講演名 | 2022-11-17 安全関連系のDUフォールトに対する最適保全実施間隔 井上 真二(関西大), 山田 茂(鳥取大), |
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キーワード(和) | |
キーワード(英) | |
資料番号 | R2022-41 |
発行日 | 2022-11-10 (R) |
研究会情報 | |
研究会 | R |
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開催期間 | 2022/11/17(から1日開催) |
開催地(和) | オンライン開催 |
開催地(英) | Online |
テーマ(和) | 半導体と電子デバイスの信頼性、信頼性一般 |
テーマ(英) | Reliability of semiconductor and electronic devices, Reliability general |
委員長氏名(和) | 土肥 正(広島大) |
委員長氏名(英) | Tadashi Dohi(Hiroshima Univ.) |
副委員長氏名(和) | 門田 靖(リコー) |
副委員長氏名(英) | Yasushi Kadota(Ricoh) |
幹事氏名(和) | 岡村 寛之(広島大) / 井上 真二(関西大) |
幹事氏名(英) | Hiroyuki Okamura(Hiroshima Univ.) / Shinji Inoue(Kansai Univ.) |
幹事補佐氏名(和) | 横川 慎二(電通大) / 吉川 隆英(富士通研) / 作村 建紀(法政大) |
幹事補佐氏名(英) | Shinji Yokogawa(Univ. of Electro-Comm.) / Takahide Yoshikawa(Fujitsu Lab.) / Takenori Sakumura(Housei Univ.) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Technical Committee on Reliability |
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本文の言語 | ENG-JTITLE |
タイトル(和) | 安全関連系のDUフォールトに対する最適保全実施間隔 |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | Optimal Maintenance Interval for DU Fault of Safety-Related System |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | |
第 1 著者 氏名(和/英) | 井上 真二 / Shinji Inoue |
第 1 著者 所属(和/英) | 関西大学(略称:関西大) Kansai University(略称:Kansai Univ.) |
第 2 著者 氏名(和/英) | 山田 茂 / Shigeru Yamada |
第 2 著者 所属(和/英) | 鳥取大学(略称:鳥取大) Tottori Univ(略称:Tottori Univ.) |
発表年月日 | 2022-11-17 |
資料番号 | R2022-41 |
巻番号(vol) | vol.122 |
号番号(no) | R-257 |
ページ範囲 | pp.7-12(R), |
ページ数 | 6 |
発行日 | 2022-11-10 (R) |