講演名	2023-02-28 故障診断分解能向上のための複数故障ペア識別パターン生成法 千田 祐弥(日大), 細川 利典(日大), 山崎 浩二(明大),
PDFダウンロードページ	PDFダウンロードページへ
抄録(和)	故障診断において，高故障検出率かつ多数の故障ペアが識別可能であることが重要である．このことを実現するために，レジスタ転送レベル回路における故障診断容易化設計のためのコントローラの制御信号のドントケア割当て法が提案されている．しかしながら，診断容易化設計が施された回路に対してテスト生成を実行しても，診断容易化設計での診断分解能向上の意図が考慮されていないため，必ずしも高い診断分解能が得られるとは限らない．この問題を解決するために，診断容易化設計情報を抽出し，利用したテスト生成法が提案された．本論文では，診断容易化設計情報を利用したテスト生成を実行した後，得られた識別不能故障集合に対して最大充足割当問題による識別パターン生成と等価故障解析を実行し，診断容易化設計情報を利用したテスト生成の故障診断性能を評価する．
抄録(英)
キーワード(和)	診断テスト生成 / 故障診断 / レジスタ転送レベル / 識別不能故障ペア / Partial MAX SAT
キーワード(英)	diagnostic test generation / fault diagnosis / register transfer level, / unidentifiable fault pairs / Partial Max SAT
資料番号	DC2022-83
発行日	2023-02-21 (DC)

研究会情報
研究会	DC
開催期間	2023/2/28(から1日開催)
開催地（和）	機械振興会館
開催地（英）	Kikai-Shinko-Kaikan Bldg
テーマ（和）	VLSI設計とテストおよび一般
テーマ（英）
委員長氏名（和）	土屋 達弘(阪大)
委員長氏名（英）	Tatsuhiro Tsuchiya(Osaka Univ.)
副委員長氏名（和）	細川 利典(日大)
副委員長氏名（英）	Toshinori Hosokawa(Nihon Univ.)
幹事氏名（和）	新井 雅之(日大) / 難波 一輝(千葉大)
幹事氏名（英）	Masayuki Arai(Nihon Univ.) / Kazuteru Namba(Chiba Univ.)
幹事補佐氏名（和）
幹事補佐氏名（英）

講演論文情報詳細
申込み研究会	Technical Committee on Dependable Computing
本文の言語	JPN
タイトル（和）	故障診断分解能向上のための複数故障ペア識別パターン生成法
サブタイトル（和）
タイトル（英）	A Test Generation Method to Identify Multiple Fault Pairs for Improved Fault Diagnosis Resolution
サブタイトル（和）
キーワード(1)（和/英）	診断テスト生成 / diagnostic test generation
キーワード(2)（和/英）	故障診断 / fault diagnosis
キーワード(3)（和/英）	レジスタ転送レベル / register transfer level,
キーワード(4)（和/英）	識別不能故障ペア / unidentifiable fault pairs
キーワード(5)（和/英）	Partial MAX SAT / Partial Max SAT
第 1 著者 氏名（和/英）	千田 祐弥 / Yuya Chida
第 1 著者 所属（和/英）	日本大学(略称：日大) Nihon University(略称：NIhon Univ.)
第 2 著者 氏名（和/英）	細川 利典 / Toshinori Hosokawa
第 2 著者 所属（和/英）	日本大学(略称：日大) Nihon University(略称：NIhon Univ.)
第 3 著者 氏名（和/英）	山崎 浩二 / Koji Yamazaki
第 3 著者 所属（和/英）	明治大学(略称：明大) Meiji University(略称：Meiji Univ.)
発表年月日	2023-02-28
資料番号	DC2022-83
巻番号（vol）	vol.122
号番号（no）	DC-393
ページ範囲	pp.6-11(DC),
ページ数	6
発行日	2023-02-21 (DC)