講演名 2023-07-06
LC/CL整合回路における寄生素子の影響
田中 聡(広島大), 吉田 毅(広島大), 藤島 実(広島大),
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抄録(和) L型LC/CL整合回路は,解析解が容易に得られ,多くの高周波回路に応用されている.実際に回路を構成する際には,インダクタや容量に寄生素子が付加される.そのため,各L,C素子には自己共振周波数が存在し,整合回路の特性に影響を与える.本報告では,寄生素子としてインダクタへの並列寄生容量と容量への直列寄生インダクタを取り上げ,各素子の自己共振周波数がS11,電圧定在波比(VSWR),S21特性に与える影響の詳細を報告する.寄生素子を加えた場合,基本的には自己共振周波数の低下とともに各特性は劣化する傾向にある.しかし,興味深い特徴として,インダクタ,容量に関わらず,共振周波数の組み合わせによってVSWRや通過帯域特性が決定されることが分かった.
抄録(英) L-type LC/CL matching circuits are well known for their simple analytical solutions, and have been applied to many radio frequency (RF) circuits. When actually constructing a circuit, parasitic elements are added to inductors and capacitors. Therefore, each L and C element has a self-resonant frequency, which affects the characteristics of the matching circuit. In this paper, the parallel parasitic capacitance to the inductor and the series parasitic inductor to the capacitance are taken up as parasitic elements, and the details of the effects of the self-resonant frequency of each element on the S11, voltage standing wave ratio (VSWR) and S21 characteristics are reported. When a parasitic element is added, each characteristic basically tends to deteriorate as the self-resonant frequency decreases. However, as an interesting feature, we found that the combination of resonant frequencies determines the VSWR and passband characteristics, regardless of whether it is the inductor or the capacitor.
キーワード(和) 整合回路 / 寄生素子 / 解析解 / LC/CL
キーワード(英) Matching circuit / Parasitic element / Analytical solution / LC/CL
資料番号 CAS2023-11,VLD2023-11,SIP2023-27,MSS2023-11
発行日 2023-06-29 (CAS, VLD, SIP, MSS)

研究会情報
研究会 MSS / CAS / SIP / VLD
開催期間 2023/7/6(から2日開催)
開催地(和) 小樽商科大学 3号館 102教室
開催地(英)
テーマ(和) システムと信号処理および一般
テーマ(英)
委員長氏名(和) 山口 真悟(山口大) / 相原 康敏(オムニビジョン) / 仲地 孝之(琉球大) / 中武 繁寿(北九州市大)
委員長氏名(英) Shingo Yamaguchi(Yamaguchi Univ.) / Yasutoshi Aibara(OmniVision) / Takayuki Nakachi(Ryukyu Univ.) / Shigetoshi Nakatake(Univ. of Kitakyushu)
副委員長氏名(和) 宮本 俊幸(阪工大) / 篠宮 紀彦(創価大) / 市毛 弘一(横浜国大) / 西川 清史(都立大) / 桜井 祐市(日立)
副委員長氏名(英) Toshiyuki Miyamoto(Osaka Inst. of Tech.) / Norihiko Shinomiya(Soka Univ.) / Koichi Ichige(Yokohama National Univ.) / Kiyoshi Nishikawa(okyo Metropolitan Univ.) / Yuichi Sakurai(Hitachi)
幹事氏名(和) 林 直樹(阪大) / 劉 健全(NEC) / 笠松 大佑(創価大) / 鈴木 寛人(ルネサスエレクトロニクス) / 今泉 祥子(千葉大) / 京地 清介(工学院大) / 笹川 幸宏(ソシオネクスト) / 今井 雅(弘前大)
幹事氏名(英) Naoki Hayashi(Osaka Univ.) / Jianquan Liui(NEC) / Daisuke Kasamatsu(Soka Univ.) / Hiroto Suzuki(Renesas Electronics) / Shoko Imaizumi(Chiba Univ.) / Seisuke Kyochi(Kogakuin Univ.) / Yukihiro Sasagawa(Socionext) / Masashi Imai(Hirosaki Univ.)
幹事補佐氏名(和) 白井 匡人(島根大) / 伊藤 尚(富山高専) / 山口 基(テクノプロ) / 下田 真二(ソニーセミコンダクタソリューションズ) / 越田 俊介(八戸工大) / 吉田 太一(電通大) / 塩田 さやか(都立大) / 西元 琢真(日立)
幹事補佐氏名(英) Masato Shirai(Shimane Univ.) / Nao Ito(NIT, Toyama college) / Motoi Yamaguchi(TECHNOPRO) / Shinji Shimoda(Sony Semiconductor Solutions) / Shunsuke Koshita(Hachinohe Inst. of Tech.) / Taichi Yoshida(UEC) / Sayaka Shiota(Tokyo Metropolitan Univ.) / Takuma Nishimoto(Hitachi)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Technical Committee on Mathematical Systems Science and its Applications / Technical Committee on Circuits and Systems / Technical Committee on Signal Processing / Technical Committee on VLSI Design Technologies
本文の言語 JPN
タイトル(和) LC/CL整合回路における寄生素子の影響
サブタイトル(和)
タイトル(英) Effects of Parasitic Elements on LC/CL Matching Circuits
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 整合回路 / Matching circuit
キーワード(2)(和/英) 寄生素子 / Parasitic element
キーワード(3)(和/英) 解析解 / Analytical solution
キーワード(4)(和/英) LC/CL / LC/CL
第 1 著者 氏名(和/英) 田中 聡 / Satoshi Tanaka
第 1 著者 所属(和/英) 広島大学(略称:広島大)
Hiroshima University(略称:Hiroshima Univ.)
第 2 著者 氏名(和/英) 吉田 毅 / Takeshi Yoshida
第 2 著者 所属(和/英) 広島大学(略称:広島大)
Hiroshima University(略称:Hiroshima Univ.)
第 3 著者 氏名(和/英) 藤島 実 / Minoru Fujishima
第 3 著者 所属(和/英) 広島大学(略称:広島大)
Hiroshima University(略称:Hiroshima Univ.)
発表年月日 2023-07-06
資料番号 CAS2023-11,VLD2023-11,SIP2023-27,MSS2023-11
巻番号(vol) vol.123
号番号(no) CAS-97,VLD-98,SIP-99,MSS-100
ページ範囲 pp.53-58(CAS), pp.53-58(VLD), pp.53-58(SIP), pp.53-58(MSS),
ページ数 6
発行日 2023-06-29 (CAS, VLD, SIP, MSS)