| 講演名 | 2023-01-26 適合度検定を用いたクロックフィンガープリント識別手法 小林 明珠(小山高専), 干川 尚人(小山高専), 白木 厚司(千葉大), 伊藤 智義(千葉大), |
|---|---|
| PDFダウンロードページ |  PDFダウンロードページへ |
| 抄録(和) | IoT機器の増加に伴い，機器のすり替えやなりすましの危険性が高まり，適切な機器識別手法の重要性が増している．我々はディジタル機器固有の時刻ドリフトがCPUコア温度の3次関数であらわされることを用いた機器識別手法を検討している．しかし，過去に提案した時刻ドリフトの回帰曲線と測定値との残差の分散を用いた識別法は，第三者によって正規機器の測定値を1つでも取得された場合に，それを繰り返し用いることで正規機器になりすませる可能性があった．そこでこれを防ぐために，適合度検定を用いた識別法を新たに提案した．また，測定数を変えた場合や，なりすまし機器の測定値を混入させた場合の識別性能を評価した． |
| 抄録(英) | With the increase in the number of IoT devices, the danger of device substitution and spoofing has increased, and appropriate device identification methods have become increasingly important. We are investigating a device identification method based on the fact that the time drift inherent in digital devices is represented by a cubic function of CPU core temperature. In our previous work, we proposed an identification method using the variance of the residuals between the regression curve of the time drift and the measured values. However, if even one measured value of a legitimate device was obtained by a malicious third person, it could be used repeatedly to impersonate the legitimate device. To prevent this, we proposed an identification method using a goodness-of-fit test. We also evaluated the identification performance when the number of measurements is varied and when the measurements of spoofed devices are mixed in. |
| キーワード(和) | IoT / システム時刻 / 時刻ドリフト / CPU / 識別 / 恒温槽 |
| キーワード(英) | IoT / system time / time drift / CPU / identification / constant temperature chamber |
| 資料番号 | NS2022-154 |
| 発行日 | 2023-01-19 (NS) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | NS |
|---|---|
| 開催期間 | 2023/1/26(から2日開催) |
| 開催地（和） | ハイブリッド開催(山口県) |
| 開催地（英） | Hybrid Meeting (Yamaguchi Prefecture) |
| テーマ（和） | NWソフトウエア(ソフトウエアアーキテクチャ，ミドルウエア)，NWアプリケーション，SOA/SDP，NGN/IMS/API，分散制御・ダイナミックルーチング，グリッド，NFV，IoT，NW及びシステム信頼性，NW及びシステム評価，一般 |
| テーマ（英） | Network software (Software architecture, Middleware), Network application, SOA/SDP, NGN/IMS/API, Distributed control/Dynamic routing, Grid, NFV, IoT, Network/System reliability, Network/System evaluation, etc. |
| 委員長氏名（和） | 大石 哲矢(NTT) |
| 委員長氏名（英） | Tetsuya Oishi(NTT) |
| 副委員長氏名（和） | 三好 匠(芝浦工大) |
| 副委員長氏名（英） | Takumi Miyoshi(Shibaura Insti of Tech.) |
| 幹事氏名（和） | 池邉 隆(NTT) / 山口 実靖(工学院大) |
| 幹事氏名（英） | Takashi Ikebe(NTT) / Saneyasu Yamaguchi(Kogakuin Univ.) |
| 幹事補佐氏名（和） | 三原 孝太郎(NTT) |
| 幹事補佐氏名（英） | Kotaro Mihara(NTT) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Network Systems |
|---|---|
| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 適合度検定を用いたクロックフィンガープリント識別手法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Clock Fingerprint Identification Method Using Goodness of Fit Test |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | IoT / IoT |
| キーワード(2)（和/英） | システム時刻 / system time |
| キーワード(3)（和/英） | 時刻ドリフト / time drift |
| キーワード(4)（和/英） | CPU / CPU |
| キーワード(5)（和/英） | 識別 / identification |
| キーワード(6)（和/英） | 恒温槽 / constant temperature chamber |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 小林 明珠 / Asu Kobayashi |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 小山工業高等専門学校(略称：小山高専) National Institute of Technology (KOSEN), Oyama College(略称：Oyama College) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 干川 尚人 / Naoto Hoshikawa |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 小山工業高等専門学校(略称：小山高専) National Institute of Technology (KOSEN), Oyama College(略称：Oyama College) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 白木 厚司 / Atsushi Shiraki |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 千葉大学(略称：千葉大) Chiba University(略称：Chiba Univ.) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 伊藤 智義 / Tomoyoshi Ito |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 千葉大学(略称：千葉大) Chiba University(略称：Chiba Univ.) |
| 発表年月日 | 2023-01-26 |
| 資料番号 | NS2022-154 |
| 巻番号（vol） | vol.122 |
| 号番号（no） | NS-362 |
| ページ範囲 | pp.25-30(NS), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2023-01-19 (NS) |