| 講演名 | 2022-07-19 深層学習を用いた非プロファイル型サイドチャネル解析の再考 今福 健太郎(産総研), 川村 信一(産総研), 野﨑 華恵(産総研), 坂本 純一(産総研), 大須賀 彩希(産総研), |
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| 抄録(和) | 深層学習を用いた非プロファイル型のサイドチャネル解析について，セキュリティ解析としての位置付けや解析の背後にある基本的なアイディアを概説した後，従来法では秘密情報の候補数と同じ数の学習過程が必要であり計算リソースへの要求も大きかったところ，候補数に依らない一回分の学習のみで済む新しいタイプの非プロファイル型サイドチャネル解析を提案する． |
| 抄録(英) | After a brief review of non-profile side channel analysis using deep learning, we propose some improved versions of the original analysis. The proposed versions require only one learning process, regardless of the number of candidate secret information, and differ from the original, which requires the same number of learning processes as the number of candidates. |
| キーワード(和) | サイドチャネル解析 / 深層学習 / 非プロファイル型解析 / 高効率化 / 確率の加法性 |
| キーワード(英) | Side Channel Analysis / Deep Learning / Non Profiled Analysis / Efficiency Improvement / Principle of Additivity |
| 資料番号 | ISEC2022-8,SITE2022-12,BioX2022-33,HWS2022-8,ICSS2022-16,EMM2022-16 |
| 発行日 | 2022-07-12 (ISEC, SITE, BioX, HWS, ICSS, EMM) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMM / BioX / ISEC / SITE / ICSS / HWS / IPSJ-CSEC / IPSJ-SPT |
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| 開催期間 | 2022/7/19(から2日開催) |
| 開催地（和） | オンライン開催 |
| 開催地（英） | Online |
| テーマ（和） | セキュリティ、一般 （セキュリティサマーサミット2022） |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | 西村 竜一(NICT) / 今岡 仁(NEC) / 國廣 昇(筑波大学) / 大谷 卓史(吉備国際大) / 吉岡 克成(横浜国大) / 永田 真(神戸大) |
| 委員長氏名（英） | Ryoichi Nishimura(NICT) / Hitoshi Imaoka(NEC) / Noboru Kunihiro(Tsukuba Univ.) / Takushi Otani(Kibi International Univ.) / Katsunari Yoshioka(Yokohama National Univ.) / Makoto Nagata(Kobe Univ.) |
| 副委員長氏名（和） | 薗田 光太郎(長崎大) / 市野 将嗣(電通大) / 奥井 宣広(KDDI総合研究所) / 高田 直幸(セコム) / 四方 順司(横浜国大) / 花岡 悟一郎(産総研) / 森下 壮一郎(サイバーエージェント) / 辰己 丈夫(放送大) / 笠間 貴弘(NICT) / 林 優一(奈良先端大) / 鈴木 大輔(三菱電機) |
| 副委員長氏名（英） | Kotaro Sonoda(Nagasaki Univ.) / Masatsugu Ichino(Univ. of Electro-Comm.) / Norihiko Okui(KDDI Research) / Naoyuki Takada(SECOM) / Junji Shikata(Yokohama National Univ.) / Goichiro Hanaoka(AIST) / Soichiro Morishita(Cyber Agent) / Takeo Tatsumi(Open Univ. of Japan) / Takahiro Kasama(NICT) / Yuichi Hayashi(NAIST) / Daisuke Suzuki(Mitsubishi Electric) |
| 幹事氏名（和） | 高嶋 洋一(開志専門職大) / 今泉 祥子(千葉大) / 早坂 昭裕(NEC) / 佐野 恵美子(三菱電機) / 松田 隆宏(産総研) / 米山 一樹(茨城大) / 藤井 秀之(NRIセキュアテクノロジー) / 鈴木 大助(北陸大) / 山田 明(KDDI labs.) / 山内 利宏(岡山大) / 山本 弘毅(ソニーセミコンダクタソリューションズ) / 藤本 大介(奈良先端大) |
| 幹事氏名（英） | Youichi Takashima(Kaishi Professional Univ.) / Shoko Imaizumi(Chiba Univ.) / Akihiro Hayasaka(NEC) / Emiko Sano(MitsubishiElectric) / Takahiro Matsuda(AIST) / Kazuki Yoneyama(Ibaraki Univ.) / Hideyuki Fujii(NRI-Secure) / Daisuke Suzuki(Hokuriku Univ.) / Akira Yamada(KDDI labs.) / Toshihiro Yamauchi(Okayama Univ.) / Hirotake Yamamotoi(SSS) / Daisuke Fujimotoi(NAIST) |
