| 講演名 | 2022-06-07 光再構成型ゲートアレイVLSIの290 Mradまでのトータルドーズ耐性試験 山田 果歩(岡山大), 岡崎 武志(岡山大), 渡邊 実(岡山大), 渡邊 誠也(岡山大), |
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| 抄録(和) | |
| 抄録(英) | |
| キーワード(和) | |
| キーワード(英) | |
| 資料番号 | RECONF2022-7 |
| 発行日 | 2022-05-31 (RECONF) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | RECONF |
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| 開催期間 | 2022/6/7(から2日開催) |
| 開催地（和） | 筑波大学計算科学研究センター |
| 開催地（英） | CCS, Univ. of Tsukuba |
| テーマ（和） | リコンフィギャラブルシステム，一般 |
| テーマ（英） | Reconfigurable system, etc. |
| 委員長氏名（和） | 佐野 健太郎(理研) |
| 委員長氏名（英） | Kentaro Sano(RIKEN) |
| 副委員長氏名（和） | 山口 佳樹(筑波大) / 泉 知論(立命館大) |
| 副委員長氏名（英） | Yoshiki Yamaguchi(Tsukuba Univ.) / Tomonori Izumi(Ritsumeikan Univ.) |
| 幹事氏名（和） | 小林 悠記(NEC) / 佐藤 幸紀(豊橋技科大) |
| 幹事氏名（英） | Yuuki Kobayashi(NEC) / Yukinori Sato(Toyohashi Univ. of Tech.) |
| 幹事補佐氏名（和） | 竹村 幸尚(インテル) / 長名 保範(琉球大学) |
| 幹事補佐氏名（英） | Yukitaka Takemura(INTEL) / Yasunori Osana(Ryukyu Univ.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Reconfigurable Systems |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 光再構成型ゲートアレイVLSIの290 Mradまでのトータルドーズ耐性試験 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | 290 Mrad total-ionizing-dose tolerance experiment for an optically reconfigurable gate array VLSI |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 山田 果歩 / Kaho Yamada |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 岡山大学(略称：岡山大) Okayama University(略称：Okayama Univ.) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 岡崎 武志 / Takeshi Okazaki |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 岡山大学(略称：岡山大) Okayama University(略称：Okayama Univ.) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 渡邊 実 / Minoru Watanabe |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 岡山大学(略称：岡山大) Okayama University(略称：Okayama Univ.) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 渡邊 誠也 / Nobuya Watanabe |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 岡山大学(略称：岡山大) Okayama University(略称：Okayama Univ.) |
| 発表年月日 | 2022-06-07 |
| 資料番号 | RECONF2022-7 |
| 巻番号（vol） | vol.122 |
| 号番号（no） | RECONF-60 |
| ページ範囲 | pp.37-40(RECONF), |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | 2022-05-31 (RECONF) |