| 講演名 | 2023-08-03 ソフトエラー耐性を持つ不揮発性フリップフロップの設計 高橋 尚悟(千葉大), 難波 一輝(千葉大), |
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| 抄録(和) | 近年，VLSIは微細化，高集積化，電源電圧の低下に伴ってソフトエラーの発生率が増加している．フトエラーとはα粒子や中性子などの高エネルギー粒子が回路に衝突することが原因となって発生する一時的なエラーのことを指す．近年の研究ではVLSIの微細化に伴い，複数ノードで発生するソフトエラーに耐性を持つラッチの提案が行われている．本論文では，バッテリー駆動デバイスの消費電力を削減するために研究されている不揮発性FF回路について，ソフトエラー耐性を持つ構造であるDICE構造を用いてソフトエラー耐性を持たせた回路を提案する． |
| 抄録(英) | In recent years，the incidence of soft errors in VLSI has been increasing due to miniaturization，higher integration，and lower supply voltages．Soft errors are temporary errors caused by the impact of high-energy particles such as alpha particles and neutrons on circuits．Recent studies have proposed latches that are tolerant to soft errors occurring at multiple nodes as VLSI scaling continues．In this paper，we propose a soft-error tolerant circuit using the DICE structure，which is a soft-error tolerant structure，for non-volatile flip-flops that have been studied to reduce the power consumption of battery-powered devices. |
| キーワード(和) | ソフトエラー / 不揮発性フリップフロップ / DICE(Dual Interlocked Storage Cell) |
| キーワード(英) | soft error / non-volatile flip-flops / DICE(Dual Interlocked Storage Cell) |
| 資料番号 | CPSY2023-13,DC2023-13 |
| 発行日 | 2023-07-26 (CPSY, DC) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | CPSY / DC / IPSJ-ARC |
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| 開催期間 | 2023/8/2(から3日開催) |
| 開催地（和） | 函館アリーナ |
| 開催地（英） | Hakodate Arena |
| テーマ（和） | SWoPP2023: 並列／分散／協調システムとディペンダブルコンピューティングおよび一般 |
| テーマ（英） | SWoPP2023: Parallel, Distributed and Cooperative Processing Systems and Dependable Computing |
| 委員長氏名（和） | 中島 耕太(富士通研) / 土屋 達弘(阪大) / 井上 弘士(九大) |
| 委員長氏名（英） | Kota Nakajima(Fujitsu Lab.) / Tatsuhiro Tsuchiya(Osaka Univ.) / Hiroshi Inoue(Kyushu Univ.) |
| 副委員長氏名（和） | 井口 寧(北陸先端大) / 津邑 公暁(名工大) / 細川 利典(日大) |
| 副委員長氏名（英） | Yasushi Inoguchi(JAIST) / Tomoaki Tsumura(Nagoya Inst. of Tech.) / Toshinori Hosokawa(Nihon Univ.) |
| 幹事氏名（和） | 小林 諒平(筑波大) / 小川 周吾(日立) / 新井 雅之(日大) / 難波 一輝(千葉大) / 近藤 正章(東大) / 塩谷 亮太(名大) / 田中 美帆(富士通研) / 長谷川 揚平(東芝メモリ) |
| 幹事氏名（英） | Ryohei Kobayashi(Univ. of Tsukuba) / Shugo Ogawa(Hitachi) / Masayuki Arai(Nihon Univ.) / Kazuteru Namba(Chiba Univ.) / Masaaki Kondo(Univ. of Tokyo) / Ryota Shioya(Nagoya Univ.) / Miho Tanaka(Fujitsu Labs.) / Yohei Hasegawa(Toshiba Memory) |
| 幹事補佐氏名（和） | 坂本 龍一(東工大) / 本田 巧(富士通) |
| 幹事補佐氏名（英） | Ryuichi Sakamoto(Tokyo Inst. of Tech.) / Takumi Honda(Fujitsu) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Computer Systems / Technical Committee on Dependable Computing / Special Interest Group on System Architecture |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | ソフトエラー耐性を持つ不揮発性フリップフロップの設計 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Design of soft-error tolerant non-volatile flip-flops |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | ソフトエラー / soft error |
| キーワード(2)（和/英） | 不揮発性フリップフロップ / non-volatile flip-flops |
| キーワード(3)（和/英） | DICE(Dual Interlocked Storage Cell) / DICE(Dual Interlocked Storage Cell) |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 高橋 尚悟 / Shogo Takahashi |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 千葉大学(略称：千葉大) Chiba University(略称：Chiba Univ.) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 難波 一輝 / Kazuteru Namba |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 千葉大学(略称：千葉大) Chiba University(略称：Chiba Univ.) |
| 発表年月日 | 2023-08-03 |
| 資料番号 | CPSY2023-13,DC2023-13 |
| 巻番号（vol） | vol.123 |
| 号番号（no） | CPSY-145,DC-146 |
| ページ範囲 | pp.31-36(CPSY), pp.31-36(DC), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2023-07-26 (CPSY, DC) |