講演名 | 2022-11-29 組込み自己テストにおける複数ランダムパターンレジスタント縮退故障のシード生成法 三浦 怜(日大), 細川 利典(日大), 吉村 正義(京都産大), |
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資料番号 | VLD2022-27,ICD2022-44,DC2022-43,RECONF2022-50 |
発行日 | 2022-11-21 (VLD, ICD, DC, RECONF) |
研究会情報 | |
研究会 | VLD / DC / RECONF / ICD / IPSJ-SLDM |
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開催期間 | 2022/11/28(から3日開催) |
開催地(和) | 金沢市文化ホール |
開催地(英) | Kanazawa Bunka Hall |
テーマ(和) | デザインガイア2022 -VLSI設計の新しい大地- |
テーマ(英) | Design Gaia 2022 -New Field of VLSI Design- |
委員長氏名(和) | 池田 奈美子(NTT) / 土屋 達弘(阪大) / 佐野 健太郎(理研) / 高橋 真史(キオクシア) / 越智 裕之(立命館大) |
委員長氏名(英) | Minako Ikeda(NTT) / Tatsuhiro Tsuchiya(Osaka Univ.) / Kentaro Sano(RIKEN) / Masafumi Takahashi(Kioxia) / Hiroyuki Ochi(Ritsumeikan Univ.) |
副委員長氏名(和) | 中武 繁寿(北九州市大) / 細川 利典(日大) / 山口 佳樹(筑波大) / 泉 知論(立命館大) / 池田 誠(東大) |
副委員長氏名(英) | Shigetoshi Nakatake(Univ. of Kitakyushu) / Toshinori Hosokawa(Nihon Univ.) / Yoshiki Yamaguchi(Tsukuba Univ.) / Tomonori Izumi(Ritsumeikan Univ.) / Makoto Ikeda(Univ. of Tokyo) |
幹事氏名(和) | 宮村 信(ナノブリッジ・セミコンダクター) / 今井 雅(弘前大) / 新井 雅之(日大) / 難波 一輝(千葉大) / 小林 悠記(NEC) / 佐藤 幸紀(豊橋技科大) / 新居 浩二(TSMCデザインテクノロジージャパン) / 宮地 幸祐(信州大) / 川村 一志(東工大) / 今川 隆司(明大) / 細田 浩希(ソニーセミコンダクタソリューションズ) / 田中 勇気(日立) |
幹事氏名(英) | Makoto Miyamura(NBS) / Masashi Imai(Hirosaki Univ.) / Masayuki Arai(Nihon Univ.) / Kazuteru Namba(Chiba Univ.) / Yuuki Kobayashi(NEC) / Yukinori Sato(Toyohashi Univ. of Tech.) / Koji Nii(TSMC) / Kosuke Miyaji(Shinshu Univ.) / Kazushi Kawamura(Tokyo Inst. of Tech.) / Takashi Imagawa(Meiji Univ.) / Hiroki Hosoda(Sony Semiconductor Solutions) / Yuki Tanaka(HITACHI) |
幹事補佐氏名(和) | 西元 琢真(日立) / / 竹村 幸尚(インテル) / 長名 保範(琉球大学) / 吉原 義昭(キオクシア) / 塩見 準(阪大) / 久保木 猛(ソニーセミコンダクタソリューションズ) |
幹事補佐氏名(英) | Takuma Nishimoto(Hitachi) / / Yukitaka Takemura(INTEL) / Yasunori Osana(Ryukyu Univ.) / Yoshiaki Yoshihara(KIOXIA) / Jun Shiomi(Osaka Univ.) / Takeshi Kuboki(Sony Semiconductor Solutions) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Technical Committee on VLSI Design Technologies / Technical Committee on Dependable Computing / Technical Committee on Reconfigurable Systems / Technical Committee on Integrated Circuits and Devices / Special Interest Group on System and LSI Design Methodology |
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本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | 組込み自己テストにおける複数ランダムパターンレジスタント縮退故障のシード生成法 |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | A Seed Generation Method for Multiple Random Pattern Resistant Stuck-at Faults in Built-In Self-Test |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | |
第 1 著者 氏名(和/英) | 三浦 怜 / Rei Miura |
第 1 著者 所属(和/英) | 日本大学(略称:日大) Nihon University(略称:Nihon Univ.) |
第 2 著者 氏名(和/英) | 細川 利典 / Toshinori Hosokawa |
第 2 著者 所属(和/英) | 日本大学(略称:日大) Nihon University(略称:Nihon Univ.) |
第 3 著者 氏名(和/英) | 吉村 正義 / Masayoshi Yoshimura |
第 3 著者 所属(和/英) | 京都産業大学(略称:京都産大) Kyoto Sangyou University(略称:Kyoto Sangyou Univ.) |
発表年月日 | 2022-11-29 |
資料番号 | VLD2022-27,ICD2022-44,DC2022-43,RECONF2022-50 |
巻番号(vol) | vol.122 |
号番号(no) | VLD-283,ICD-284,DC-285,RECONF-286 |
ページ範囲 | pp.49-54(VLD), pp.49-54(ICD), pp.49-54(DC), pp.49-54(RECONF), |
ページ数 | 6 |
発行日 | 2022-11-21 (VLD, ICD, DC, RECONF) |