| 講演名 | 2022-07-19 電磁リレーへの静磁界攻撃とその対策に関する検討 大和田 拓実(横浜国大), 橘 和樹(横浜国大), 松本 勉(横浜国大), |
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| 抄録(和) | スイッチやセンサをはじめとして多くの電気・電子機器にリレーが用いられている．リレーには電磁石によって接点を操作して回路の開閉を切り替える電磁リレーがある．電磁リレーに対して強力な磁界を与えることで接点を不正に接続し，システムを不正に操作する攻撃が考えられる．この種の攻撃は大きな脅威となる可能性があるにもかかわらず，これまで磁界による意図的な誤作動をセキュリティの観点から取り扱った事例は，ほとんど明示されていなかった．そこで本報告では，強力な磁石の利用により電磁リレーの誤作動が，リレーを含む機器の外部からでも起こり得ることを明確に示し，電磁リレーに対する静磁界を用いた攻撃とその対策につき考察する． |
| 抄録(英) | Relays are used in many electrical and electronic devices, including switches and sensors. Some relays are electromagnetic relays, which switch circuits open and closed by operating the contacts with electromagnets. An attacker could illegally connect the contacts by applying a strong magnetic field to the electromagnetic relay and manipulate the system. Although this type of attack has the potential to pose a significant threat, there have been no explicit examples of intentional malfunctions caused by magnetostatic fields from a security perspective. In this report, we show clearly that electromagnetic relay malfunctions can be caused by the use of strong magnets even from outside the equipment containing the relay, and discuss attacks using static magnetic fields on electromagnetic relays and countermeasures against them. |
| キーワード(和) | EMC / 電磁石 / 磁石 / 永久磁石 / 静磁界 / セキュリティ |
| キーワード(英) | EMC / electromagnetic relay / electromagnet / permanent magnet / magnetostatic field / security |
| 資料番号 | ISEC2022-14,SITE2022-18,BioX2022-39,HWS2022-14,ICSS2022-22,EMM2022-22 |
| 発行日 | 2022-07-12 (ISEC, SITE, BioX, HWS, ICSS, EMM) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMM / BioX / ISEC / SITE / ICSS / HWS / IPSJ-CSEC / IPSJ-SPT |
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| 開催期間 | 2022/7/19(から2日開催) |
| 開催地（和） | オンライン開催 |
| 開催地（英） | Online |
| テーマ（和） | セキュリティ、一般 （セキュリティサマーサミット2022） |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | 西村 竜一(NICT) / 今岡 仁(NEC) / 國廣 昇(筑波大学) / 大谷 卓史(吉備国際大) / 吉岡 克成(横浜国大) / 永田 真(神戸大) |
| 委員長氏名（英） | Ryoichi Nishimura(NICT) / Hitoshi Imaoka(NEC) / Noboru Kunihiro(Tsukuba Univ.) / Takushi Otani(Kibi International Univ.) / Katsunari Yoshioka(Yokohama National Univ.) / Makoto Nagata(Kobe Univ.) |
| 副委員長氏名（和） | 薗田 光太郎(長崎大) / 市野 将嗣(電通大) / 奥井 宣広(KDDI総合研究所) / 高田 直幸(セコム) / 四方 順司(横浜国大) / 花岡 悟一郎(産総研) / 森下 壮一郎(サイバーエージェント) / 辰己 丈夫(放送大) / 笠間 貴弘(NICT) / 林 優一(奈良先端大) / 鈴木 大輔(三菱電機) |
| 副委員長氏名（英） | Kotaro Sonoda(Nagasaki Univ.) / Masatsugu Ichino(Univ. of Electro-Comm.) / Norihiko Okui(KDDI Research) / Naoyuki Takada(SECOM) / Junji Shikata(Yokohama National Univ.) / Goichiro Hanaoka(AIST) / Soichiro Morishita(Cyber Agent) / Takeo Tatsumi(Open Univ. of Japan) / Takahiro Kasama(NICT) / Yuichi Hayashi(NAIST) / Daisuke Suzuki(Mitsubishi Electric) |
| 幹事氏名（和） | 高嶋 洋一(開志専門職大) / 今泉 祥子(千葉大) / 早坂 昭裕(NEC) / 佐野 恵美子(三菱電機) / 松田 隆宏(産総研) / 米山 一樹(茨城大) / 藤井 秀之(NRIセキュアテクノロジー) / 鈴木 大助(北陸大) / 山田 明(KDDI labs.) / 山内 利宏(岡山大) / 山本 弘毅(ソニーセミコンダクタソリューションズ) / 藤本 大介(奈良先端大) |
