講演名 2022-07-19
レーザー検知機能付き暗号回路のダブルスポットレーザーによるセキュリティ評価
近野 真生(横浜国大), 吉田 直樹(横浜国大), 坂本 純一(横浜国大), 林 俊吾(横浜国大), 松本 勉(横浜国大),
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抄録(和) フォールト攻撃は,デバイスに意図的にフォールト(障害)を注入して誤動作を引き起こし,それを観測して内部の秘密情報を解析しようと試みる攻撃方法である.精密なフォールト注入が可能であるレーザー照射を利用する攻撃は特に強力であり,それに対する対策技術の開発が求められている.本稿では,先行研究で提案されたフルディジタルのレーザー検知回路を含むFPGA実装の暗号回路でシングルレーザー照射攻撃には耐えられるとされるものに対し、ダブルスポットレーザー照射によるセキュリティ評価を行った結果を報告する.
抄録(英) A fault injection attack is an attack method that intentionally injects faults into a device to cause it to malfunction, and then attempts to observe the malfunction and analyze the internal confidential information. Attacks using laser irradiation, which enables precise fault injection, are particularly powerful, and development of countermeasures against them is required. In this article, we report the results of security evaluation by double-spot laser irradiation against an FPGA-implemented cryptographic circuit including a full-digital laser detection circuit proposed in a previous study, which is said to withstand a single laser irradiation attack.
キーワード(和) 実装攻撃 / フォールト攻撃 / レーザー / レーザー検知 / セキュリティ / FPGA
キーワード(英) Implementation Attack / Fault Injection Attack / Laser / Laser Detection / Security / FPGA
資料番号 ISEC2022-16,SITE2022-20,BioX2022-41,HWS2022-16,ICSS2022-24,EMM2022-24
発行日 2022-07-12 (ISEC, SITE, BioX, HWS, ICSS, EMM)

研究会情報
研究会 EMM / BioX / ISEC / SITE / ICSS / HWS / IPSJ-CSEC / IPSJ-SPT
開催期間 2022/7/19(から2日開催)
開催地(和) オンライン開催
開催地(英) Online
テーマ(和) セキュリティ、一般 (セキュリティサマーサミット2022)
テーマ(英)
委員長氏名(和) 西村 竜一(NICT) / 今岡 仁(NEC) / 國廣 昇(筑波大学) / 大谷 卓史(吉備国際大) / 吉岡 克成(横浜国大) / 永田 真(神戸大)
委員長氏名(英) Ryoichi Nishimura(NICT) / Hitoshi Imaoka(NEC) / Noboru Kunihiro(Tsukuba Univ.) / Takushi Otani(Kibi International Univ.) / Katsunari Yoshioka(Yokohama National Univ.) / Makoto Nagata(Kobe Univ.)
副委員長氏名(和) 薗田 光太郎(長崎大) / 市野 将嗣(電通大) / 奥井 宣広(KDDI総合研究所) / 高田 直幸(セコム) / 四方 順司(横浜国大) / 花岡 悟一郎(産総研) / 森下 壮一郎(サイバーエージェント) / 辰己 丈夫(放送大) / 笠間 貴弘(NICT) / 林 優一(奈良先端大) / 鈴木 大輔(三菱電機)
副委員長氏名(英) Kotaro Sonoda(Nagasaki Univ.) / Masatsugu Ichino(Univ. of Electro-Comm.) / Norihiko Okui(KDDI Research) / Naoyuki Takada(SECOM) / Junji Shikata(Yokohama National Univ.) / Goichiro Hanaoka(AIST) / Soichiro Morishita(Cyber Agent) / Takeo Tatsumi(Open Univ. of Japan) / Takahiro Kasama(NICT) / Yuichi Hayashi(NAIST) / Daisuke Suzuki(Mitsubishi Electric)
幹事氏名(和) 高嶋 洋一(開志専門職大) / 今泉 祥子(千葉大) / 早坂 昭裕(NEC) / 佐野 恵美子(三菱電機) / 松田 隆宏(産総研) / 米山 一樹(茨城大) / 藤井 秀之(NRIセキュアテクノロジー) / 鈴木 大助(北陸大) / 山田 明(KDDI labs.) / 山内 利宏(岡山大) / 山本 弘毅(ソニーセミコンダクタソリューションズ) / 藤本 大介(奈良先端大)
