| 講演名 | 2022-07-27 ゲート網羅故障のテスト生成高速化のためのブロック分割手法 溝田 桃菜(日大), 細川 利典(日大), 吉村 正義(京都産大), |
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| 抄録(和) | セル内の欠陥を網羅するゲート網羅故障モデルはゲート数と故障数が比例の関係にあるため，ゲート数が増大すると故障数やテストパターン数が増大する．それゆえ，テストパターン数を削減するために，動的テスト圧縮法の1つであるゲート網羅故障に対する多重目標故障テスト生成法が提案されている．しかしながら，ゲート網羅故障に対する多重目標故障テスト生成では，テスト生成時間が課題となっている．またテスト生成の対象となるゲート網羅故障数を削減するためにセル単位で故障を定義せずに，ブロック単位で故障を定義する領域網羅故障モデルが提案されている．領域網羅故障が定義されるブロックは，ゲート網羅故障数よりも定義される故障数が少なくなるように構成されている．しかしながら，領域網羅故障の故障検出率の低下やテスパターン数の増加が課題となっている．本論文では，故障検出率の低下を抑制しながら領域網羅故障数を削減するためのブロック分割手法を提案する，ISCAS89ベンチマーク回路に対する実験結果は，従来のゲート網羅故障と比較して，平均でテスト生成時間を37.94％削減し，故障数を30.65％削減し，テストパターン数を16.75％削減した．また，従来の領域網羅故障と比較して, 平均で故障検出率を6.97％向上させたことを示す． |
| 抄録(英) | In gate-exhaustive fault model which covers defects in cells, since the number of faults is proportion to that of gates, the numbers of faults and test patterns increase with the increasing in the number of gates. Therefore, for gate-exhaustive faults, a multiple target test generation method which is one of dynamic test compaction methods has been proposed to reduce the number of test patterns. However, the test generation time is problem. Also, region-exhaustive fault model which is defined in block units without defining faults in cell units has been proposed to reduce the number of faults for the test generation. Blocks where region-exhaustive faults are defined was configured such that the number of defined faults is smaller than that of gate -exhaustive faults. However, there are problems such as a decrease in fault coverage for region-exhaustive faults and an increase in the number of test patterns. In this paper, we propose a block partitioning method to reduce the number of region-exhaustive faults while maintaining fault coverage for gate-exhaustive faults. The experimental results for ISCAS89 benchmark circuits showed that the proposed block partitioning method reduced the test generation time by 37.94%, reduced the number of faults by 30.65%, reduced the number of test patterns by 16.75%, and increased the fault coverage for gate-exhaustive faults by 6.97% on average compared to the conventional block partitioning method. |
| キーワード(和) | ゲート網羅故障モデル / 多重目標故障テスト生成法 / 領域網羅故障 / ブロック分割 / テスト不能故障 |
| キーワード(英) | gate-exhaustive fault model / multiple target test generation / region-exhaustive faults / block partitioning / untestable faults |
| 資料番号 | CPSY2022-3,DC2022-3 |
| 発行日 | 2022-07-20 (CPSY, DC) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | CPSY / DC / IPSJ-ARC |
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| 開催期間 | 2022/7/27(から3日開催) |
| 開催地（和） | 海峡メッセ下関 |
| 開催地（英） | Kaikyo Messe Shimonoseki |
| テーマ（和） | SWoPP2022: 並列／分散／協調システムとディペンダブルコンピューティングおよび一般 |
| テーマ（英） | SWoPP2022: Parallel, Distributed and Cooperative Processing Systems and Dependable Computing |
| 委員長氏名（和） | 鯉渕 道紘(NII) / 土屋 達弘(阪大) / 津邑 公暁(名工大) |
| 委員長氏名（英） | Michihiro Koibuchi(NII) / Tatsuhiro Tsuchiya(Osaka Univ.) / 津邑 公暁(名工大) |
| 副委員長氏名（和） | 中島 耕太(富士通研) / 津邑 公暁(名工大) / 細川 利典(日大) |
| 副委員長氏名（英） | Kota Nakajima(Fujitsu Lab.) / Tomoaki Tsumura(Nagoya Inst. of Tech.) / Toshinori Hosokawa(Nihon Univ.) |
| 幹事氏名（和） | 井口 寧(北陸先端大) / 小川 周吾(日立) / 新井 雅之(日大) / 難波 一輝(千葉大) / 今村 智史(富士通研) / 谷本 輝夫(九大) / 新田 高庸(会津大) / 八巻 隼人(電通大) |
| 幹事氏名（英） | Yasushi Inoguchi(JAIST) / Shugo Ogawa(Hitachi) / Masayuki Arai(Nihon Univ.) / Kazuteru Namba(Chiba Univ.) / 今村 智史(富士通研) / 谷本 輝夫(九大) / 新田 高庸(会津大) / 八巻 隼人(電通大) |
| 幹事補佐氏名（和） | 小林 諒平(筑波大) / 宮島 敬明(明大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Ryohei Kobayashi(Tsukuba Univ.) / Takaaki Miyajima(Meiji Univ.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Computer Systems / Technical Committee on Dependable Computing / Special Interest Group on System Architecture |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | ゲート網羅故障のテスト生成高速化のためのブロック分割手法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Block Partitioning Method to Accelerate Test Generation for Gate-Exhaustive Faults |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | ゲート網羅故障モデル / gate-exhaustive fault model |
| キーワード(2)（和/英） | 多重目標故障テスト生成法 / multiple target test generation |
| キーワード(3)（和/英） | 領域網羅故障 / region-exhaustive faults |
| キーワード(4)（和/英） | ブロック分割 / block partitioning |
| キーワード(5)（和/英） | テスト不能故障 / untestable faults |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 溝田 桃菜 / Momona Mizota |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 日本大学(略称：日大) Nihon University(略称：Nihon Univ.) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 細川 利典 / Toshinori Hosokawa |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 日本大学(略称：日大) Nihon University(略称：Nihon Univ.) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 吉村 正義 / Masayoshi Yoshimura |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 京都産業大学(略称：京都産大) Kyoto Sangyou University(略称：Kyoto Sangyou Univ.) |
| 発表年月日 | 2022-07-27 |
| 資料番号 | CPSY2022-3,DC2022-3 |
| 巻番号（vol） | vol.122 |
| 号番号（no） | CPSY-133,DC-134 |
| ページ範囲 | pp.13-18(CPSY), pp.13-18(DC), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2022-07-20 (CPSY, DC) |