| 幹事補佐氏名（和） | 梶山 朋子(広島市大) / 酒澤 茂之(大阪工大) / 鈴木 裕之(群馬大) / 白川 真一(横浜国大) / 花谷 嘉一(東芝) / 橘 雄介(福岡工業大) / 木藤 圭亮(三菱電機) / 菅原 健(電通大) / 鐘本 楊(NTT) |
| 幹事補佐氏名（英） | Tomoko Kajiyama(Hiroshima City Univ.) / Shieyuki Sakazawa(Osaka Inst. of Tech.) / Hiroyuki Suzuki(Gunma Univ) / Shinichi Shirakawa(Yokohama National Univ.) / Yoshikazu Hanatani(Toshiba) / Yusuke Tachibana(Fukuoka Inst. of Tech.) / Keisuke Kito(Mitsubishi Electric) / Takeshi Sugawara(Univ. of Electro-Comm.) / Yo Kanemoto(NTT) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Enriched MultiMedia / Technical Committee on Biometrics / Technical Committee on Information Security / Technical Committee on Social Implications of Technology and Information Ethics / Technical Committee on Information and Communication System Security / Technical Committee on Hardware Security / Special Interest Group on Computer Security / Special Interest Group on Security Psychology and Trust |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 深層学習を用いた非プロファイル型サイドチャネル解析の再考 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Revisit of Non Profiled Side Channel Analysis via Deep Learning |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | サイドチャネル解析 / Side Channel Analysis |
| キーワード(2)（和/英） | 深層学習 / Deep Learning |
| キーワード(3)（和/英） | 非プロファイル型解析 / Non Profiled Analysis |
| キーワード(4)（和/英） | 高効率化 / Efficiency Improvement |
| キーワード(5)（和/英） | 確率の加法性 / Principle of Additivity |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 今福 健太郎 / Kentaro Imafuku |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 国立研究開発法人 産業技術総合研究所(略称：産総研) Nat. Inst. of Advanced Industrial Science and Technology(略称：AIST) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 川村 信一 / Shinichi Kawamura |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 国立研究開発法人 産業技術総合研究所(略称：産総研) Nat. Inst. of Advanced Industrial Science and Technology(略称：AIST) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 野﨑 華恵 / Hanae Nozaki |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 国立研究開発法人 産業技術総合研究所(略称：産総研) Nat. Inst. of Advanced Industrial Science and Technology(略称：AIST) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 坂本 純一 / Junichi Sakamoto |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 国立研究開発法人 産業技術総合研究所(略称：産総研) Nat. Inst. of Advanced Industrial Science and Technology(略称：AIST) |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 大須賀 彩希 / Saki Osuka |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 国立研究開発法人 産業技術総合研究所(略称：産総研) Nat. Inst. of Advanced Industrial Science and Technology(略称：AIST) |
| 発表年月日 | 2022-07-19 |
| 資料番号 | ISEC2022-8,SITE2022-12,BioX2022-33,HWS2022-8,ICSS2022-16,EMM2022-16 |
| 巻番号（vol） | vol.122 |
| 号番号（no） | ISEC-122,SITE-123,BioX-124,HWS-125,ICSS-126,EMM-127 |
| ページ範囲 | pp.7-12(ISEC), pp.7-12(SITE), pp.7-12(BioX), pp.7-12(HWS), pp.7-12(ICSS), pp.7-12(EMM), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2022-07-12 (ISEC, SITE, BioX, HWS, ICSS, EMM) |