幹事氏名(英) Youichi Takashima(Kaishi Professional Univ.) / Shoko Imaizumi(Chiba Univ.) / Akihiro Hayasaka(NEC) / Emiko Sano(MitsubishiElectric) / Takahiro Matsuda(AIST) / Kazuki Yoneyama(Ibaraki Univ.) / Hideyuki Fujii(NRI-Secure) / Daisuke Suzuki(Hokuriku Univ.) / Akira Yamada(KDDI labs.) / Toshihiro Yamauchi(Okayama Univ.) / Hirotake Yamamotoi(SSS) / Daisuke Fujimotoi(NAIST)
幹事補佐氏名(和) 梶山 朋子(広島市大) / 酒澤 茂之(大阪工大) / 鈴木 裕之(群馬大) / 白川 真一(横浜国大) / 花谷 嘉一(東芝) / 橘 雄介(福岡工業大) / 木藤 圭亮(三菱電機) / 菅原 健(電通大) / 鐘本 楊(NTT)
幹事補佐氏名(英) Tomoko Kajiyama(Hiroshima City Univ.) / Shieyuki Sakazawa(Osaka Inst. of Tech.) / Hiroyuki Suzuki(Gunma Univ) / Shinichi Shirakawa(Yokohama National Univ.) / Yoshikazu Hanatani(Toshiba) / Yusuke Tachibana(Fukuoka Inst. of Tech.) / Keisuke Kito(Mitsubishi Electric) / Takeshi Sugawara(Univ. of Electro-Comm.) / Yo Kanemoto(NTT)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Technical Committee on Enriched MultiMedia / Technical Committee on Biometrics / Technical Committee on Information Security / Technical Committee on Social Implications of Technology and Information Ethics / Technical Committee on Information and Communication System Security / Technical Committee on Hardware Security / Special Interest Group on Computer Security / Special Interest Group on Security Psychology and Trust
本文の言語 JPN
タイトル(和) レーザー検知機能付き暗号回路のダブルスポットレーザーによるセキュリティ評価
サブタイトル(和)
タイトル(英) Security Evaluation of Cryptographic Circuits with Laser Sensors by Double-Spot Laser Irradiation
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 実装攻撃 / Implementation Attack
キーワード(2)(和/英) フォールト攻撃 / Fault Injection Attack
キーワード(3)(和/英) レーザー / Laser
キーワード(4)(和/英) レーザー検知 / Laser Detection
キーワード(5)(和/英) セキュリティ / Security
キーワード(6)(和/英) FPGA / FPGA
第 1 著者 氏名(和/英) 近野 真生 / Masaki Chikano
第 1 著者 所属(和/英) 横浜国立大学(略称:横浜国大)
Yokohama National University(略称:YNU)
第 2 著者 氏名(和/英) 吉田 直樹 / Naoki Yoshida
第 2 著者 所属(和/英) 横浜国立大学(略称:横浜国大)
Yokohama National University(略称:YNU)
第 3 著者 氏名(和/英) 坂本 純一 / Junichi Sakamoto
第 3 著者 所属(和/英) 横浜国立大学(略称:横浜国大)
Yokohama National University(略称:YNU)
第 4 著者 氏名(和/英) 林 俊吾 / Syungo Hayashi
第 4 著者 所属(和/英) 横浜国立大学(略称:横浜国大)
Yokohama National University(略称:YNU)
第 5 著者 氏名(和/英) 松本 勉 / Tsutomu Matsumoto
第 5 著者 所属(和/英) 横浜国立大学(略称:横浜国大)
Yokohama National University(略称:YNU)
発表年月日 2022-07-19
資料番号 ISEC2022-16,SITE2022-20,BioX2022-41,HWS2022-16,ICSS2022-24,EMM2022-24
巻番号(vol) vol.122
号番号(no) ISEC-122,SITE-123,BioX-124,HWS-125,ICSS-126,EMM-127
ページ範囲 pp.52-57(ISEC), pp.52-57(SITE), pp.52-57(BioX), pp.52-57(HWS), pp.52-57(ICSS), pp.52-57(EMM),
ページ数 6
発行日 2022-07-12 (ISEC, SITE, BioX, HWS, ICSS, EMM)