| 講演名 | 2022-10-25 ハードウェアトロージャン検出に向けた光学顕微鏡による半導体デバイスの観察 坂根 広史(産総研), 坂本 純一(産総研), 川村 信一(産総研), 永田 真(神戸大), 林 優一(奈良先端大), |
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| 抄録(和) | 本稿ではハードウェアトロージャン(HT)の半導体デバイスへの挿入を想定し, ベンダーが設計したデバイスを, 外部ファブにて製造し, ベンダーに納品されたデバイスにHTが挿入されていないかを検証するシナリオを考える. ベンダーは自身の設計データを参照情報（ゴールデンデータ）として, 物理的なデバイスがこれに一致しているか確認する. デバイスをリバースエンジニアリングして設計データを完全に再現できれば理論上HTを検出できるが, コストと再現精度が課題となる. 本稿では必ずしも100%の検出を目指すのではなく, 比較的安価で簡易な手段によってどのようなHTが検知可能かを明らかにすることを目標とし, その第一報として光学顕微鏡を用いたデバイス観察によって得られた情報について報告する. |
| 抄録(英) | In this paper we focus on detection of hardware Trojan (HT) in semiconductor devices under a scenario with following steps: first, a device vendor designs a semiconductor device, next, the vendor asks its manufacturing to an offshore fabrication, then, the vendor verifies if the device is infected by HT or not. In this scenario, we assume that the vendor owns the original design data as the golden data, and he can possibly find HT by comparing the golden data and the manufactured device. If the device is successfully reverse engineered, most HTs can be detected theoretically. In reality, the cost and accuracy of reverse engineering become vital issues as the circuit size increases, and this approach may be unrealistic. In this paper, instead of aiming at 100% successful detection, we rather aim at making it clear what kind of HT can be detected with a moderate cost. Our first report here is showing the result of optical microscopic observation of semiconductor devices. |
| キーワード(和) | ハードウェアトロージャン / 半導体チップ / 光学顕微鏡 / 可視光 / 近赤外光 |
| キーワード(英) | Hardware Trojan / Semiconductor Chip / Optical microscope / Visible light / Near infrared light |
| 資料番号 | HWS2022-34,ICD2022-26 |
| 発行日 | 2022-10-18 (HWS, ICD) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | HWS / ICD |
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| 開催期間 | 2022/10/25(から1日開催) |
| 開催地（和） | 立命館びわこくさつキャンパス |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | ハードウェアセキュリティ，一般 |
| テーマ（英） | Hardware Security, etc. |
| 委員長氏名（和） | 永田 真(神戸大) / 高橋 真史(キオクシア) |
| 委員長氏名（英） | Makoto Nagata(Kobe Univ.) / Masafumi Takahashi(Kioxia) |
| 副委員長氏名（和） | 林 優一(奈良先端大) / 鈴木 大輔(三菱電機) / 池田 誠(東大) |
| 副委員長氏名（英） | Yuichi Hayashi(NAIST) / Daisuke Suzuki(Mitsubishi Electric) / Makoto Ikeda(Univ. of Tokyo) |
| 幹事氏名（和） | 山本 弘毅(ソニーセミコンダクタソリューションズ) / 藤本 大介(奈良先端大) / 新居 浩二(TSMCデザインテクノロジージャパン) / 宮地 幸祐(信州大) |
| 幹事氏名（英） | Hirotake Yamamotoi(Sony Semiconductor Solutions) / Daisuke Fujimotoi(NAIST) / Koji Nii(TSMC) / Kosuke Miyaji(Shinshu Univ.) |
| 幹事補佐氏名（和） | / 吉原 義昭(キオクシア) / 塩見 準(阪大) / 久保木 猛(ソニーセミコンダクタソリューションズ) |
| 幹事補佐氏名（英） | / Yoshiaki Yoshihara(KIOXIA) / Jun Shiomi(Osaka Univ.) / Takeshi Kuboki(Sony Semiconductor Solutions) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Hardware Security / Technical Committee on Integrated Circuits and Devices |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | ハードウェアトロージャン検出に向けた光学顕微鏡による半導体デバイスの観察 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Optical Microscopic Observation of Semiconductor Devices toward Hardware Trojan Detection |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | ハードウェアトロージャン / Hardware Trojan |
| キーワード(2)（和/英） | 半導体チップ / Semiconductor Chip |
| キーワード(3)（和/英） | 光学顕微鏡 / Optical microscope |
| キーワード(4)（和/英） | 可視光 / Visible light |
| キーワード(5)（和/英） | 近赤外光 / Near infrared light |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 坂根 広史 / Hirofumi Sakane |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所(略称：産総研) National Institute of Advanced Industrial Science and Technology(略称：AIST) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 坂本 純一 / Junichi Sakamoto |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所(略称：産総研) National Institute of Advanced Industrial Science and Technology(略称：AIST) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 川村 信一 / Shinichi Kawamura |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所(略称：産総研) National Institute of Advanced Industrial Science and Technology(略称：AIST) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 永田 真 / Makoto Nagata |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 神戸大学(略称：神戸大) Kobe University(略称：Kobe Univ.) |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 林 優一 / Yuichi Hayashi |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学(略称：奈良先端大) NARA Institute of Science and Technology(略称：NAIST) |
| 発表年月日 | 2022-10-25 |
| 資料番号 | HWS2022-34,ICD2022-26 |
| 巻番号（vol） | vol.122 |
| 号番号（no） | HWS-227,ICD-228 |
| ページ範囲 | pp.23-28(HWS), pp.23-28(ICD), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2022-10-18 (HWS, ICD) |