講演名 2022-10-19
強誘電性ノンドープHfO2薄膜を用いたMFSFETのしきい値電圧制御に関する検討
田沼 将一(東工大), Joong-Won Shin(東工大), 大見 俊一郎(東工大),
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抄録(和)
抄録(英)
キーワード(和)
キーワード(英)
資料番号 SDM2022-63
発行日 2022-10-12 (SDM)

研究会情報
研究会 SDM
開催期間 2022/10/19(から1日開催)
開催地(和) オンライン開催に変更
開催地(英) Online
テーマ(和) プロセス科学と新プロセス技術
テーマ(英) Process Science and New Process Technology
委員長氏名(和) 大見 俊一郎(東工大)
委員長氏名(英) Shunichiro Ohmi(Tokyo Inst. of Tech.)
副委員長氏名(和) 宇佐美 達矢(日本エーエスエム)
副委員長氏名(英) Tatsuya Usami(ASM Japan)
幹事氏名(和) 諏訪 智之(東北大) / 野田 泰史(パナソニック)
幹事氏名(英) Tomoyuki Suwa(Tohoku Univ.) / Taiji Noda(Panasonic)
幹事補佐氏名(和) 細井 卓治(関西学院大) / 二瀬 卓也(サンディスク)
幹事補佐氏名(英) Takuji Hosoi(Kwansei Gakuin Univ.) / Takuya Futase(SanDisk)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Technical Committee on Silicon Device and Materials
本文の言語 JPN
タイトル(和) 強誘電性ノンドープHfO2薄膜を用いたMFSFETのしきい値電圧制御に関する検討
サブタイトル(和)
タイトル(英) A study on threshold voltage control of MFSFET utilizing ferroelectric nondoped HfO2 thin films
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英)
第 1 著者 氏名(和/英) 田沼 将一 / Masakazu Tanuma
第 1 著者 所属(和/英) 東京工業大学(略称:東工大)
Tokyo Institute of Technology(略称:Tokyo Tech)
第 2 著者 氏名(和/英) Joong-Won Shin / Joong-Won Shin
第 2 著者 所属(和/英) 東京工業大学(略称:東工大)
Tokyo Institute of Technology(略称:Tokyo Tech)
第 3 著者 氏名(和/英) 大見 俊一郎 / Shun-ichiro Ohmi
第 3 著者 所属(和/英) 東京工業大学(略称:東工大)
Tokyo Institute of Technology(略称:Tokyo Tech)
発表年月日 2022-10-19
資料番号 SDM2022-63
巻番号(vol) vol.122
号番号(no) SDM-215
ページ範囲 pp.38-42(SDM),
ページ数 5
発行日 2022-10-12 (SDM)