| 講演名 | 2022-10-14 意図的な電磁妨害により生ずる情報漏えいのモデル化に向けた評価環境の構築 高野 誠也(奈良先端大), 鍛治 秀伍(奈良先端大), 衣川 昌宏(福知山公立大), 藤本 大介(奈良先端大), 林 優一(奈良先端大), |
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| 抄録(和) | 意図的な電磁妨害時に生じる電磁放射によって機器内部の情報が漏えいする脅威が報告されている。これまで、漏えいを引き起こす要素の1つであるデジタルICの入力インピーダンスの周波数特性に着目した漏えい周波数の推定手法が提案されてきたが、適用範囲が出力状態を制御可能なICに限られていた。そこで本稿では、出力状態の制御が困難なICの入力インピーダンスの変化を計測可能な評価環境を構築した。実験では、2種類のD級オーディオアンプICを対象とし、出力状態に応じた入力インピーダンスの変化を評価した。 |
| 抄録(英) | The threats of electromagnetic (EM) information leakage induced by low-power intentional EM interference have been reported. A leakage frequency estimation method has been proposed, focusing on the frequency characteristic of the digital IC's input impedance, which is one of the factors inducing EM information leakage. However, the method only applies to the IC that output states are controllable. This paper shows an evaluation system that can measure changes in the input impedance of ICs, which is difficult to control the output states. In the experiment, two types of D-class audio amplifier ICs were targeted, and we measured the input impedance changes according to the output states. |
| キーワード(和) | 電磁情報漏えい / TEMPEST / IEMI |
| キーワード(英) | EM Information Leakage / TEMPEST / IEMI |
| 資料番号 | EMCJ2022-53,MW2022-99,EST2022-63 |
| 発行日 | 2022-10-06 (EMCJ, MW, EST) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMCJ / MW / EST / IEE-EMC |
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| 開催期間 | 2022/10/13(から2日開催) |
| 開催地（和） | 秋田大学 |
| 開催地（英） | Akita University |
| テーマ（和） | マイクロ波/電磁界シミュレーション/EMC一般 |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | 西方 敦博(東工大) / 末松 憲治(東北大) / 柴山 純(法政大) |
| 委員長氏名（英） | Atsuhiro Nishikata(Tokyo Inst. of Tech.) / Noriharu Suematsu(Tohoku Univ.) / Jun Shibayama(Hosei Univ.) |
| 副委員長氏名（和） | 田島 公博(NTT-AT) / 河合 正(兵庫県立大) / 大久保 賢祐(岡山県立大) / 中溝 英之(三菱電機) / 君島 正幸(アドバンテスト研) / 辻 寧英(室蘭工大) / 大寺 康夫(富山県立大学) |
| 副委員長氏名（英） | Kimihiro Tajima(NTT-AT) / Tadashi Kawai(Univ. of Hyogo) / Kensuke Okubo(Okayama Prefectural Univ.) / Hideyuki Nakamizo(Mitsubishi Electric) / Masayuki Kimishima(Advantest) / Yasuhide Tsuji(Muroran Inst. of Tech.) / Yasuo Ohtera(Toyama Prefectural Univ.) |
| 幹事氏名（和） | 日景 隆(北大) / 高橋 昌義(日立) / 石川 亮(電通大) / 河口 民雄(東芝) / 阪本 卓也(京大) / 安藤 芳晃(電通大) |
| 幹事氏名（英） | Takashi Hikage(Hokkaido Univ.) / Masayoshi Takahashi(Hitachi) / Ryo Ishikawa(Univ. of Electro-Comm) / Tamio Kawaguchi(Toshiba) / Takuya Sakamoto(yoto Univ.) / Yoshiaki Ando(Univ. of Electro-Comm) |
| 幹事補佐氏名（和） | 松島 清人(日立) / 緒方 健二(直鞍情報・産業振興協会) / 松嶋 徹(九工大) / 長谷川 直輝(ソフトバンク) / 片山 光亮(徳山高専) / 岸本 誠也(日大) / 井口 亜希人(室蘭工大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Kiyoto Matsushima(Hitachi) / Kenji Ogata(ADOX) / Toru Matsushima(Kyushu Inst. of Tech.) / Naoki Hasegawa(Softbank) / Kosuke Katayama(NIT Tokuyama College) / Seiya Kishimoto(Nihon Univ.) / Akito Iguchi(Muroran Inst. of Tech) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Electromagnetic Compatibility / Technical Committee on Microwaves / Technical Committee on Electronics Simulation Technology / Technical Meeting on Electromagnetic Compatibility |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 意図的な電磁妨害により生ずる情報漏えいのモデル化に向けた評価環境の構築 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Development of an Evaluation System for Modeling of Information Leakage Induced by Low-Power IEMI |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 電磁情報漏えい / EM Information Leakage |
| キーワード(2)（和/英） | TEMPEST / TEMPEST |
| キーワード(3)（和/英） | IEMI / IEMI |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 高野 誠也 / Seiya Takano |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学(略称：奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology(略称：NAIST) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 鍛治 秀伍 / Shugo Kaji |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学(略称：奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology(略称：NAIST) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 衣川 昌宏 / Masahiro Kinugawa |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 福知山公立大学(略称：福知山公立大) The University of Fukuchiyama(略称：Univ. of Fukuchiyama) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 藤本 大介 / Daisuke Fujimoto |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学(略称：奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology(略称：NAIST) |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 林 優一 / Yuichi Hayashi |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学(略称：奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology(略称：NAIST) |
| 発表年月日 | 2022-10-14 |
| 資料番号 | EMCJ2022-53,MW2022-99,EST2022-63 |
| 巻番号（vol） | vol.122 |
| 号番号（no） | EMCJ-206,MW-207,EST-208 |
| ページ範囲 | pp.93-96(EMCJ), pp.93-96(MW), pp.93-96(EST), |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | 2022-10-06 (EMCJ, MW, EST) |