| 講演名 | 2023-06-09 FPGA開発工程毎の欠陥数予測の検討 内田 裕之(富士フイルムソフトウエア), 丸田 知彦(富士フイルムソフトウエア), |
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| 抄録(和) | |
| 抄録(英) | |
| キーワード(和) | |
| キーワード(英) | |
| 資料番号 | |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | RECONF |
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| 開催期間 | 2023/6/8(から2日開催) |
| 開催地（和） | 高知工科大学永国寺キャンパス |
| 開催地（英） | Eikokuji Campus, Kochi University of Technology |
| テーマ（和） | リコンフィギャラブルシステム，一般 |
| テーマ（英） | Reconfigurable system, etc. |
| 委員長氏名（和） | 山口 佳樹(筑波大) |
| 委員長氏名（英） | Yoshiki Yamaguchi(Tsukuba Univ.) |
| 副委員長氏名（和） | 井口 寧(北陸先端大) / 泉 知論(立命館大) |
| 副委員長氏名（英） | Yasushi Inoguchi(JAIST) / Tomonori Izumi(Ritsumeikan Univ.) |
| 幹事氏名（和） | 小林 悠記(NEC) / 佐藤 幸紀(豊橋技科大) |
| 幹事氏名（英） | Yuuki Kobayashi(NEC) / Yukinori Sato(Toyohashi Univ. of Tech.) |
| 幹事補佐氏名（和） | 竹村 幸尚(インテル) / 長名 保範(熊本大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Yukitaka Takemura(INTEL) / Yasunori Osana(Kumamoto Univ.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Reconfigurable Systems |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | FPGA開発工程毎の欠陥数予測の検討 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Defect prediction by FPGA development phases |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 内田 裕之 / Hiroyuki Uchida |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 富士フイルムソフトウエア株式会社(略称：富士フイルムソフトウエア) FUJIFILM Software Co., Ltd.(略称：FUJIFILM Software) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 丸田 知彦 / Tomohiko Maruta |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 富士フイルムソフトウエア株式会社(略称：富士フイルムソフトウエア) FUJIFILM Software Co., Ltd.(略称：FUJIFILM Software) |
| 発表年月日 | 2023-06-09 |
| 資料番号 | |
| 巻番号（vol） | vol.123 |
| 号番号（no） | RECONF-71 |
| ページ範囲 | pp.-(), |
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