| 講演名 | 2023-07-21 ミリ波広帯域信号における高速フェージング測定 対馬 和樹(早大), 稲垣 恵三(NICT), 実野 邦久(早大), 大墻 新(早大), 宮野 恵佑(早大), 川西 哲也(早大), |
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| 抄録(和) | 無線通信において、通信品質の劣化を招く伝搬特性としてフェージングが挙げられる。ミリ波・テラヘルツ波はその広帯域性から超高速無線通信への利用が広く検討されているが、これらの帯域では波長が短く伝搬環境のわずかな変動による影響を受ける可能性がある。そこで、60GHz帯と90GHz帯のミリ波広帯域信号(OFDM)を用いて、高速で変動する物体がある伝搬環境下での電力の時間・周波数特性測定を行った。 |
| 抄録(英) | In wireless communications, fading is a propagation characteristic that degrades communication quality. Millimeter wave and terahertz wave have been widely considered for use in ultrahigh-speed wireless communications due to their broadband nature, but these bands have short wavelengths and may be affected by slight fluctuations in the propagation environment. Therefore, using millimeter-wave broadband signals (OFDM) in the 60 GHz and 90 GHz bands, we measured the time-frequency characteristics of power in a propagation environment with high-speed and fluctuating objects. |
| キーワード(和) | ミリ波 / テラヘルツ / OFDM / 二波モデル / 干渉性フェージング / 周波数選択制フェージング |
| キーワード(英) | Millimeter Wave / Terahertz / OFDM / Two-Wave Model / Interferential Fading / Frequency Selective Fading |
| 資料番号 | EMT2023-38,MW2023-56,OPE2023-38,EST2023-38,MWPTHz2023-34 |
| 発行日 | 2023-07-13 (EMT, MW, OPE, EST, MWPTHz) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EST / MW / EMT / OPE / MWPTHz / IEE-EMT |
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| 開催期間 | 2023/7/20(から2日開催) |
| 開催地（和） | 室蘭工業大学 |
| 開催地（英） | Muroran Institute of Technology |
| テーマ（和） | 光・電波ワークショップ |
| テーマ（英） | Workshop on Optical and Microwave technologies |
| 委員長氏名（和） | 君島 正幸(アドバンテスト研) / 大久保 賢祐(岡山県立大) / 川口 秀樹(室蘭工大) / 荒川 太郎(横浜国大) / 菅野 敦史(名工大) / 古川 愼一(日大) |
| 委員長氏名（英） | Masayuki Kimishima(Advantest) / Kensuke Okubo(Okayama Prefectural Univ.) / Hideki Kawaguchi(Muroran Inst. of Tech) / Taro Arakawa(Yokohama National Univ.) / Atsushi Kanno(Nagoya Inst. of Tech.) / Shinichi Furukawa(Nihon Univ.) |
| 副委員長氏名（和） | 阪本 卓也(京大) / 辻 寧英(室蘭工大) / 大寺 康夫(富山県立大学) / 真田 篤志(阪大) / 平井 暁人(三菱電機) / 鈴木 敬久(都立大) / / 冨士田 誠之(阪大) / 池田 研介(電中研) |
| 副委員長氏名（英） | Takuya Sakamoto(Kyoto Univ.) / Yasuhide Tsuji(Muroran Inst. of Tech.) / Yasuo Ohtera(Toyama Prefectural Univ.) / Atsushi Sanada(Osaka Univ.) / Akihito Hirai(Mitsubishi Electric) / Yukihisa Suzuki(Tokyo Metropolitan Univ.) / / Masayuki Fujita(Osaka Univ.) / Kensuke Ikeda(CRIEPI) |
| 幹事氏名（和） | 坂木 啓司(構造計画研究所) / 安藤 芳晃(電通大) / 石川 亮(電通大) / 今井 翔平(村田製作所) / 石田 健一(九州産業大) / 尾崎 亮介(日大) / 石坂 雄平(関東学院大) / 梅木 毅伺(NTT) / 山口 祐也(NICT) / 渡邊 一世(NICT) / 中 良弘(宮崎大) / 山本 伸一(三菱電機) |
| 幹事氏名（英） | Keiji Sakaki(Kozo Keikaku Engineering) / Yoshiaki Ando(Univ. of Electro-Comm) / Ryo Ishikawa(Univ. of Electro-Comm) / Shohei Imai(Murata Manufacturing) / Kenichi Ishida(Kyushu Sangyo Univ.) / Ryousuke Ozaki(Nihon Univ.) / Yuhei Ishizaka(Kanto Gakuin Univ.) / Takeshi Umeki(NTT) / Yuya Yamaguchi(NICT) / Issei Watanabe(NICT) / Yoshihiro Naka(Univ. of Miyazaki) / Shinichi Yamamoto(Mitsubishi Electric) |
