講演名 2023-06-30
光ファイバ出射光スポット内のパターン変動のPIV法を利用した解析(第2報)
千葉 孝登(千歳科技大), 長谷川 誠(千歳科技大),
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抄録(和) GI 型マルチモード光ファイバ(MMF)の一端に光を入射させ,他端からの出射光スポットを観察したときに得られる粒状模様をスペックルパターンと呼ぶ.本研究では,MMF に外乱を印加した際に発生するスペックルパターンの変動をセンシングに利用することを志向し,定量的な自動検出を行うことを目的として,PIV 法を応用した画像処理による手法を用いて解析した.第 2 報では,特に PIV 法を利用してスペックルパターン変動を検出する際の分解能の提示方法についての検討と,結果として獲得したデータ分布に対する代表値の算出方法についての検討を行った.その結果,本報告の方法を用いる場合,適切に統計処理されたデータに対しては,画像から得られる情報のみを用いて分解能を提示できることが確認できた.また,PIV 法によって得られた結果の分布が,対数分布から派生している可能性が認められた.
抄録(英) When a disturbance is applied onto an optical multi-mode fiber, speckle pattern is often observed in an output light spot. In this research, image processing and analysis based on a PIV method was performed on changes in the observed speckle caused by application of disturbances onto the optical fiber. Especially in this report, emphasis is being placed on resolutions in detections of the pattern changes and statistical processing performed. As a result, for the method in this research, it was confirmed that detection resolutions can be shown only based on information obtainable from captured images for appropriately processed data. In addition, distributions of the data obtained from the PIV method were derived from a logarithmic distribution.
キーワード(和) 光ファイバ / スペックルパターン / PIV / 画像処理 / センシング
キーワード(英) Optical fiber / Speckle pattern / PIV / Image processing / Sensing
資料番号 EMD2023-5
発行日 2023-06-23 (EMD)

研究会情報
研究会 EMD
開催期間 2023/6/30(から1日開催)
開催地(和) 千歳アルカディア・プラザ
開催地(英) Chitose Arcadia Plaza
テーマ(和) 一般
テーマ(英)
委員長氏名(和) 上野 貴博(日本工大)
委員長氏名(英) Takahiro Ueno(Nippon Inst. of Tech.)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和) 林 優一(奈良先端大) / 宮永 和明(富士通コンポーネント)
幹事氏名(英) Yuichi Hayashi(NAIST) / Kazuaki Miyanaga(Fujitsu Component)
幹事補佐氏名(和) 萓野 良樹(電通大)
幹事補佐氏名(英) Yoshiki Kayano(Univ. of Electro-Comm.)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Technical Committee on Electromechanical Devices
本文の言語 JPN
タイトル(和) 光ファイバ出射光スポット内のパターン変動のPIV法を利用した解析(第2報)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Analysis of pattern changes in an output light spot from an optical fiber with a PIV method (II)
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 光ファイバ / Optical fiber
キーワード(2)(和/英) スペックルパターン / Speckle pattern
キーワード(3)(和/英) PIV / PIV
キーワード(4)(和/英) 画像処理 / Image processing
キーワード(5)(和/英) センシング / Sensing
第 1 著者 氏名(和/英) 千葉 孝登 / Takato Chiba
第 1 著者 所属(和/英) 公立千歳科学技術大学(略称:千歳科技大)
Chitose Institute of Science and Technology(略称:Chitose Inst. of Science and Technology)
第 2 著者 氏名(和/英) 長谷川 誠 / Makoto Hasegawa
第 2 著者 所属(和/英) 公立千歳科学技術大学(略称:千歳科技大)
Chitose Institute of Science and Technology(略称:Chitose Inst. of Science and Technology)
発表年月日 2023-06-30
資料番号 EMD2023-5
巻番号(vol) vol.123
号番号(no) EMD-94
ページ範囲 pp.22-27(EMD),
ページ数 6
発行日 2023-06-23 (EMD)