| 講演名 | 2023-07-06 転移学習を用いた自己符号化器による逐次見逃し故障LSI検出 髙谷 彩乃(京都工繊大), 新谷 道広(京都工繊大), |
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| 抄録(和) | 近年，深層学習に代表される機械学習を用いた見逃し故障検出は，従来のテスト手法では検出できなかった集積回路（Large-Scale Integrated circuit, LSI）の不良品検出手法として注目を集めている．これらの手法の多くは，LSI テストの結果から大量のデータを学習してモデルを作成し，製造 LSI のテストを行う．しかし，LSI の製造はロット管理されておりテストデータは逐次的に送られるため，新しいデータが送られる度に最初から学習を行う必要があり，学習時間が長くなる課題がある．本研究では，学習済みのモデルを維持し再利用することで新しいデータを学習できる転移学習を利用した見逃し故障検出テスト手法を提案し，テスト精度を維持したまま学習時間の短縮を図る．量産 LSI のテストデータを用いた評価では，既存手法と比べて精度を損なわずに学習時間を 40.40%以上短縮できることを示す． |
| 抄録(英) | Machine-learning-based test escape detection is gaining attention as a novel approach for detecting faulty large-scale integrated circuits (LSIs) that traditional methods fail to detect. In such scenarios, a model is developed by learning a significant amount of data from the LSI test results and used to test the manufactured LSIs.However, because manufactured LSIs are subject to lot management, the data used for learning are transmitted sequentially, necessitating restarting the learning process from the beginning at each manufacturing stage when new data arrive, leading to prolonged learning times. In this study, we propose a novel test escape detection method utilizing a transfer learning technique that reduces learning times while preserving test accuracy by learning the data of newly manufactured LSIs while maintaining the previously learned model. Evaluations utilizing the LSI production test data indicated that the proposed method can decrease the learning time by more than 40.40% without compromising the test accuracy. |
| キーワード(和) | ニューラルネットワーク / 見逃し故障 / 転移学習 / 逐次学習 |
| キーワード(英) | Neural network / Test escape detection / Transfer learning / Incremental learning |
| 資料番号 | CAS2023-4,VLD2023-4,SIP2023-20,MSS2023-4 |
| 発行日 | 2023-06-29 (CAS, VLD, SIP, MSS) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | MSS / CAS / SIP / VLD |
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| 開催期間 | 2023/7/6(から2日開催) |
| 開催地（和） | 小樽商科大学 3号館 102教室 |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | システムと信号処理および一般 |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | 山口 真悟(山口大) / 相原 康敏(オムニビジョン) / 仲地 孝之(琉球大) / 中武 繁寿(北九州市大) |
| 委員長氏名（英） | Shingo Yamaguchi(Yamaguchi Univ.) / Yasutoshi Aibara(OmniVision) / Takayuki Nakachi(Ryukyu Univ.) / Shigetoshi Nakatake(Univ. of Kitakyushu) |
| 副委員長氏名（和） | 宮本 俊幸(阪工大) / 篠宮 紀彦(創価大) / 市毛 弘一(横浜国大) / 西川 清史(都立大) / 桜井 祐市(日立) |
| 副委員長氏名（英） | Toshiyuki Miyamoto(Osaka Inst. of Tech.) / Norihiko Shinomiya(Soka Univ.) / Koichi Ichige(Yokohama National Univ.) / Kiyoshi Nishikawa(okyo Metropolitan Univ.) / Yuichi Sakurai(Hitachi) |
| 幹事氏名（和） | 林 直樹(阪大) / 劉 健全(NEC) / 笠松 大佑(創価大) / 鈴木 寛人(ルネサスエレクトロニクス) / 今泉 祥子(千葉大) / 京地 清介(工学院大) / 笹川 幸宏(ソシオネクスト) / 今井 雅(弘前大) |
| 幹事氏名（英） | Naoki Hayashi(Osaka Univ.) / Jianquan Liui(NEC) / Daisuke Kasamatsu(Soka Univ.) / Hiroto Suzuki(Renesas Electronics) / Shoko Imaizumi(Chiba Univ.) / Seisuke Kyochi(Kogakuin Univ.) / Yukihiro Sasagawa(Socionext) / Masashi Imai(Hirosaki Univ.) |
| 幹事補佐氏名（和） | 白井 匡人(島根大) / 伊藤 尚(富山高専) / 山口 基(テクノプロ) / 下田 真二(ソニーセミコンダクタソリューションズ) / 越田 俊介(八戸工大) / 吉田 太一(電通大) / 塩田 さやか(都立大) / 西元 琢真(日立) |
| 幹事補佐氏名（英） | Masato Shirai(Shimane Univ.) / Nao Ito(NIT, Toyama college) / Motoi Yamaguchi(TECHNOPRO) / Shinji Shimoda(Sony Semiconductor Solutions) / Shunsuke Koshita(Hachinohe Inst. of Tech.) / Taichi Yoshida(UEC) / Sayaka Shiota(Tokyo Metropolitan Univ.) / Takuma Nishimoto(Hitachi) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Mathematical Systems Science and its Applications / Technical Committee on Circuits and Systems / Technical Committee on Signal Processing / Technical Committee on VLSI Design Technologies |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 転移学習を用いた自己符号化器による逐次見逃し故障LSI検出 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Autoencoder Based Incremental LSI Test Escape Detection Using Transfer Learning |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | ニューラルネットワーク / Neural network |
| キーワード(2)（和/英） | 見逃し故障 / Test escape detection |
| キーワード(3)（和/英） | 転移学習 / Transfer learning |
| キーワード(4)（和/英） | 逐次学習 / Incremental learning |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 髙谷 彩乃 / Ayano Takaya |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 京都工芸繊維大学(略称：京都工繊大) Kyoto Institute of Technology(略称：KIT) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 新谷 道広 / Michihiro Shintani |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 京都工芸繊維大学(略称：京都工繊大) Kyoto Institute of Technology(略称：KIT) |
| 発表年月日 | 2023-07-06 |
| 資料番号 | CAS2023-4,VLD2023-4,SIP2023-20,MSS2023-4 |
| 巻番号（vol） | vol.123 |
| 号番号（no） | CAS-97,VLD-98,SIP-99,MSS-100 |
| ページ範囲 | pp.16-21(CAS), pp.16-21(VLD), pp.16-21(SIP), pp.16-21(MSS), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2023-06-29 (CAS, VLD, SIP, MSS) |