sato(Toyohashi Univ. of Tech.) / Yoshiaki Yoshihara(Kioxia) / Kosuke Miyaji(Shinshu Univ.) / Takashi Imagawa(Meiji Univ.) / Ryo Kishida(Toyama Prefectural Univ.) / Yuki Tanaka(HITACHI) / Tomonori Igarashi(Renesas)
幹事補佐氏名(和) 西元 琢真(日立) / / 竹村 幸尚(インテル) / 長名 保範(熊本大) / 白井 僚(京大) / 塩見 準(阪大) / 久保木 猛(熊本大)
幹事補佐氏名(英) Takuma Nishimoto(Hitachi) / / Yukitaka Takemura(INTEL) / Yasunori Osana(Kumamoto Univ.) / Ryo Shirai(Kyoto Univ.) / Jun Shiomi(Osaka Univ.) / Takeshi Kuboki(Kumamoto University)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Technical Committee on VLSI Design Technologies / Technical Committee on Dependable Computing / Technical Committee on Reconfigurable Systems / Technical Committee on Integrated Circuits and Devices / Special Interest Group on System and LSI Design Methodology
本文の言語 JPN
タイトル(和) 切り捨てビットを考慮する近似乗算器用BIST回路の面積削減について
サブタイトル(和)
タイトル(英) On Reducing Area Overhead of BIST for Approximate Multiplier Considering Truncated Bits
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) BIST / BIST
キーワード(2)(和/英) 近似演算 / approximate computing
キーワード(3)(和/英) 乗算器 / multiplier
キーワード(4)(和/英) テストコスト削減 / test cost reduction
第 1 著者 氏名(和/英) 赤松 大地 / Daichi Akamatsu
第 1 著者 所属(和/英) 徳島大学(略称:徳島大)
Tokushima University(略称:Tokushima Univ.)
第 2 著者 氏名(和/英) 東海 翔午 / Shougo Tokai
第 2 著者 所属(和/英) 徳島大学(略称:徳島大)
Tokushima University(略称:Tokushima Univ.)
第 3 著者 氏名(和/英) 四柳 浩之 / Hiroyuki Yotsuyanagi
第 3 著者 所属(和/英) 徳島大学(略称:徳島大)
Tokushima University(略称:Tokushima Univ.)
第 4 著者 氏名(和/英) 橋爪 正樹 / Masaki Hashizume
第 4 著者 所属(和/英) 徳島大学(略称:徳島大)
Tokushima University(略称:Tokushima Univ.)
発表年月日 2023-11-16
資料番号 VLD2023-60,ICD2023-68,DC2023-67,RECONF2023-63
巻番号(vol) vol.123
号番号(no) VLD-258,ICD-259,DC-260,RECONF-261
ページ範囲 pp.156-161(VLD), pp.156-161(ICD), pp.156-161(DC), pp.156-161(RECONF),
ページ数 6
発行日 2023-11-08 (VLD, ICD, DC, RECONF)