| 講演名 | 2022-04-23 高感度紫外光電子分光法を用いた無機・有機半導体のギャップ内準位の直接観測と評価 中澤 遼太郎(千葉大), 渡邊 研太(千葉大), 田中 有弥(千葉大), 石井 久夫(千葉大), |
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| 抄録(和) | 無機・有機半導体を用いたデバイスは，しばしば禁制帯に微弱に存在するギャップ内準位から大きな 影響を受けるため，ギャップ内準位の状態密度(DOS)を正確に決定する手法が求められている．そこで，我々は一般 的な光電子分光装置を改良し，深紫外光源の波長を変化させながら連続的に紫外光電子分光(UPS)を行う高感度紫 外光電子分光法(HS-UPS)を開発した．さらに入射光の波長を変化させながら一定の運動エネルギーの光電子の収量 を測定する一定終状態収量分光法(CFS-YS)を組み合わせ，ギャップ内準位の DOS をフェルミエネルギー直下まで 直接的に評価することが可能になった．講演では，HS-UPS を有機・無機半導体に広く適用した結果とその有用性 を議論する． |
| 抄録(英) | The properties of devices based on inorganic and organic semiconductors are often greatly affected by in-gap states that are located in the forbidden band gap, and a method to accurately determine the density of states (DOS) of them are required. Therefore, we have developed highly sensitive ultraviolet photoelectron spectroscopy method (HS-UPS), in which UPS measurement are repeatedly performed by changing wavelength of an incident light. Combined with constant final state yield spectroscopy method (CFS-YS), which measures the yield of photoelectrons with constant kinetic energy while changing the wavelength of the incident light, it is possible to directly determine DOS of in the gap states down to around the Fermi energy. In my talk, I will discuss applications and usefulness of HS-UPS to organic and inorganic semiconductors. |
| キーワード(和) | 高感度紫外光電子分光法 / ギャップ内準位 / 有機半導体 / 無機半導体 |
| キーワード(英) | High Sensitivity Ultraviolet Photoemission Spectroscopy / In-Gap States / Organic Semiconductor / Inorganic semiconductor |
| 資料番号 | SDM2022-11,OME2022-11 |
| 発行日 | 2022-04-15 (SDM, OME) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | OME / SDM |
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| 開催期間 | 2022/4/22(から2日開催) |
| 開催地（和） | 高千穂ホール（宮崎市） |
| 開催地（英） | Takachiho Hall |
| テーマ（和） | 薄膜（Si,化合物,有機,フレキシブル）機能デバイス・バイオテクノロジー・材料・評価技術および一般 |
| テーマ（英） | Thin film devices (Si, compound, organic, flexible), Biotechnology, Materials, Characterization, etc. |
| 委員長氏名（和） | 山田 俊樹(NICT) / 平野 博茂(タワー パートナーズ セミコンダクター) |
| 委員長氏名（英） | Toshiki Yamada(NICT) / Hiroshige Hirano(TowerPartners Semiconductor) |
| 副委員長氏名（和） | 伊東 栄次(信州大学) / 大見 俊一郎(東工大) |
| 副委員長氏名（英） | Eiji Itoh(Shinshu Univ.) / Shunichiro Ohmi(Tokyo Inst. of Tech.) |
| 幹事氏名（和） | 梶井 博武(阪大) / 嘉治 寿彦(東京農工大) / 森 貴洋(産総研) / 小林 伸彰(日大) |
| 幹事氏名（英） | Hirotake Kajii(Osaka Univ.) / Toshihiko Kaji(Tokyo Univ. of Agriculture and Tech.) / Takahiro Mori(AIST) / Nobuaki Kobayashi(Nihon Univ.) |
| 幹事補佐氏名（和） | 清家 善之(愛知工大) / 馬場 暁(新潟大学) / 野田 泰史(パナソニック) / 諏訪 智之(東北大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Yoshiyuki Seike(Aichi Inst. of Tech.) / Akira Baba(Niigata Univ.) / Taiji Noda(Panasonic) / Tomoyuki Suwa(Tohoku Univ.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Organic Molecular Electronics / Technical Committee on Silicon Device and Materials |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 高感度紫外光電子分光法を用いた無機・有機半導体のギャップ内準位の直接観測と評価 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Direct Observation and Evaluation of In-gap States of Inorganic and Organic Semiconductors via High-sensitivity UV Photoelectron Spectroscopy |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 高感度紫外光電子分光法 / High Sensitivity Ultraviolet Photoemission Spectroscopy |
| キーワード(2)（和/英） | ギャップ内準位 / In-Gap States |
| キーワード(3)（和/英） | 有機半導体 / Organic Semiconductor |
| キーワード(4)（和/英） | 無機半導体 / Inorganic semiconductor |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 中澤 遼太郎 / Ryotaro Nakazawa |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 千葉大学(略称：千葉大) Chiba University(略称：Chiba Univ.) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 渡邊 研太 / Kenta Watanabe |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 千葉大学(略称：千葉大) Chiba University(略称：Chiba Univ.) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 田中 有弥 / Yuya Tanaka |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 千葉大学(略称：千葉大) Chiba University(略称：Chiba Univ.) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 石井 久夫 / Hisao Ishii |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 千葉大学(略称：千葉大) Chiba University(略称：Chiba Univ.) |
| 発表年月日 | 2022-04-23 |
| 資料番号 | SDM2022-11,OME2022-11 |
| 巻番号（vol） | vol.122 |
| 号番号（no） | SDM-8,OME-9 |
| ページ範囲 | pp.51-56(SDM), pp.51-56(OME), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2022-04-15 (SDM, OME) |