| 講演名 | 2023-02-28 A Clear and Understandable Notation for Expressing T-Way Test Sequence Generation Constraints ? 楽楽(阪大), 土屋 達弘(阪大), |
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| 抄録(和) | |
| 抄録(英) | This paper focuses on the problem of constraint representation for the generation of t-way test sequences. T-way sequence testing is a technique for testing event-driven systems. This technique tests all combinations of t events in all possible orders. Event-driven systems often have constraints on the order of executable events that must be satisfied by every test case. To express the constraints, we propose a notation that is easy to understand as well as machine-readable. The proposed notation only uses basic mathematical operators, thus allowing users to express complex constraints without understanding special operators. We develop a system that automatically generates a set of test cases that meet the constraints represented in the proposed notation. From the results of applying the system to a real-life case study, it is found the notation is intuitive and easy to understand and that the system can generate test cases within a practical time. |
| キーワード(和) | |
| キーワード(英) | Test Sequence GenerationSequencing ConstraintT-way Sequence CoverageSequence TestingEvent-based TestingCombinatorial Testing |
| 資料番号 | DC2022-85 |
| 発行日 | 2023-02-21 (DC) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
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| 開催期間 | 2023/2/28(から1日開催) |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg |
| テーマ（和） | VLSI設計とテストおよび一般 |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | 土屋 達弘(阪大) |
| 委員長氏名（英） | Tatsuhiro Tsuchiya(Osaka Univ.) |
| 副委員長氏名（和） | 細川 利典(日大) |
| 副委員長氏名（英） | Toshinori Hosokawa(Nihon Univ.) |
| 幹事氏名（和） | 新井 雅之(日大) / 難波 一輝(千葉大) |
| 幹事氏名（英） | Masayuki Arai(Nihon Univ.) / Kazuteru Namba(Chiba Univ.) |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Dependable Computing |
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| 本文の言語 | ENG |
| タイトル（和） | |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Clear and Understandable Notation for Expressing T-Way Test Sequence Generation Constraints |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | / Test Sequence GenerationSequencing ConstraintT-way Sequence CoverageSequence TestingEvent-based TestingCombinatorial Testing |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | ? 楽楽 / Lele Jiang |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 大阪大学(略称：阪大) Osaka University(略称：Osaka Univ.) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 土屋 達弘 / Tatsuhiro Tsuchiya |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 大阪大学(略称：阪大) Osaka University(略称：Osaka Univ.) |
| 発表年月日 | 2023-02-28 |
| 資料番号 | DC2022-85 |
| 巻番号（vol） | vol.122 |
| 号番号（no） | DC-393 |
| ページ範囲 | pp.16-20(DC), |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2023-02-21 (DC) |