| 講演名 | 2023-02-28 論理回路内のホットスポット特定手法とテストパターンごとに異なるホットスポットの評価に関する研究 宇都宮 大喜(九工大), 宮瀬 紘平(九工大), ルー シュエクン(台湾科技大), 温 暁青(九工大), 梶原 誠司(九工大), |
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| 抄録(和) | LSIテストにおいて消費電力が大きい場合，過度のIR-dropを引き起こすことがある．過度のIR-dropは過度の遅延を発生させ，テストの誤判定につながる．過度のIR-dropは回路全体で発生するのではなく，スイッチング動作が多く発生しているエリア（ホットスポット）で発生する．誤テストを防ぐためには，ホットスポット内のIR-dropを削減または制御する方法を適用することが重要となる．また，ホットスポットを特定する技術は，IR-dropを削減または制御するために必要な技術となる．本研究では，計算量の少ない信号値遷移確率計算により，論理回路内のホットスポットを特定する手法を提案する．IWLS2005 OpenCores回路に対する実験結果では，テストパターンごとにホットスポットの異なる消費電力解析結果と比較評価を行い，提案手法によりホットスポットを特定できることを示す． |
| 抄録(英) | High power consumption in LSI testing may cause excessive IR-drop. When IR-drop becomes excessive, it causes excessive delay, resulting in test malfunction. Excessive IR-drop does not occur in the entire area of circuit, but in certain areas where a large number of switching activities occur (such areas are called hotspots in this work). In order to avoid test malfunction, it is important to develop a method to reduce or control IR-drop in the specific areas. Locating areas where excessive IR-drop occur is a necessary technique to reduce or control IR-drop effectively and efficiently. In this work, we propose a method to locate hotspots in a logic circuit by switching probability calculation. Experimental results for IWLS2005 OpenCores circuits demonstrate the proposed method can locate hotspots by comparing the results of power consumption which show hotspots in various areas depending on a test pattern. |
| キーワード(和) | 実速度テスト / テスト時の消費電力 |
| キーワード(英) | At-speed testing / test power |
| 資料番号 | DC2022-92 |
| 発行日 | 2023-02-21 (DC) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
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| 開催期間 | 2023/2/28(から1日開催) |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg |
| テーマ（和） | VLSI設計とテストおよび一般 |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | 土屋 達弘(阪大) |
| 委員長氏名（英） | Tatsuhiro Tsuchiya(Osaka Univ.) |
| 副委員長氏名（和） | 細川 利典(日大) |
| 副委員長氏名（英） | Toshinori Hosokawa(Nihon Univ.) |
| 幹事氏名（和） | 新井 雅之(日大) / 難波 一輝(千葉大) |
| 幹事氏名（英） | Masayuki Arai(Nihon Univ.) / Kazuteru Namba(Chiba Univ.) |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Dependable Computing |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 論理回路内のホットスポット特定手法とテストパターンごとに異なるホットスポットの評価に関する研究 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Locating Hotspots in a Logic Circuit and Evaluation of Hotspots Caused by an Arbitrary Test Vector |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 実速度テスト / At-speed testing |
| キーワード(2)（和/英） | テスト時の消費電力 / test power |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 宇都宮 大喜 / Taiki Utsunomiya |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 九州工業大学(略称：九工大) Kyushu Institute of Technology(略称：Kyutech) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 宮瀬 紘平 / Kohei Miyase |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 九州工業大学(略称：九工大) Kyushu Institute of Technology(略称：Kyutech) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | ルー シュエクン / Shyue-Kung Lu |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 台湾科技大学(略称：台湾科技大) National Taiwan University of Science and Technology(略称：NTUST) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 温 暁青 / Xiaoqing Wen |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 九州工業大学(略称：九工大) Kyushu Institute of Technology(略称：Kyutech) |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 梶原 誠司 / Seiji Kajihara |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 九州工業大学(略称：九工大) Kyushu Institute of Technology(略称：Kyutech) |
| 発表年月日 | 2023-02-28 |
| 資料番号 | DC2022-92 |
| 巻番号（vol） | vol.122 |
| 号番号（no） | DC-393 |
| ページ範囲 | pp.56-61(DC), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2023-02-21 (DC) |