| 幹事補佐氏名（和） | 柳田 朋則(アドバンテスト研究所) / 井口 亜希人(室蘭工大) / 古市 朋之(東北大) / 片山 光亮(徳山高専) / 夏秋 嶺(東大) / 藤澤 剛(北大) / 那須 秀行(古河電工) / 易 利(阪大) / 佐藤 昭(東北大) / 鈴木 左文(東工大) / 新納 和樹(京大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Tomonori Yanagida(Advantest) / Akito Iguchi(Muroran Inst. of Tech) / Tomoyuki Furuichi(Tohoku Univ.) / Kosuke Katayama(NIT Tokuyama College) / Ryo Natsuaki(Univ. of Tokyo) / Takshi Fujisawa(Hokaido Univ.) / Hideyuki Nasu(Furukawa Electric) / Li Yi(Osaka Univ.) / Akira Satou(Tohoku Univ.) / Safumi Suzuki(Tokyo Inst. of Tech.) / Kazuki Niino(Kyoto Univ.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Electronics Simulation Technology / Technical Committee on Microwaves / Technical Committee on Electromagnetic Theory / Technical Committee on OptoElectronics / Technical Committee on Microwave Photonics and Terahertz Photonic-Electronic Technologies / Technical Meeting on Electromagnetic Theory |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | ミリ波広帯域信号における高速フェージング測定 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | High-speed Fading Measurement of Millimeter-wave Broadband Signals |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | ミリ波 / Millimeter Wave |
| キーワード(2)（和/英） | テラヘルツ / Terahertz |
| キーワード(3)（和/英） | OFDM / OFDM |
| キーワード(4)（和/英） | 二波モデル / Two-Wave Model |
| キーワード(5)（和/英） | 干渉性フェージング / Interferential Fading |
| キーワード(6)（和/英） | 周波数選択制フェージング / Frequency Selective Fading |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 対馬 和樹 / Kazuki Tsushima |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 早稲田大学(略称：早大) Waseda University(略称：Waseda Univ.) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 稲垣 恵三 / Keizo Inagaki |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 国立研究開発法人 情報通信研究機構(略称：NICT) National Institute of Information and Communications Technology(略称：NICT) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 実野 邦久 / Kunihisa Jitsuno |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 早稲田大学(略称：早大) Waseda University(略称：Waseda Univ.) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 大墻 新 / Arata Ogaki |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 早稲田大学(略称：早大) Waseda University(略称：Waseda Univ.) |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 宮野 恵佑 / Keisuke Miyano |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 早稲田大学(略称：早大) Waseda University(略称：Waseda Univ.) |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 川西 哲也 / Tetsuya Kawanishi |
| 第 6 著者 所属（和/英） | 早稲田大学(略称：早大) Waseda University(略称：Waseda Univ.) |
| 発表年月日 | 2023-07-21 |
| 資料番号 | EMT2023-38,MW2023-56,OPE2023-38,EST2023-38,MWPTHz2023-34 |
| 巻番号（vol） | vol.123 |
| 号番号（no） | EMT-114,MW-115,OPE-116,EST-117,MWPTHz-118 |
| ページ範囲 | pp.151-154(EMT), pp.151-154(MW), pp.151-154(OPE), pp.151-154(EST), pp.151-154(MWPTHz), |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | 2023-07-13 (EMT, MW, OPE, EST, MWPTHz) |