講演名 2022-11-28
FPGA-SoMを用いたASIC試作チップ評価システムの構築
今井 雅(弘前大), 吉瀬 謙二(東工大), 米田 友洋(NII),
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抄録(和) ASIC 試作チップの評価には、各チップの仕様に基づいた評価システムが必要であり、汎用性に乏しい。本 稿では、FPGA-SoM (System-on-Module) を利用した、汎用的な ASIC 試作チップ評価システムを提案する。提案シス テムの評価のため設計・製造した、手書き文字判定を行う MNIST AI チップについて紹介し、提案システムで評価した 結果を示す。また、設計時に用いたシミュレーション用テストベンチ記述をそのままハードウェア化するハードウェ アテストベンチを提案する。
抄録(英) An ASIC prototype chip requires the corresponding evaluation system based on its specification, resulting in lack of versatility. In this paper, we propose a general ASIC prototype chip evaluation system using FPGA-SoM. An MNIST AI chip which recognizes handwritten digit characters is designed and manufactured for the evaluation of the developed system. We also propose a hardware testbench concept in which the testbench descrptions are directly translated into hardware.
キーワード(和) FPGA-SoM / ASIC / AIチップ / ハードウェアテストベンチ
キーワード(英) FPGA-SoM / ASIC / AI chip / Hardware test bench
資料番号 VLD2022-19,ICD2022-36,DC2022-35,RECONF2022-42
発行日 2022-11-21 (VLD, ICD, DC, RECONF)

研究会情報
研究会 VLD / DC / RECONF / ICD / IPSJ-SLDM
開催期間 2022/11/28(から3日開催)
開催地(和) 金沢市文化ホール
開催地(英) Kanazawa Bunka Hall
テーマ(和) デザインガイア2022 -VLSI設計の新しい大地-
テーマ(英) Design Gaia 2022 -New Field of VLSI Design-
委員長氏名(和) 池田 奈美子(NTT) / 土屋 達弘(阪大) / 佐野 健太郎(理研) / 高橋 真史(キオクシア) / 越智 裕之(立命館大)
委員長氏名(英) Minako Ikeda(NTT) / Tatsuhiro Tsuchiya(Osaka Univ.) / Kentaro Sano(RIKEN) / Masafumi Takahashi(Kioxia) / Hiroyuki Ochi(Ritsumeikan Univ.)
副委員長氏名(和) 中武 繁寿(北九州市大) / 細川 利典(日大) / 山口 佳樹(筑波大) / 泉 知論(立命館大) / 池田 誠(東大)
副委員長氏名(英) Shigetoshi Nakatake(Univ. of Kitakyushu) / Toshinori Hosokawa(Nihon Univ.) / Yoshiki Yamaguchi(Tsukuba Univ.) / Tomonori Izumi(Ritsumeikan Univ.) / Makoto Ikeda(Univ. of Tokyo)
幹事氏名(和) 宮村 信(ナノブリッジ・セミコンダクター) / 今井 雅(弘前大) / 新井 雅之(日大) / 難波 一輝(千葉大) / 小林 悠記(NEC) / 佐藤 幸紀(豊橋技科大) / 新居 浩二(TSMCデザインテクノロジージャパン) / 宮地 幸祐(信州大) / 川村 一志(東工大) / 今川 隆司(明大) / 細田 浩希(ソニーセミコンダクタソリューションズ) / 田中 勇気(日立)
幹事氏名(英) Makoto Miyamura(NBS) / Masashi Imai(Hirosaki Univ.) / Masayuki Arai(Nihon Univ.) / Kazuteru Namba(Chiba Univ.) / Yuuki Kobayashi(NEC) / Yukinori Sato(Toyohashi Univ. of Tech.) / Koji Nii(TSMC) / Kosuke Miyaji(Shinshu Univ.) / Kazushi Kawamura(Tokyo Inst. of Tech.) / Takashi Imagawa(Meiji Univ.) / Hiroki Hosoda(Sony Semiconductor Solutions) / Yuki Tanaka(HITACHI)
幹事補佐氏名(和) 西元 琢真(日立) / / 竹村 幸尚(インテル) / 長名 保範(琉球大学) / 吉原 義昭(キオクシア) / 塩見 準(阪大) / 久保木 猛(ソニーセミコンダクタソリューションズ)
幹事補佐氏名(英) Takuma Nishimoto(Hitachi) / / Yukitaka Takemura(INTEL) / Yasunori Osana(Ryukyu Univ.) / Yoshiaki Yoshihara(KIOXIA) / Jun Shiomi(Osaka Univ.) / Takeshi Kuboki(Sony Semiconductor Solutions)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Technical Committee on VLSI Design Technologies / Technical Committee on Dependable Computing / Technical Committee on Reconfigurable Systems / Technical Committee on Integrated Circuits and Devices / Special Interest Group on System and LSI Design Methodology
本文の言語 JPN
タイトル(和) FPGA-SoMを用いたASIC試作チップ評価システムの構築
サブタイトル(和)
タイトル(英) Development of ASIC Prototype Chip Evaluation System using FPGA-SoM
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) FPGA-SoM / FPGA-SoM
キーワード(2)(和/英) ASIC / ASIC
キーワード(3)(和/英) AIチップ / AI chip
キーワード(4)(和/英) ハードウェアテストベンチ / Hardware test bench
第 1 著者 氏名(和/英) 今井 雅 / Masashi Imai
第 1 著者 所属(和/英) 弘前大学(略称:弘前大)
Hirosaki University(略称:Hirosaki Univ.)
第 2 著者 氏名(和/英) 吉瀬 謙二 / Kenji Kise
第 2 著者 所属(和/英) 東京工業大学(略称:東工大)
Tokyo Institute of Technology(略称:Tokyo Tech.)
第 3 著者 氏名(和/英) 米田 友洋 / Tomohiro Yoneda
第 3 著者 所属(和/英) 国立情報学研究所(略称:NII)
National Institute of Informatics(略称:NII)
発表年月日 2022-11-28
資料番号 VLD2022-19,ICD2022-36,DC2022-35,RECONF2022-42
巻番号(vol) vol.122
号番号(no) VLD-283,ICD-284,DC-285,RECONF-286
ページ範囲 pp.1-6(VLD), pp.1-6(ICD), pp.1-6(DC), pp.1-6(RECONF),
ページ数 6
発行日 2022-11-21 (VLD, ICD, DC, RECONF)