| 講演名 | 2022-11-28 近似演算を用いる乗算器に対するテストパターン削減について 東海 翔午(徳島大), 赤松 大地(徳島大), 四柳 浩之(徳島大), 橋爪 正樹(徳島大), |
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| 抄録(和) | 近年,演算誤差を許容できる用途において,演算回路の近似手法が適用されている.乗算器の近似手法としては,乗数と被乗数のビット数に応じて,演算結果の下位ビットを切り捨てる手法などが提案されている.近似演算回路の検査に関しては,故障の影響が許容誤差内に収まる場合に検査対象から除外することで検査時間を短縮できる可能性がある.本論文では,近似乗算器においてより少ないパターンで故障検査を行うため,テストパターン生成時に近似乗算器に制約を課す模擬回路を挿入して,下位ビットのみに伝わる故障以外を検出するテストパターン生成を行った.その結果,模擬回路を挿入する前と比較して,テストパターン数は約19.8%削減することができた. |
| 抄録(英) | In recent years, approximate computing has been used in error-tolerant applications. Several approximation methods have been proposed for approximate multipliers by truncating the lower bits of the calculation result according to the positions of one-bits in the multiplier and the multiplicand. In testing approximation circuits, test time reduction can possibly be achieved by removing faults that affect only within the acceptable range of the calculation error. In this paper, to generate fewer test patterns for an approximate multiplier, the pseudo circuit restricting the fault propagation only to the lower bits is added in the test generation phase. As a result, the proposed test generation can attain about a 19.8% reduction in test patterns. |
| キーワード(和) | テストパターン生成 / 近似計算 / 乗算器 / テスト時間削減 |
| キーワード(英) | test pattern generation / approximate computing / multiplier / test time reduction |
| 資料番号 | VLD2022-23,ICD2022-40,DC2022-39,RECONF2022-46 |
| 発行日 | 2022-11-21 (VLD, ICD, DC, RECONF) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD / DC / RECONF / ICD / IPSJ-SLDM |
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| 開催期間 | 2022/11/28(から3日開催) |
| 開催地（和） | 金沢市文化ホール |
| 開催地（英） | Kanazawa Bunka Hall |
| テーマ（和） | デザインガイア2022 -VLSI設計の新しい大地- |
| テーマ（英） | Design Gaia 2022 -New Field of VLSI Design- |
| 委員長氏名（和） | 池田 奈美子(NTT) / 土屋 達弘(阪大) / 佐野 健太郎(理研) / 高橋 真史(キオクシア) / 越智 裕之(立命館大) |
| 委員長氏名（英） | Minako Ikeda(NTT) / Tatsuhiro Tsuchiya(Osaka Univ.) / Kentaro Sano(RIKEN) / Masafumi Takahashi(Kioxia) / Hiroyuki Ochi(Ritsumeikan Univ.) |
| 副委員長氏名（和） | 中武 繁寿(北九州市大) / 細川 利典(日大) / 山口 佳樹(筑波大) / 泉 知論(立命館大) / 池田 誠(東大) |
| 副委員長氏名（英） | Shigetoshi Nakatake(Univ. of Kitakyushu) / Toshinori Hosokawa(Nihon Univ.) / Yoshiki Yamaguchi(Tsukuba Univ.) / Tomonori Izumi(Ritsumeikan Univ.) / Makoto Ikeda(Univ. of Tokyo) |
| 幹事氏名（和） | 宮村 信(ナノブリッジ・セミコンダクター) / 今井 雅(弘前大) / 新井 雅之(日大) / 難波 一輝(千葉大) / 小林 悠記(NEC) / 佐藤 幸紀(豊橋技科大) / 新居 浩二(TSMCデザインテクノロジージャパン) / 宮地 幸祐(信州大) / 川村 一志(東工大) / 今川 隆司(明大) / 細田 浩希(ソニーセミコンダクタソリューションズ) / 田中 勇気(日立) |
| 幹事氏名（英） | Makoto Miyamura(NBS) / Masashi Imai(Hirosaki Univ.) / Masayuki Arai(Nihon Univ.) / Kazuteru Namba(Chiba Univ.) / Yuuki Kobayashi(NEC) / Yukinori Sato(Toyohashi Univ. of Tech.) / Koji Nii(TSMC) / Kosuke Miyaji(Shinshu Univ.) / Kazushi Kawamura(Tokyo Inst. of Tech.) / Takashi Imagawa(Meiji Univ.) / Hiroki Hosoda(Sony Semiconductor Solutions) / Yuki Tanaka(HITACHI) |
| 幹事補佐氏名（和） | 西元 琢真(日立) / / 竹村 幸尚(インテル) / 長名 保範(琉球大学) / 吉原 義昭(キオクシア) / 塩見 準(阪大) / 久保木 猛(ソニーセミコンダクタソリューションズ) |
| 幹事補佐氏名（英） | Takuma Nishimoto(Hitachi) / / Yukitaka Takemura(INTEL) / Yasunori Osana(Ryukyu Univ.) / Yoshiaki Yoshihara(KIOXIA) / Jun Shiomi(Osaka Univ.) / Takeshi Kuboki(Sony Semiconductor Solutions) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on VLSI Design Technologies / Technical Committee on Dependable Computing / Technical Committee on Reconfigurable Systems / Technical Committee on Integrated Circuits and Devices / Special Interest Group on System and LSI Design Methodology |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 近似演算を用いる乗算器に対するテストパターン削減について |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | On reduction of test patterns for a Multiplier Using Approximate Computing |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | テストパターン生成 / test pattern generation |
| キーワード(2)（和/英） | 近似計算 / approximate computing |
| キーワード(3)（和/英） | 乗算器 / multiplier |
| キーワード(4)（和/英） | テスト時間削減 / test time reduction |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 東海 翔午 / Shogo Tokai |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 徳島大学(略称：徳島大) Tokushima University(略称：Tokushima Univ) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 赤松 大地 / Daichi Akamatsu |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 徳島大学(略称：徳島大) Tokushima University(略称：Tokushima Univ) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 四柳 浩之 / Hiroyuki Yotsuyanagi |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 徳島大学(略称：徳島大) Tokushima University(略称：Tokushima Univ) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 橋爪 正樹 / Masaki Hashizume |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 徳島大学(略称：徳島大) Tokushima University(略称：Tokushima Univ) |
| 発表年月日 | 2022-11-28 |
| 資料番号 | VLD2022-23,ICD2022-40,DC2022-39,RECONF2022-46 |
| 巻番号（vol） | vol.122 |
| 号番号（no） | VLD-283,ICD-284,DC-285,RECONF-286 |
| ページ範囲 | pp.25-30(VLD), pp.25-30(ICD), pp.25-30(DC), pp.25-30(RECONF), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2022-11-21 (VLD, ICD, DC, RECONF) |