講演名 2023-10-20
EOS保護機能を備えたプリント基板パターンの改良とその特性評価
堀江 風我(東京理科大), 吉田 孝博(東京理科大),
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抄録(和) 静電気放電や落雷による高電圧で生ずる機器の誤動作や故障を防ぐため,電気的オーバーストレス対策が必要である.そのため先行研究では,プリント基板上の線路間に菱形の導体を配置し,高電圧印加時に線路間が放電により導通する保護機能パターンを提案し,ギャップ距離や配置位置,配置数などの検討を行った.本研究では,この保護機能パターンの低動作電圧化と高安定動作化を目指し,形状の改良を行った.その結果,パターンの面積を減らしたパターンは,従来手法と比較して0.2kV低い電圧から動作し,より高い頻度で機能することが確認できた.また,50Ω整合された基板により保護機能パターンの挿入損失を測定した結果,100kHz〜1GHzにおいて最大0.6dB程度の小さな減衰であることも確認できた.
抄録(英) Electrical overstress protection is necessary for electric equipment to prevent malfunctions and failures caused by high voltage due to electrostatic discharge or lightning surge. Previous research proposed a functional printed pattern for the EOS protection. The pattern was diamond-shaped conductors placed between the lines on a printed circuit board. When the EOS is applied, the pattern makes to conduct between the lines by electrostatic discharge. Factors such as the pattern’s gap distance, position, and quantity have also been researched. In this study, we improve the shape of the pattern to lower the operating voltage and improve the stability of the pattern. As a result, the proposed pattern with reduced area achieved the operation voltage of 1.3 kV, 200 V lower than the previous pattern. In addition, the proposed pattern can operate more stable than the previous pattern. Furthermore, it was confirmed that the of insertion loss of the proposed pattern measured using a 50 Ω matched print circuit board was small, less than approximately 0.6 dB at frequencies from 100 kHz to 1 GHz.
キーワード(和) 電気的オーバーストレス / 静電気放電 / 保護機能プリントパターン
キーワード(英) Electric Over Stress(EOS) / Electric discharge(ESD) / Protection functional printed pattern
資料番号 EMCJ2023-49,MW2023-103,EST2023-76
発行日 2023-10-12 (EMCJ, MW, EST)

研究会情報
研究会 MW / EMCJ / EST / IEE-EMC
開催期間 2023/10/19(から2日開催)
開催地(和) 山形大学(米沢市)
開催地(英) Yamagata University
テーマ(和) マイクロ波/電磁界シミュレーション/EMC一般
テーマ(英) Microwave, EM simulation, EMC, etc.
委員長氏名(和) 大久保 賢祐(岡山県立大) / 田島 公博(NTT-AT) / 君島 正幸(アドバンテスト研)
委員長氏名(英) Kensuke Okubo(Okayama Prefectural Univ.) / Kimihiro Tajima(NTT-AT) / Masayuki Kimishima(Advantest)
副委員長氏名(和) 真田 篤志(阪大) / 平井 暁人(三菱電機) / 豊田 啓孝(岡山大) / 阪本 卓也(京大) / 辻 寧英(室蘭工大) / 大寺 康夫(富山県立大学)
副委員長氏名(英) Atsushi Sanada(Osaka Univ.) / Akihito Hirai(Mitsubishi Electric) / Yoshitaka Toyota(Okayama Univ.) / Takuya Sakamoto(Kyoto Univ.) / Yasuhide Tsuji(Muroran Inst. of Tech.) / Yasuo Ohtera(Toyama Prefectural Univ.)
幹事氏名(和) 石川 亮(電通大) / 今井 翔平(村田製作所) / 日景 隆(北大) / 末永 寛(パナソニック) / 坂木 啓司(構造計画研究所) / 安藤 芳晃(電通大)
幹事氏名(英) Ryo Ishikawa(Univ. of Electro-Comm) / Shohei Imai(Murata Manufacturing) / Takashi Hikage(Hokkaido Univ.) / Hiroshi Suenaga(Panasonic) / Keiji Sakaki(Kozo Keikaku Engineering) / Yoshiaki Ando(Univ. of Electro-Comm)
幹事補佐氏名(和) 古市 朋之(東北大) / 片山 光亮(徳山高専) / 緒方 健二(直鞍情報・産業振興協会) / 西本 太樹(パナソニック インダストリー) / 關根 惟敏(静岡大) / 柳田 朋則(アドバンテスト研究所) / 井口 亜希人(室蘭工大)
幹事補佐氏名(英) Tomoyuki Furuichi(Tohoku Univ.) / Kosuke Katayama(NIT Tokuyama College) / Kenji Ogata(ADOX) / Taiki Nishimoto(Panasonic Industry) / Tadatoshi Sekine(Shizuoka Univ.) / Tomonori Yanagida(Advantest) / Akito Iguchi(Muroran Inst. of Tech)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Technical Committee on Microwaves / Technical Committee on Electromagnetic Compatibility / Technical Committee on Electronics Simulation Technology / Technical Meeting on Electromagnetic Compatibility
本文の言語 JPN
タイトル(和) EOS保護機能を備えたプリント基板パターンの改良とその特性評価
サブタイトル(和)
タイトル(英) Improvement of Functional Printed Patterns for Electric Over Stress Protection and its Performance Evaluation
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 電気的オーバーストレス / Electric Over Stress(EOS)
キーワード(2)(和/英) 静電気放電 / Electric discharge(ESD)
キーワード(3)(和/英) 保護機能プリントパターン / Protection functional printed pattern
第 1 著者 氏名(和/英) 堀江 風我 / Fuga Horie
第 1 著者 所属(和/英) 東京理科大学(略称:東京理科大)
Tokyo University of Science(略称:TUS)
第 2 著者 氏名(和/英) 吉田 孝博 / Takahiro Yoshida
第 2 著者 所属(和/英) 東京理科大学(略称:東京理科大)
Tokyo University of Science(略称:TUS)
発表年月日 2023-10-20
資料番号 EMCJ2023-49,MW2023-103,EST2023-76
巻番号(vol) vol.123
号番号(no) EMCJ-215,MW-216,EST-217
ページ範囲 pp.72-76(EMCJ), pp.72-76(MW), pp.72-76(EST),
ページ数 5
発行日 2023-10-12 (EMCJ, MW, EST)