| 幹事氏名（英） | Youichi Takashima(Kaishi Professional Univ.) / Shoko Imaizumi(Chiba Univ.) / Akihiro Hayasaka(NEC) / Emiko Sano(MitsubishiElectric) / Takahiro Matsuda(AIST) / Kazuki Yoneyama(Ibaraki Univ.) / Hideyuki Fujii(NRI-Secure) / Daisuke Suzuki(Hokuriku Univ.) / Akira Yamada(KDDI labs.) / Toshihiro Yamauchi(Okayama Univ.) / Hirotake Yamamotoi(SSS) / Daisuke Fujimotoi(NAIST) |
| 幹事補佐氏名（和） | 梶山 朋子(広島市大) / 酒澤 茂之(大阪工大) / 鈴木 裕之(群馬大) / 白川 真一(横浜国大) / 花谷 嘉一(東芝) / 橘 雄介(福岡工業大) / 木藤 圭亮(三菱電機) / 菅原 健(電通大) / 鐘本 楊(NTT) |
| 幹事補佐氏名（英） | Tomoko Kajiyama(Hiroshima City Univ.) / Shieyuki Sakazawa(Osaka Inst. of Tech.) / Hiroyuki Suzuki(Gunma Univ) / Shinichi Shirakawa(Yokohama National Univ.) / Yoshikazu Hanatani(Toshiba) / Yusuke Tachibana(Fukuoka Inst. of Tech.) / Keisuke Kito(Mitsubishi Electric) / Takeshi Sugawara(Univ. of Electro-Comm.) / Yo Kanemoto(NTT) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Enriched MultiMedia / Technical Committee on Biometrics / Technical Committee on Information Security / Technical Committee on Social Implications of Technology and Information Ethics / Technical Committee on Information and Communication System Security / Technical Committee on Hardware Security / Special Interest Group on Computer Security / Special Interest Group on Security Psychology and Trust |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 電磁リレーへの静磁界攻撃とその対策に関する検討 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Security Assessment and Countermeasures for Magnetic Malfunction of Electromagnetic Relays |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | EMC / EMC |
| キーワード(2)（和/英） | 電磁石 / electromagnetic relay |
| キーワード(3)（和/英） | 磁石 / electromagnet |
| キーワード(4)（和/英） | 永久磁石 / permanent magnet |
| キーワード(5)（和/英） | 静磁界 / magnetostatic field |
| キーワード(6)（和/英） | セキュリティ / security |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 大和田 拓実 / Takumi Owada |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 横浜国立大学(略称：横浜国大) Yokohama National University(略称：YNU) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 橘 和樹 / Kazuki Tachibana |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 横浜国立大学(略称：横浜国大) Yokohama National University(略称：YNU) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 松本 勉 / Tsutomu Matsumoto |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 横浜国立大学(略称：横浜国大) Yokohama National University(略称：YNU) |
| 発表年月日 | 2022-07-19 |
| 資料番号 | ISEC2022-14,SITE2022-18,BioX2022-39,HWS2022-14,ICSS2022-22,EMM2022-22 |
| 巻番号（vol） | vol.122 |
| 号番号（no） | ISEC-122,SITE-123,BioX-124,HWS-125,ICSS-126,EMM-127 |
| ページ範囲 | pp.40-45(ISEC), pp.40-45(SITE), pp.40-45(BioX), pp.40-45(HWS), pp.40-45(ICSS), pp.40-45(EMM), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2022-07-12 (ISEC, SITE, BioX, HWS, ICSS, EMM) |