| 講演名 | 2023-05-25 RF回路の不完全性を用いた異種ZigBee端末の識別 水町 航汰(豊橋技科大), 松岡 翔平(豊橋技科大), 小松 和暉(豊橋技科大), 宮路 祐一(愛知工大), 上原 秀幸(豊橋技科大), |
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| 抄録(和) | IoT機器の普及に伴ってセキュリティの向上が求められている．従来の通信端末の認証には，IPアドレスやMACアドレスを利用した方法があるが，アドレスの改ざんによるなりすましなどの問題がある．そこで，端末の物理的な個体差に注目し，高周波 (Radio Frequency:RF) 回路の不完全性を用いて端末を識別する手法が研究されている．先行研究では，IEEE 802.15.4に準拠した端末の一つであるDigi International社のXBee ZB (XBee) から送信された信号を測定し，RF回路の不完全性を含む特徴量を用いた識別が行われている．この研究では識別の対象として使用した端末がXBeeのみであり，他の種類の無線通信モジュールを識別の対象とした場合の有効性は示されていない．そこで本研究は同じくIEEE 802.15.4に準拠した端末であるモノワイヤレス社のTWELITE DIPから信号を測定し，端末を識別した．また，XBeeとTWELITE DIPを混在させた場合での端末識別と，XBeeかTWELITE DIPかを判断する端末識別を行い，精度を算出した． |
| 抄録(英) | With the spread of the Internet of Things (IoT), there is a growing demand for enhanced security. Conventional authentication methods for wireless communication use IP addresses or MAC addresses. However, these methods have vulnerability for spoofing IP addresses. In previous researches, the method to identify devices using the imperfections of radio frequency circuits has been studied. The purpose of this study is to assess the effectiveness of the device identification method suggested by previous study and to evaluate the accuracy of device identification when XBee and TWELITE DIP are mixed, and to identify whether it is XBee or TWELITE DIP. |
| キーワード(和) | 端末識別 / 周波数オフセット / IQインバランス |
| キーワード(英) | Device Identification / Frequency Offset / IQ Imbalance |
| 資料番号 | RCS2023-15 |
| 発行日 | 2023-05-18 (RCS) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | RCS / IN |
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| 開催期間 | 2023/5/25(から2日開催) |
| 開催地（和） | 慶應大学 日吉キャンパス + オンライン開催 |
| 開催地（英） | Keio University (Hiyoshi Campus), and online |
| テーマ（和） | アドホック・センサネットワーク・MANET，モバイルネットワーク，M2M・IoT通信制御，無線LAN(Wi-Fi)，IEEE802.15(ZigBee)及び一般 |
| テーマ（英） | Ad-Hoc/Sensor Networks/MANET, Mobile Networks, M2M/IoT Communications, Wi-Fi, IEEE802.15(ZigBee) and others |
| 委員長氏名（和） | 樋口 健一(東京理科大) / 波戸 邦夫(インターネットマルチフィード) |
| 委員長氏名（英） | Kenichi Higuchi(Tokyo Univ. of Science) / Kunio Hato(Internet Multifeed) |
| 副委員長氏名（和） | 旦代 智哉(東芝) / 児島 史秀(NICT) / 牟田 修(九大) / 村瀬 勉(名大) |
| 副委員長氏名（英） | Tomoya Tandai(Toshiba) / Fumihide Kojima(NICT) / Osamu Muta(Kyushu Univ.) / Tsutomu Murase(Nagoya Univ.) |
| 幹事氏名（和） | 山本 哲矢(パナソニック) / 安達 宏一(電通大) / 中村 理(シャープ) / 城 哲(KDDI総合研究所) / 渡部 康平(長岡技科大) / 秦泉寺 久美(NTT) / 濱田 浩気(NTT) |
| 幹事氏名（英） | Tetsuya Yamamoto(Panasonic) / Koichi Adachi(Univ. of Electro-Comm) / Osamu Nakamura(Sharp) / Tetsu Jyo(KDDI Research) / Kouhei Watabei(Nagaoka Univ. of Tech.) / Kumi Jinzenji(NTT) / Koki Hamada(NTT) |
| 幹事補佐氏名（和） | 酒井 学(三菱電機) / 岩渕 匡史(NTT) / 菅野 一生(KDDI総合研究所) / 張 裕淵(東工大) / 丸田 一輝(東京理科大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Manabu Sakai(Mitsubishi Electric) / Masashi Iwabuchi(NTT) / Issei Kanno(KDDI Research) / Yuyuan Chang(Tokyo Inst. of Tech) / Kazuki Maruta(Tokyo Univ. of Science) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Radio Communication Systems / Technical Committee on Information Networks |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | RF回路の不完全性を用いた異種ZigBee端末の識別 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Device Identification of Different Types of ZigBee Devices Based on RF Circuit Imperfections |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 端末識別 / Device Identification |
| キーワード(2)（和/英） | 周波数オフセット / Frequency Offset |
| キーワード(3)（和/英） | IQインバランス / IQ Imbalance |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 水町 航汰 / Kota Mizumachi |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 豊橋技術科学大学(略称：豊橋技科大) Tyohashi University of Technology(略称：Toyohashi Univ. of Tech.) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 松岡 翔平 / Shohei Matsuoka |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 豊橋技術科学大学(略称：豊橋技科大) Tyohashi University of Technology(略称：Toyohashi Univ. of Tech.) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 小松 和暉 / Kazuki Komatsu |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 豊橋技術科学大学(略称：豊橋技科大) Tyohashi University of Technology(略称：Toyohashi Univ. of Tech.) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 宮路 祐一 / Yuichi Miyaji |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 愛知工業大学(略称：愛知工大) Aichi Institute of Technology(略称：Aichi inst. of Tech.) |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 上原 秀幸 / Hideyuki Uehara |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 豊橋技術科学大学(略称：豊橋技科大) Tyohashi University of Technology(略称：Toyohashi Univ. of Tech.) |
| 発表年月日 | 2023-05-25 |
| 資料番号 | RCS2023-15 |
| 巻番号（vol） | vol.123 |
| 号番号（no） | RCS-52 |
| ページ範囲 | pp.7-12(RCS), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2023-05-18 (RCS) |